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双星定位系统定位误差分析与仿真研究 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍了双星定位系统的定位原理,给出了其定位的量测方程,然后对其定位误差进行了分析与仿真.在指出双星定位系统定位机制缺陷的基础上,对两种双星定位系统的改进方案进行了类似的定位误差分析与仿真,然后对这三种方案进行了对比,给出了有益的结论. 相似文献
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等离子体增强电化学表面陶瓷化技术 总被引:31,自引:3,他引:28
等离子体增强电化学表面陶瓷化技术哈尔滨环亚微弧技术有限公司(150036)左洪波,孔庆山,尚欠琦1引言随着现代工业及科学技术的发展,陶瓷材料以其特有的性能、丰富的资源优势成为继钢铁、铝材以后的第三代工程材料,由于整体陶瓷材料脆性大,可加工性差,一直束... 相似文献
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金属基复合材料的应用 总被引:2,自引:1,他引:1
由于金属基复合材料具有的一些优异性能,已愈来愈受到人们的关注。本文较详细地介绍了该领域的应用现状和发展趋势。主要包括金属基复合材料在宇航、航空、兵器及民用工业中的应用情况,并对金属基复合材料的 相似文献
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本文描述了醋酸纤维素-纤维素大孔增强超滤膜的结构特征一分离性能之间的关系。详细论述了膜材料含量和粘连剂含量及其分子量对膜结构和性能的影响。论述了不同配方铸膜液的膜,其孔径,水通量和截留率随操作压力的变化规律。实验证明这种高强度的CAC膜经多次重复使用后,其结构性能保持完好。 相似文献
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本文基于弹塑性分叉理论研究单向纤维增强复合材料的压缩破坏模式和压缩强度对缺陷的敏感性问题。对于常见复合材料,所得结论是:无缺陷或者小缺陷情况的破坏模式为倾斜破坏带;大缺陷情况的破坏模式为水平破坏带;形成水平破坏带的压力值小于形成倾斜破坏带的压力。 相似文献
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硅外延片中的杂质控制 总被引:2,自引:0,他引:2
有5类掺杂源影响硅的外延片中的杂质分布。主掺杂质控制外延层的杂质浓度,决定外延层的电阻率。固态外扩散、气相自掺杂和系统自掺杂影响衬底界面附近的外延层杂质浓度的深度分布。该文介绍了此3类掺杂源的掺杂过程和抑制方法。金属杂质在外延层中对器件有害,防止沾污和使用吸杂技术能降低金属杂质在外延层中的浓度。 相似文献