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楼滨乔 《核电子学与探测技术》1993,(4)
本文对最基本的HCMOS器件(反相器和与非门)作了γ辐射损伤实验。通过器件性能变化,分析了γ辐射对电路的作用。 相似文献
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阐述断路器直流操作二次接线中信号继电器、保护出口中间继电器、防跳继电器等元件的参数选择条件及计算方法;指出索取与断路器有关参数的重要性。 相似文献
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本文以我公司技术人员在某飞机现场排故中发现的脉冲冲击电压对机载设备的破坏现象为线索,分析了飞机电源系统脉冲冲击电压产生的根源及分类,用行波传导理论建立了固体元器件及集成电路等遭受冲击电压破坏的失效机理。推荐了几种脉冲抑制电路及降额设计措施。本文对脉冲冲击电压试验的分析与介绍,具有广泛的参考价值。 相似文献
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采用Ge/Pd/GaAs结构和快速热退火在n-GaAs上形成了低阻欧姆接触,利用二次离子质谱技术揭示和讨论了低欧姆接触形成的机理。比较了采用X^+和GsX^+信号检测的Ge,Pd,Ga和As的深度分布。结果表明采用CsX^+可以提供更准确的结果和成分信息。 相似文献
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为了讨论了问题方便,定义了两种P-N:“漏P-N结”和“单纯P-N结”。分析了二者击穿电压相关因素的差别,认为“漏R-N结”击穿电压与沟道区杂质浓度密切相关。EEPROM的研制中,要求“漏P-N结”击穿电压≥20V,即沟道区杂质浓度要低到一定的程度,而同时又必须保证一定的开启电压,即沟道区杂质浓度要高到一定的程度,通过分析与实验,提出了解决这一矛盾的通用原则。 相似文献
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