利用LCD相位调制获得高效率空心光束

空心光束由于具有一系列特殊物理性质,所以它在对微观粒子的三维操控技术中占据了极其重要的地位.本文提出采用LCD对入射激光进行相位调制得到高衍射效率空心光束的方法.文章研究了螺旋波的特性,分析了LCD相位调制的原理,在LCD上作出螺旋波的实时纯相位图对入射光进行相位调制,获得具有高衍射效率的空心光束.实验结果表明,采用LCD相位调制方法产生空心光束不但具有实时可调,方便、精确的优点,还具备高衍射效率.     

基于对称螺旋型电感和差分二极管的2.4GHz CMOS正交输出压控振荡器

提出了一种产生2.4GHz正交本地振荡信号的方法.它将LC-VCO和两级环路振荡器两种结构组合起来以实现正交输出的低相位噪声压控振荡器.LC网络是由在片对称螺旋型电感和差分二极管组成的.详细论述了VCO原理及其噪声性能.该电路已经用0.25μm单层多晶、五层金属N阱CMOS数字工艺制作.测量结果表明:它可以提供正交的本地振荡信号,其振荡频率可以在300MHz的范围内调节,当仅对差分输出振荡信号的一端进行测试时,振荡频率为2.41GHz时,去偏移中心为600kHz时的相位噪声为-104.33dBc/Hz.而且,它能在很低的电源电压下工作,功耗也很低,所以,它在集成收发机中将得到广泛的应用.     

多重缓冲条件下消息最大响应时间算法的研究

分布式实时系统是实时系统的一个重要研究方向，有着广泛的应用背景，消息最大响应时间的定量分析是该研究方向中的一个关键问题。本文针对采用TDMA办议的分布式实时系统提出了一种多重缓冲条件下的消息最大响应时间算法，对该条件下消息的最大响应时间做出了完整、精确的分析，从而进一步扩展了该类算法的适用范围。     

新颖的常规硅工艺实现的侧向螺线型片上集成电感

提出了一种用常规硅工艺实现的片上集成电感的螺线型新结构．制造工艺使用标准双层金属布线的常规硅工艺．测量了螺线型集成电感的S参数，从测量数据计算了集成电感的参量．实验的侧向螺线型片上集成电感的Q值峰值为1.3，电感量为22nH．对用两层金属层实现的侧向螺线型片上集成电感和单层金属的常规平面螺旋电感的实验结果进行了比较，电感量和Q值与常规平面螺旋电感有可比性．     

双频段低谐振频率超材料结构设计与仿真

针对传统双频电磁超材料谐振频率较大的问题,该文基于等效电路理论,设计了一种新型双面螺旋复合嵌套环结构模型。通过理论分析及HFSS建模仿真,结合散射参数(S参数)反演算法,提取了等效电磁参数。结果表明,该结构在13.40~14.27 MHz和26.69~31.35 MHz频段内等效介电常数为正,等效磁导率为负,实现了材料的磁单负特性。     

粗粒度可重构结构的性能估计方法

在设计初期,估计粗粒度可重构结构的性能,对粗粒度可重构结构设计具有指导意义.在考虑局部数据存储器结构以及局部数据存储器与可重构阵列的接口结构的情况下,建立了粗粒度可重构结构的参数模型,使用改进的螺旋形绑定策略将应用算法DFG(Data Flow Graph)中的算子绑定到可重构阵列的处理单元上,提出了一种粗粒度可重构结构的性能估计方法.应用实例表明,在设计初期,该方法能得到周期精确的估计结果,有效地指导粗粒度可重构结构的设计.     

Web应用测试模型研究

本文基于模型驱动测试的思想，提出一种Web应用测试模型WANM（Web Application Navigation Model），用于支持测试用例的设计与自动执行．基于WANM设计的测试用例的描述参照U2TP（UML2．0 Testing Profile）标准，使得测试建模、测试用例生成以及测试执行既紧密联系又相互独立，有助于提高测试的充分性与效室．     

新颖的常规硅工艺实现的侧向螺线型片上集成电感

提出了一种用常规硅工艺实现的片上集成电感的螺线型新结构．制造工艺使用标准双层金属布线的常规硅工艺．测量了螺线型集成电感的S参数，从测量数据计算了集成电感的参量．实验的侧向螺线型片上集成电感的Q值峰值为1.3，电感量为22nH．对用两层金属层实现的侧向螺线型片上集成电感和单层金属的常规平面螺旋电感的实验结果进行了比较，电感量和Q值与常规平面螺旋电感有可比性．     

基于实例的检索

基于实例的推理是人工智能中一项重要推理技术,而推理的核心是检索.介绍了产品设计的相似度计算方法,以及实例特征参数权系数值的确定方法,最后给出产品设计实例库三级检索算法.     

COMBINATORIAL DESIGN APPROACHES FOR AUTOMATIC TEST GENERATION

The n-way combination testing is a specification-based testing criterion, which requires that for a system consisted of a few parameters, every combination of valid values of arbitrary n(n ≥ 2) parameters be covered by at least one test. This letter proposed two different test generation algorithms based on combinatorial design for the n-way coverage criterion. The automatic test generators are implemented and some valuable empirical results are obtained.