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WUGui－lin LIUQing 《电子显微学报》2002,21(5):705-706
ＩｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎＥｌｅｃｔｒｏｎｂａｃｋ ｓｃａｔｔｅｒｅｄｐａｔｔｅｒｎ (ＥＢＳＰ)ａｎａｌｙｓｉｓｉｎｔｈｅｓｃａｎｎｉｎｇｅｌｅｃｔｒｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅａｓａｔｏｏｌｆｏｒｉｎｖｅｓｔｉｇａｔｉｎｇｍｉｃｒｏｓｔｒｕｃｔｕｒｅｈａｓｂｅｅｎｗｅｌｌｅｓｔａｂｌｉｓｈｅｄ .Ｔｈｉｓｔｅｃｈｎｉｑｕｅｈａｓｍａｎｙａｄｖａｎｔａｇｅｓｏｖｅｒｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎｅｌｅｃｔｒｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ .Ａｄｒａｗｂａｃｋｏｆｔｈｉｓｔｅｃｈｎｉｑｕｅｉｓｔｈｅａｎｇｕｌａｒｒｅｓｏ… 相似文献
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碳酸盐岩红土中氧化铁矿物的穆斯堡尔谱学研究 总被引：2，自引：0，他引：2
本在高梯度磁选法分离红土中氧化铁矿物基础上，动用穆斯堡尔谱学方法对红土吉氧化铁矿物进行了系统研究，并建立起红土中氧化铁矿物分析流程和研究方法体系。 相似文献
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在很多金属材料中 ,界面处元素的偏聚对材料的力学性能往往起到至关重要的作用。随着电子显微学的进步 ,电子能量损失谱 (ＥＥＬＳ)已被用来研究界面处的性能。例如 ,对Ｎｉ3 Ａｌ晶界处电子能量损失谱的研究表明 ,Ｂ在晶界处的偏聚改变了晶界处的电子态 ,从而对于改善Ｎｉ3 Ａｌ的脆性具有明显的作用[1,2 ] 。在过渡金属的合金中 ,如下的定性结论可以判别界面处键合的趋势 :当界面处ＥＥＬＳ谱的白线较块体高且尖锐的情况下 ,界面处强度比块体低 ,界面为易断裂处 ;如果界面处的白线强度比块体较低 ,且有展宽效应 ,则界面处的强度高于块体强… 相似文献
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等离子激发是了解材料的电子态性质的一个窗口。电子能量损失谱是研究材料内等离子激发的一个极好的实验工具[1] 。常见的电子能量损失谱主要是通过研究等离子激发的能量和强度来分别确定材料内部价电子的体密度和样品的厚度 ,比较少的是关于等离子激发能量与散射角度的关系的研究[2 ] ,即物理意义上的等离子激发的色散关系。色散关系和材料的维度及电子与电子的相互作用有关[3 ] ,故研究低维材料激发态的色散关系是一个十分有意义的工作。我们在这里报导测量单根硅纳米线等离子激发色散关系的初步工作。我们选择硅纳米线作为实验体系是因为… 相似文献