艾利河段泥沙输移特性及不淤临界含沙量探讨

对艾山—利津河段泥沙输移特性进行的分析表明：①艾山以下窄河段的河床演变具有“大水冲、小水淤”及“细沙冲、粗沙淤”的基本特点,并且淤积主要集中在非汛期,粗沙、中沙及细沙均发生淤积;汛期除粗沙淤积外,细沙及中沙均发生冲刷。②艾山—利津河段河道冲淤主要与流量大小有关。同时,根据1960～2002年的洪水资料,分析了粗沙、中沙、细沙冲淤的临界流量,建立了艾山—利津河段不同粒径组泥沙排沙比与流量间的关系;考虑到洪水演进及区间引水引沙等因素,初步建立了在洪水期艾山—利津河段不发生淤积的条件下艾山站临界含沙量与流量间的关系式。     

某水力冲填坝渗流稳定分析

针对某水力冲填坝蓄水难以到达设计水位的情况,通过现场检查、地质勘探、实测资料分析和理论计算,对目前坝体的渗流安全性进行评价,并在实测资料验证的基础上,对设计水位下坝体的渗流安全性进行了评价,并提出相应的加固意见.     

PCB技术的革新与进步

文章概述了近几年来在PCB工业中生产技术的革新与进步情况,特别是直流电镀(镀层均匀性、填孔镀等)、表面涂(镀)覆(化学镀镍/钯浸金和直接浸金等)技术的革新与进步,推动了PCB工艺技术的发展。     

基于扫描线种子填充的像素可视化技术

随着数据库技术的成熟和数据库应用的普及,存储在计算机内的数据量日益庞大,人们已经不满足于仅仅对数据进行管理,而希望能对数据进行分析,从大量的数据中发现知识或信息.面向像素的可视化技术凭借其可以有效分析和处理大规模数据库的特点脱颖而出.通过对几种经典可视化技术进行时间效率和显示效果的综合对比,提出一种将高效的扫描线种子填充技术与面向像素的数据可视化技术相结合的新算法,实现海量数据到颜色像素的一一映射并直观显示在构造的像素映射模型中,大大提高了像素可视化技术的算法效率,为宏观分析海量数据变化规律提供了指导.     

软土地基上高填方刚性涵洞地基处理及其设计原则

软土地基上设置刚性涵洞,面临着地基沉降和不均匀沉降的控制以及地基处理后的应力集中两大难题。涵洞地基处理方法运用不当会对涵洞结构的受力状态产生较大的影响。论文分析了软土地基上高填方涵洞地基承载力特性,同时探讨了地基处理的范围及处理后的地基刚度对涵洞结构受力特性的影响;在此基础上提出了涵洞地基的设计原则。研究结果表明：涵洞地基设计应充分考虑软土固结和基础的埋深效应,涵洞地基处理后的刚度过大、地基处理的深度过大或处理的宽度过窄都会导致涵洞顶部的土压力和结构内力增大。     

矿山胶结充填技术述评与展望

系统回顾和论述了各种胶结充填技术的历史与现状，对各种充填技术工艺做了深入的分析和思考，提出了一些很好的改进措施和意见，并对未来胶结充填技术的发展做了科学的预期和展望。对于充填理论与技术的进一步发展与完善，具有积极的促进作用。     

BT项目实施模式分析

根据实践中出现的各种BT项目管理模式，归纳出了具有代表性的“施工二次招标型BT模式，直接施工型BT模式，施工同体型BT模式，带资承包型BT模式”四种BT项目管理模式，并根据现行法律法规对其适用性和实施中应注意的问题进行了论述。     

浅析充填采矿法在湘安钨业的应用实践

湘安钨业自开采以来一直采用全面法进行采矿,在经过近20年的开采后整个矿区留下大面积的采空区。采空区的顶板依靠矿柱维护,随着开采深度的加深,矿体顶板稳固性急剧变差,全面法采矿不仅存在很大的安全隐患,而且浪费大量高品位资源,同时由于顶板垮落造成出矿贫化增大。为了确保生产安全,降低出矿贫化同时提高高品位矿石的回采率,公司决定利用充填采矿法对深部资源进行回采。     

Impact of the injection‐level‐dependent lifetime on Voc,FF, ideality m,J02, and the dim light response in a commercial PERC cell

The injection‐level‐dependent (ILD) lifetime of the silicon wafer impacts many characteristics of the final photovoltaic cell. While efficiency is commonly understood to be impacted by the silicon bulk lifetime (at the maximum power point injection level), this work demonstrates the wide ranging impacts of ILD lifetime on the V_oc, the fill factor (FF), the diode ideality factor m, and the dim light response. Instead of a two‐diode model, we utilize a boundary + ILD bulk lifetime model to analyze a commercial passivated emitter rear contact (PERC) cell featuring an AlO_x dielectric rear passivation. The ILD lifetime is directly measured and used to calculate the bulk recombination current across injection levels. With this boundary + ILD lifetime model, we demonstrate the role of the ILD lifetime on many cell parameters in this PERC cell. For most high efficiency commercial p‐type monocrystalline solar cells, the typically lower bulk lifetime at the maximum power point versus the lifetime at the open circuit point reduces the measured FF and pseudo‐FF. This work illustrates that for a commercial PERC cell with AlO_x rear passivation, the ILD lifetime is the primary mechanism behind reduced FF, ideality factors greater than 1, and the source of the J₀₂ term in the two‐diode model. The crucial implications of this work are not only to better understand commercial PERC cell loss mechanisms but also to encourage a focus on different metrics in cell diagnostics. One such metric is the V_oc at 0.1 or 0.05 suns. Copyright © 2016 John Wiley & Sons, Ltd.     

高填方块碎石夯实地基变形的研究

依据贵州X机场、云南Y机场变形监测的数据 ,采用公式试算、沉降数理统计、二维和三维模型的数值模拟方法进行了高填方块碎石夯实地基变形分析 ,并提出了实用的估算公式。