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191.
双负异构材料(即同时具有负介电常数和负导磁率的人工材料)是近期有关学者较感兴趣的课题。本文简要地介绍了双负异构材料的特性及几种不同合成方法所组成的双负异构材料,并对材料名称提出了一点想法。 相似文献
192.
193.
采用传统的固相反应法和氧化物陶瓷工艺制备了无铅磁电复合陶瓷(1–x)BaTiO3/x Ni0.5Zn0.5Fe2O4(质量配比,x=0,0.2,0.5,0.8)(BTO/NZF),研究了NZF含量对复合陶瓷的物相组成、微观形貌、致密度和介电性能的影响。结果表明:当NZF含量较低(x=0,0.2,0.5)时,NZF对复合陶瓷有介电稀释效应;当NZF含量较高(x=0.8)时,复合陶瓷晶粒尺寸、致密度及两相间接触面积增大,其NZF含量达到复合陶瓷渗流阈值,产生Maxwell-Wagner(M-W)表面极化效应,使得复合陶瓷在低频(f=40 Hz)下具有高的巨介电常数(ε′=312 238)和较低的介电损耗(tanθ=0.40)。 相似文献
194.
Yan Wei ;Yu Song ;Xuliang Deng ;Bing Han ;Xuehui Zhang ;Yang Shen ;Yuanhua Lin 《材料科学技术学报》2014,30(8):743-747
BaTiO3 nanofibers of about 400 nm in diameter were synthesized via electrospinning.The evolution of the morphology and phase composition of the BaTiO3 nanofibers was studied by scanning electron microscopy and X-ray diffraction within the annealing temperature of 750-1050 ℃.Higher annealing temperature led to rougher surface and better crystallization of the BaTiO3 nanofibers.Below 1050 ℃,the BaTiO3 nanofibers maintained its large aspect ratios and could still be regarded as individual nanofiber.The dielectric permittivities of the BaTiO3 nanofibers(εr 820) were calculated with the MG equation by considering the porous bulk specimens as composites of BaTiO3 nanofibers and air.The ferroelectric properties of the BaTiO3nanofibers were measured by using a ferroelectric analyzer coupled with an atomic force microscope.P-E loop measured for the BaTiO3 nanofiber exhibits small hysteresis. 相似文献
195.
介电常数是研究电磁问题的一个核心参数。由于水经常作为参考样品来测量其他样品介电常数的校准测量而显得尤为重要。在太赫兹波段,水的介电常数的测量是一个有难度的问题。随着太赫兹时域光谱仪的出现,水的介电常数的测量成为可能。利用太赫兹时域光谱仪测量水的介电常数的步骤为:测量空气时透射率;测量水的透射率,通过透射系数计算水的介电常数。测量结果与理论模型吻合较好,表明时域光谱技术可用于水及相似液体的介电常数测量。 相似文献
196.
随着无线通讯技术的快速发展,高性能金属-绝缘体-金属(MIM)电容器已引起人们的极大关注,成为下一代射频集成电路的必然选择。本文从MIM电容的技术背景、制备方法、绝缘介质的设计以及电极材料几个方面,对MIM电容器件的研究进展进行了较全面的综述,可望为开发下一代射频集成电路用高性能MIM电容提供技术指导。 相似文献
197.
阐述了NRW传输/反射法测量材料电磁参数的基本原理和厚度谐振、多值性问题,并对此提出改进方法,此外应用一种改进的全二端口校准方法,消除样品位置和取样器长度测量误差的影响。 相似文献
198.
199.
各种油类液体产品在使用一段时间后,它的介电常数都会出现变化,通过检测这个参数的变化进而可以分析出其质量的变化,论述了这种测试方法原理、系统硬件电路设计及软件设计。 相似文献
200.
纳米二氧化硅抛光液对低k材料聚酰亚胺的影响 总被引:2,自引:2,他引:0
以3英寸的P型〈111〉硅片为衬底,经过旋涂固化制备低介电常数(低k)材料聚酰亚胺。对聚酰亚胺进行化学机械抛光(CMP),考察实验前后,纳米二氧化硅抛光液对低k材料的结构和介电常数。实验中应用了2种纳米二氧化硅抛光液:一种是传统的铜抛光液;另一种为新型的阻挡层抛光液。通过扫描电镜(SEM)和介电常数测试结果显示,2种抛光液对低k材料,不论是在结构还是电特性方面的影响都不大。经铜抛光液抛光后,k值从最初的3.0变到3.08;经阻挡层抛光液抛光后,k值从最初的3.0变到3.28。实践证明,这两种纳米二氧化硅抛光液可以应用于集成电路。 相似文献