Ge／Pd／n—GaAs低阻欧姆接触的SIMS分析

采用Ｇｅ／Ｐｄ／ＧａＡｓ结构和快速热退火在ｎ－ＧａＡｓ上形成了低阻欧姆接触，利用二次离子质谱技术揭示和讨论了低欧姆接触形成的机理。比较了采用Ｘ＾＋和ＧｓＸ＾＋信号检测的Ｇｅ，Ｐｄ，Ｇａ和Ａｓ的深度分布。结果表明采用ＣｓＸ＾＋可以提供更准确的结果和成分信息。     

关于举办一、二级理化检验人员技术培训的通知

机械工业理化检验人员技术培训和资格鉴定委员会秘书处、中国机械工程学会理化检验分会、上海材料研究所检测中心经研究决定．于2005年5月18～26日在上海材料研究所联合举办化学分析、力学性能、金相检验三个专业的一、二级检验人员技术培训班．现将有关事项通知如下。     

飞行时间二次离子质谱--强有力的表面、界面和薄膜分析手段

二次离子质谱（Secondary ion mass spectrometry，简称SIMS）是一种对表面灵敏的质谱技术，建立在表面各种类型带正、负电荷原子或分子发射的基础上。用飞行时间（Time of flight，简称TOF）仪器对这些二次离子进行质量分析，能确保并行质量登录、高质量范围、高流通率下的高分辨和精确质量测定这些优异性能。配合细聚焦扫描一次离子束，可在优于1nm的高深度分辨和优于50nm的横向分辨本领下，实现对表面优于单层ppm(百万分之一）量级的极高检测灵敏度。当今TOF－SIMS已发展为一种成熟且完善的表面分析技术。极高的灵敏度，再加上即使对大分子及不易挥发性分子都独具的敏感性，使它成为很多高技术领域不可缺少的分析手段，这些领域包括微电子学、化学和材料科学以至纳米技术和生命科学等。本文简述了TOF－SIMS的原理、仪器及其多方面的应用和展望。     

电炉钢外来夹杂控制的研究

介绍了夹杂物的来源,包括内生夹杂和外来夹杂,着重于二次氧化产物、卷渣、内衬侵蚀.同时介绍了鄂钢电炉厂在冶炼和连铸过程中控制夹杂物的操作实践.     

有色企业受惠新税法

3月16日，第十届全国人大第五次会议以绝对票数通过了新的《中华人民共和国企业所得税法》。标志着在我国施行了13年的内外资企业所得税“双轨制”就此结束。     

序言

2004年9月27日，第一块合格钢板从中厚板卷厂炉卷轧机中成功轧出，历经两年建设，被誉为南钢“生命工程”的中厚板（卷）工程实现了全线贯通，它是南钢设备大型化、装备现代化、产品国际化的里程碑，拉开了南钢二次创业的序幕。     

一种带有阀芯关闭位置电监视的二通插装阀

该文介绍了一种带有阀芯关闭位置电监视的二通插装阀，对其功能、优点和电器特性详细说明，并结合实例说明其安全应用方式。     

二次盐水及离子膜电解工序常见问题简析

介绍了二次盐水及离子膜电解工序的主要设备和流程,对二次盐水及离子膜电解工序运行中出现的问题进行了分析,并提出了解决措施。