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991.
针对不合腐蚀抑制剂苯并三氮唑(BTA)的碱性铜粗抛液,通过对3英寸(1英寸=2.54 cm)铜片上的动态抛光速率和静态腐蚀速率的研究来模拟评估氧化剂对晶圆表面平坦化的影响.在12英寸铜镀膜片和TM1图形片上分别研究氧化剂体积分数对表面平坦化的影响.实验结果表明:动态抛光速率和静态腐蚀速率均随着氧化剂体积分数的增加先逐渐增大,达到最大值,然后下降,趋于平缓.片内非均匀性和剩余高低差均随H2O2体积分数的增加,先呈下降趋势,后缓慢上升.当氧化剂体积分数为3%时,动态去除速率(vRR)为398.988 nm/min,静态腐蚀速率vER为6.834 nm/min,vRR/vER比值最大,片内非均匀性最小为3.82%,台阶高低差最小为104.6 nm/min,此时晶圆片有较好的平坦化效果. 相似文献
992.
设计了一种可用于UHF RFID读写器芯片中VCO供电的低噪声、大带宽(1 MHz)内高PSRR、片外无补偿电容的LDO。根据LDO基本结构对输出噪声进行详细分析;在带隙基准输出端构造一低通滤波器,有效移除了带隙基准对LDO输出噪声的影响;提出用二极管连接的MOS管代替LDO中的分压电阻,使得输出噪声得到进一步优化。电路采用IBM 0.18 μm CMOS工艺进行设计和仿真,在10 kHz频率处,PSRR为-70 dB,输出噪声为21.01 nV·Hz-1/2;在1 MHz频率处,PSRR为-47 dB,输出噪声为6.187 nV·Hz-1/2;在10 MHz频率处,PSRR为-27 dB,输出噪声为6.244 nV·Hz-1/2。 相似文献
993.
为了减少传感器节点的资源利用并提高网络的安全性,提出了一种基于信任度的认证方案。该方案在计算节点信任度时引入时间片、安全行动系数和交互频度来计算节点信任度,这样使得自私节点很难伪装成正常节点,信任度与当前节点行为紧密相关,并防止节点通过很少的交易次数来达到较高的信任度,再利用信任度来判断一个节点是否可信,有效地提高了应用的安全性,对恶意节点的攻击起到一定的阻碍作用。然后设计了身份标识、密码、智能卡相结合的认证方案,并且用户在与传感器节点认证之前,网关查询网络中节点的信任度,从而找到可信的节点与用户进行认证,实现可信的传感器节点、网关节点和用户三者之间的交互认证,并且用户能方便地更改密码。安全性分析、性能分析及仿真实验的结果表明,与已提出的认证方案相比,该方案能够抵制重放攻击、内部攻击、伪装攻击等,同时计算花费少,适合于对安全性和性能有要求的无线传感器网络。本文网络版地址:http://www.eepw.com.cn/article/276364.htm 相似文献
994.
在高能激光能量计吸收体上很长时间内均存在较大的温度梯度,这导致吸收体真实温度的测量非常困难,材料的比热、传感器的响应度和吸收体的热损失对测量准确度的影响较显著,模拟了吸收体上温度场特性,提出了一种利用多个分立的热电偶传感器测量吸收体的温升的方法,通过对热电偶的间距以及在吸收体中的深度加以控制,可以准确地反映吸收体上每一小部分的平均温度,从而达到对比热和传感器响应度修正的目的;采取措施大幅降低热损失比例,并结合实际温度场分布和系统热平衡时间对热损失可以获得热损失占比;利用光线追迹方法可以大幅简化吸收体吸收率研究,以实际光束和吸收腔参数为模拟对象计算了吸收腔的吸收率,并对测量结果进行修正。在分析了系统各个环节的测量不确定度的基础上估算出设计的激光能量计的测量不确定度约为5.8%(k=2),采用现场比对方法验证该测量不确定度的合理性。 相似文献
995.
996.
997.
铯铅卤化物钙钛矿纳米晶是光伏和发光应用领域中理想化的三线态敏化材料,具有较高的荧光量子产率和量子限域效应。以三层厚度的CsPbBr3纳米片(NPLs)为三线态给体,实现了从NPLs到1-萘甲酸(NCA)分子的高效三线态能量传递(TET)。CsPbBr3 NPLs采用配体辅助再沉淀方法制备,其与NCA分子结合后,稳态荧光被大幅淬灭,荧光寿命从复合前的6.743 ns缩短到0.995 ns,TET效率达到85.3%。通过与大尺寸纳米立方体对比发现,对于CsPbBr3-多环芳烃复合体系,量子限域效应是获得高效TET的关键。研究结果表明,CsPbBr3 NPLs作为三线态敏化剂,可应用在基于TET的光子上转换、光催化氧化-还原反应和室温磷光等领域。 相似文献
998.
针对航空器件内部散热效率低的问题,设计一种圆柱形相变热沉,以石蜡为相变材料,通过实验和仿真研究肋片结构对热沉内部瞬态熔化和加热面温度变化的影响.结果表明,增大肋片长度和数目均可使热沉内部温度分布更加均匀、降低热沉加热面温度,但增加内部阀杆直径影响很小.当临界温度较低时,增加肋片在热沉内的占比可延长工作时间. 相似文献
999.
氧化锌是生产电阻片的主要原材料,氧化锌的理化性能对电阻片的质量起着至关重要的作用。通过对氧化锌的理化性能:主含量、杂质含量(钾、钠、铁、镉、铅)、粒度、晶型结构、水分、盐酸不溶物及金属锌含量进行测试分析。根据多年测试经验,对氧化锌测试方法及关键技术条件要求进行了可行性改进,并结合生产实际使用情况,跟踪分析电阻片质量状况,判断氧化锌理化性能要求对电阻片电性能的影响。研究表明,氧化锌中铁、金属锌及钠等杂质含量过多能使电阻片的漏流增大,铅杂质含量过多能使电阻片的方波性能下降,铜、钠杂质含量过多能使电阻片的压比升高。为了控制氧化锌中的杂质含量和提高电阻片的产品性能,建议生产上使用0号锌锭间接法生产的氧化锌,粉体颗粒形状最好接近球状,粒度范围最好控制在0.43-0.55μm之间。 相似文献
1000.