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861.
提出了一种基于半球空间光纤阵列的双向反射分布函数(BRDF)测量方法与系统.将多根光纤组成的阵列均匀分布于一半球面上,使球心处物体表面反射的光在三维空间中的角分布转换为同一平面上的二维图像,经CCD采集及相应的数据处理,可实现对物体表面双向反射分布函数的快速测量.同时,利用光纤将照射激光束传输到物体表面待测点,并通过光纤的弯曲角度可改变光束的入射角.利用该测量系统对不同材质、不同加工工艺的物体表面的激光反射分布进行了初步的测量和分析.结果表明,相比传统的扫描式测量系统,该测量系统在提高测量速度的同时,避免了由于光源功率的起伏和探测器响应度的涨落所引起的测量误差,且结构简单,使用方便. 相似文献
862.
光学薄膜的损耗类型主要涉及吸收和散射,精确测定其数值是制备具有高品质和灵敏度指标激光薄膜的前提.本文以薄膜光学和激光技术为背景,介绍了谐振腔衰荡检测高反射薄膜的原理、特性以及测试方法.以1064 nm和1311 nm的高反射膜层为例,利用Losspro激光测试装置,对于二氧化锆( ZrO2)、五氧化二钽(Ta2O5)材料获得百万分(ppm)量级精度的损耗数据后,针对不同薄膜材料和工艺方法进行了对比检测,分析认为速率控制和离子束能量对于相同材料的激光高反射薄膜具有明显的影响,进而为薄膜样品的制备奠定了技术基础. 相似文献
863.
介绍了一种测量液晶盒厚度的新型光学方法——反射光谱拟合法。理论上,液晶盒的反射光谱呈正弦曲线,且曲线取极值时对应入射光波长大小值取决于所用液晶盒的厚度。反之亦然,当得知液晶空盒的反射光谱时,可以根据曲线取极值时入射光波长的值来获得待测液晶盒的厚度。软件用来搜索与实验测试数据相互吻合的液晶盒厚度。该技术以白光作为液晶盒的前端光源,且白光入射角为0°。结果表明,该方法测量范围5 ~30μm,测量重复误差0 .1μm以下。实验中,光纤光谱仪用来测试反射光谱,并通过USB接口将其传输到计算机。该方法的优点是它可以在0 .1 s内测试液晶盒表面任意点处的厚度,有较强的使用价值。 相似文献
864.
基于皮秒激光的"冷加工"特点,进行了用皮秒激光辐照结合快速化学腐蚀(Na OH溶液:质量分数为4%,不大于3 min,80℃水浴)调控工艺制备高效减反射晶硅表面微结构的研究,在400~1000 nm波长的宽光谱范围内,获得了微-纳双结构微孔阵列和圆顶锥形周期性阵列两种减反射表面,前者的平均反射率低于5%,后者的平均反射率低于10%。制备过程中工艺可控性强,无需掩膜和真空环境。研究了激光工艺参数和化学腐蚀参数的不同调控匹配在微结构单元形成中的作用机制,分析了所制备表面微结构的减反射机理,为太阳能电池和其他半导体器件中硅基减反射表面微结构的低成本激光可控制造提供了重要的指导。 相似文献
865.
针对目前主流的JDBC开发技术,大量程序开发人员仍然停留在"一表一增删改查"的技术水平阶段,本文提出了一种基于反射思想对数据库进行DDL操作的通用DAO。其中,先介绍了通用DAO的优越性和基本原理;再进行对比分析,阐述它对于数据库操作的优越性:对比操作主要围绕数据库的四大操作中的查询操作;最后,本文预测了这种编程思想的发展方向以及应用领域。 相似文献
866.
867.
一种新型矩形波导裂缝天线的分析与设计 总被引:8,自引:0,他引:8
针对任意两个横缝位于馈电矩形波导终端的短路圆盘上的情况.本文运用伽略金方法分析了一种新型双裂缝天线的反射与辐射特性:分析中考虑了缝隙间的内部互耦与外部互耦:根据分析结果,首次设计并研制了这种工作于C波段的新型天线,实验结果和设计指标吻合较好.它适合高速飞行器载体的特殊应用. 相似文献
868.
给出一种新的通过空间热梯度辅助的热调制反射光谱方法,其关键是在空间光谱方法基础上加一热场梯度,无需对材料进行通常空间调制方法的特殊处理.将该方法应用于典型半导体材料GaAs,清晰地观察到GaAs材料的带间跃迁E0和其它诸如E0+Δ0、E1、E1+Δ1的高能带跃迁. 相似文献
869.
870.