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71.
随着RFID技术和规范的不断成熟.我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片.对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比.该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能.结合RF应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现时芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本.测试时间很短,并且有很好的灵活性。 相似文献
72.
硬粒子对聚合物材料表面的冲击摩擦研究 总被引:3,自引:3,他引:0
冲击摩擦为接触面切向与法向冲量之比。用聚合物材料试件与弹簧钢片组成振动测试系统 ,硬粒子以一定入射角冲击试件水平面引起系统振动 ,接触冲量通过振幅反映出来 ,记录初始振幅值而计算出一个冲击过程的冲击摩擦因数。结果表明 ,当入射角α在 2 5°-60°变化时 ,冲击摩擦因数f从 0 .5降至 0 .2左右。文章同时分析讨论了摩擦对聚合物表面接触强度的影响。 相似文献
73.
74.
75.
本文推导了渐开线插齿刀加工端面谐波齿轮的齿面方程;讨论了端面谐波齿轮圆周齿距不等的问题;柔轮和刚轮的接触位置以及柔轮轮齿的啮入、啮出的干涉问题。 相似文献
76.
77.
山东巨野国家粮食储备库天康面粉公司制粉车间始建于2000年,设计能力为处理小麦100t/d.主要设备有FMFQ10×2/6×2磨粉机8台,FS-FG6×24C高方筛3台,FQFD50×2×3清粉机2台,磨辊总接触长度12000 mm,平筛总筛理面积138.8 m2,单位磨辊接触长度12 mm/(100kg·d),单位平筛筛理面积0.14 m2/(100kg·d).麦间清理工艺(包括初清)为4筛2打2去石3磁选2着水,粉间工艺为488M1S2T4P3Br. 相似文献
78.
卢金生 《理化检验(物理分册)》1995,31(6):27-30
通过对“软-软”、“中-软”、“中-中”、“中-硬”四组不同硬度匹配的滚子接触疲劳试验得出四条P-N曲线。并发现中硬度材料的接触疲劳寿命高于软材料,而当主试样为中硬时,与之相匹配的陪试件硬度越高,主试样的寿命越短,通过分析讨论解释了产生上述现象的原因及其失效机理。 相似文献
79.
非接触型光外差轮廓仪 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍一种纳米级非接触型高精度光外差轮廓仪,它是基于普通光路的光外差干涉仪。工件表面被两束有微小频差的激光束所照射,其中一束经聚焦后用作测量光探针来扫描工件表面,另一束则用作参考光束。两束光经表面反射后产生干涉。测量信号和参考信号的相位差与表面的微不平值成正比。仪器的横向分辨率为2μm,高度分辨率为1 nm,它不需要对试样作大范围的调整,且可用试样自身作参考面。信号经光电转换后由微型计算机进行处理,它能快速完成测量、计算、显示及打印出各种参数和曲线。 相似文献
80.
简要地介绍了氢离子敏场效应晶体管(H~+-ISFET)的基本结构和工作原理,提出了一种新型背面接触式H~+-ISFET。对该结构在版图、工艺设计中的有关问题,进行了探讨。最后指出:它在pH值的测量中有较好的实用价值。 相似文献