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51.
《军民两用技术与产品》2012,(3):34-34
英国剑桥大学研制出一种介电常数更高的氧化铪新材料。其有望用于制造更微型的电子和光电设备,以及更高效的太阳能电池等。 相似文献
52.
53.
采用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)村底上制备了末掺杂和掺铅的钛酸锶钡(BST)薄膜,研究了铅的加入对BST薄膜的结构和电学性能的影响。实验结果表明:随着铅的加入量的增加,BST薄膜的晶粒尺寸增大;在同一频率下,介电常数呈增大趋势。在测试频率低于50kHz时,介电常数和介电损耗急剧降低。 相似文献
54.
55.
二维光子晶体透射特性的FDTD数值研究 总被引:5,自引:0,他引:5
把时域有限差分方法(FDTD)用于二维光子晶体透射特性研究,计算后得到多种情况下二维光子晶体的透射系数与入射光频率的关系曲线,结果表明,禁带的宽度和位置与组成二维光子晶体的晶格结构和介电常数等因素有关,介质柱半径变大则禁带变宽且禁带的中心频率变大,介质柱的介电常数与本底材料的介电常数相差越显著越有利于形成禁带,降低结构的对称性,禁带宽度增大. 相似文献
56.
57.
58.
以正硅酸乙酯(TEOS)为先驱体,采用溶胶-凝胶法,结合旋转涂胶和超临界干燥等工艺,在硅片上制备了纳米多孔SiO2薄膜。XRD和AFM表明该SiO2薄膜为无定形态,具有多孔网络结构,表面均匀平整,其SiO2基本粒子和孔隙的直径为30~40nm。利用椭偏光谱仪测量了SiO2薄膜在波长245~1650nm的椭偏光谱,采用Si/cauchy/rough结构模型对该光谱进行了拟合,获得了SiO2薄膜的厚度和光学常数。SiO2薄膜的厚度为500~1100nm;折射率为1.13~1.21;孔隙率为56%~70%;介电常数为1.9~2.3。 相似文献
59.
空芯玻璃微球表面改性及其介电性能研究 总被引:4,自引:2,他引:4
采用直流磁控溅射法对空芯二氧化硅微球表面镀Ni薄膜,利用扫描电镜对镀Ni膜微球形貌进行观察。结果表明获得了金属Ni包覆的玻璃微球。将镀Ni膜微球与高分子粘合剂混合制得人工介质材料,在一定频率范围内,测试其介电常数,并采用有效媒质理论对测试结果进行了分析。研究结果表明,在体积分数一定的情况下,介质材料的有效介电常数eeff随膜厚的增加而增加。eeff随着镀Ni微球体积分数的增加而增加,其实验值与有效媒质理论的C—M公式计算值较好地吻合。 相似文献
60.
针对电介质介电常数的传统测量方法对试样形状要求严格和对有生命物质不易实现等方面的弊端 ,本文研究了终端开口波导法确定电介质相对介电常数εr 的测量原理和方法 ,给出了计算εr 的拟合解 ,并在自行设计的微波CAT (ComputerAidedTest)系统上实现了自动测量 .实验结果表明 ,该方法原理清晰、测试简捷、精度较高 ,尤其适合对有生命物质相对介电常数的测量 相似文献