全文获取类型
收费全文 | 67400篇 |
免费 | 7372篇 |
国内免费 | 5558篇 |
专业分类
电工技术 | 3858篇 |
技术理论 | 6篇 |
综合类 | 7095篇 |
化学工业 | 9176篇 |
金属工艺 | 5451篇 |
机械仪表 | 7277篇 |
建筑科学 | 9601篇 |
矿业工程 | 4237篇 |
能源动力 | 1863篇 |
轻工业 | 3199篇 |
水利工程 | 2081篇 |
石油天然气 | 3934篇 |
武器工业 | 933篇 |
无线电 | 4057篇 |
一般工业技术 | 7531篇 |
冶金工业 | 2370篇 |
原子能技术 | 551篇 |
自动化技术 | 7110篇 |
出版年
2024年 | 496篇 |
2023年 | 1624篇 |
2022年 | 2918篇 |
2021年 | 3059篇 |
2020年 | 2671篇 |
2019年 | 2119篇 |
2018年 | 1901篇 |
2017年 | 2280篇 |
2016年 | 2528篇 |
2015年 | 2613篇 |
2014年 | 4053篇 |
2013年 | 3548篇 |
2012年 | 4833篇 |
2011年 | 5107篇 |
2010年 | 4000篇 |
2009年 | 4147篇 |
2008年 | 3491篇 |
2007年 | 4539篇 |
2006年 | 4094篇 |
2005年 | 3471篇 |
2004年 | 2700篇 |
2003年 | 2487篇 |
2002年 | 2090篇 |
2001年 | 1759篇 |
2000年 | 1458篇 |
1999年 | 1196篇 |
1998年 | 1015篇 |
1997年 | 785篇 |
1996年 | 671篇 |
1995年 | 574篇 |
1994年 | 536篇 |
1993年 | 315篇 |
1992年 | 253篇 |
1991年 | 228篇 |
1990年 | 183篇 |
1989年 | 124篇 |
1988年 | 113篇 |
1987年 | 58篇 |
1986年 | 45篇 |
1985年 | 49篇 |
1984年 | 37篇 |
1983年 | 24篇 |
1982年 | 27篇 |
1981年 | 18篇 |
1980年 | 35篇 |
1979年 | 13篇 |
1976年 | 4篇 |
1975年 | 4篇 |
1959年 | 9篇 |
1951年 | 8篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 62 毫秒
91.
本文对双跨换热器传热管在静水中的结构阻尼与粘滞阻尼作了简介,并对在总阻尼中占主导地位的挤压膜阻尼作了较深入的讨论。Mulcahy 于80年代初提出的挤压膜阻尼数学模型是较为完善的,其缺陷是未计入管子振幅的影响,本文对它进行了修正。为了验证理论分析的结果,笔者对双跨传热管在静水中的挤压膜阻尼作了实验研究,得出挤压膜阻尼与中间支承板厚度、管子-中间支承板间隙以及管子振幅之间的关系。 相似文献
92.
本文叙述了杨凌国际会展中心基桩静力载荷试验的试验过程 ;通过对三根灌注桩承载力的试验结果分析 ,认为后压浆技术对提高灌注桩单桩极限承载力有很大作用 相似文献
93.
橡胶卷材挤出连续硫化生产线的结构特色与工作原理 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了橡胶防水防腐卷材挤出连续硫化生产线的结构、特点和工作原理;指出在目前国内同类设备中,该生产设备具有先进性,并可替代引进设备。 相似文献
94.
95.
96.
以姚河坝水电站引水隧洞50°倾角、长度为194.734m的斜井开挖为实例,从施工测量、开挖方法、通风防尘、临时支护斜井及安全施工等方面探讨长洞身、大倾角斜井在无爬罐条件下的人工开挖方法. 相似文献
97.
淤泥质土状亚粘土的一些特征 总被引:1,自引:0,他引:1
珠江三角洲软土地区存在一种灰色亚粘土,其工程性能与淤泥、淤泥质土相似,但两者的物理力学性质却有明显的不同,这是一种在规范土名定义上处于过渡或边缘状态的粘性土,不是严格定义上的淤泥质土,也不是正常沉积的一般粘性土,土的强度和工程性质与淤泥质土类似,应该近沿海地区淤泥和淤泥质土对待,不应看成一般粘性土。 相似文献
98.
This paper introduces a new concept of testability called consecutive testability and proposes a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. For a consecutively testable SoC, testing can be performed as follows. Test patterns of a core are propagated to the core inputs from test pattern sources (implemented either off-chip or on-chip) consecutively at the speed of system clock. Similarly the test responses are propagated to test response sinks (implemented either off-chip or on-chip) from the core outputs consecutively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutive transparency properties of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to test not only logic faults but also timing faults that require consecutive application of test patterns at the speed of system clock since the consecutively testable SoC can achieve consecutive application of any test sequence at the speed of system clock. 相似文献
99.
CAS-BUS: A Test Access Mechanism and a Toolbox Environment for Core-Based System Chip Testing 总被引:2,自引:0,他引:2
As System on a Chip (SoC) testing faces new challenges, some new test architectures must be developed. This paper describes a Test Access Mechanism (TAM) named CAS-BUS that solves some of the new problems the test industry has to deal with. This TAM is scalable, flexible and dynamically reconfigurable. The CAS-BUS architecture is compatible with the IEEE P1500 standard proposal in its current state of development, and is controlled by Boundary Scan features.This basic CAS-BUS architecture has been extended with two independent variants. The first extension has been designed in order to manage SoC made up with both wrapped cores and non wrapped cores with Boundray Scan features. The second deals with a test pin expansion method in order to solve the I/O bandwidth problem. The proposed solution is based on a new compression/decompression mechanism which provides significant results in case of non correlated test patterns processing. This solution avoids TAM performance degradation.These test architectures are based on the CAS-BUS TAM and allow trade-offs to optimize both test time and area overhead. A tool-box environment is provided, in order to automatically generate the needed component to build the chosen SoC test architecture. 相似文献
100.