Pt薄膜热敏电阻工艺研究

本项研究目的是制作微型高精度铂薄膜热敏电阻器与集成电路配合,用于工业和科研中温度的精确测量。用高纯铂板作靶材,在玻璃基板上采用磁控溅射方法,制备成Pt薄膜热敏电阻,并在两端制作纯金电极。经测试表明,该Pt薄膜热敏电阻具备良好的线性度和灵敏度,电阻温度系数达到(或接近)3 850 ?06℃1。本工艺条件稳定,适合批量生产。     

高纯CaCO3的合成及其对PTCR电性能的影响

高纯ＣａＣＯ３的合成方式对ＣａＣＯ３粒子形貌有较大影响，对ＰＴＣ陶瓷的电性能也存在一定的作用，其中以气液反应合成方式所得ＣａＣＯ３对ＰＴＣＲ较适宜。     

高精度激光器温度检测系统的设计

设计了一个以AD7793芯片和热敏电阻为核心的高精度温度采集电路,检测结果通过SPI接口实现数据串行同步通信。以TMS320F2812为核心处理器,对采集数据进行快速数字滤波处理并将数据转换为温度值进行液晶显示。实验结果表明:高精度激光器温度检测系统能够实现对环境温度的实时检测,温度检测精度在0.2%以内。     

热敏薄膜制备工艺研究

介绍在聚酰亚胺基底上由溅射方法制备热敏薄膜的工艺条件对膜热敏特性的影响，合理的选择薄膜的制备工艺条件和热处理条件可以得到良好特性的热敏薄膜，其温度系数大于４５００ｐｐｍ／℃，并具备良好的机械性能。     

PTCR老化特性测试仪

为满足PTCR生产中老化特性测试的要求，研制了多工位PTCR老化特性测试仪。采用单片机、PLD及各种外围接口电路，实现各个工位的先通先断，从而保证各个工位通断时间满足测试要求，具有自动过电流保护，保证了PTCR老化性能的准确、高效测试。     

单片机和CPLD在PTCR测试系统中的应用

针对PTCR热敏电阻生产中耐电压、耐电流特性测试的需要，研制了一种使用单片机和CPLD(Complex Progranmmable Logic Device复杂可编程逻辑器件)来控制PTCR测试的模块。采用AT89C51单片机、CPLD、RS232通讯接口，很好地实现了在PTCR测试中选择各种测试模式和实时设置、修改各种参数，并且可以通过RS232接口与计算机通信，组成功能更强大的分级控制系统、这使得对PTCR的测试更方便、更稳定、更高效。着重介绍了模块的设计思想、实现的功能、硬件电路的设计、软件的设计、模块的控制核心为单片机，尤其控制和协调其他各部分工作，使用C51语言编程。CPLD)的编程使用的是AHDL语言，使用MAX PLUSⅡ编译．对其他领域的顺序控制也有较大的参考价值。     

RBF网络在热敏电阻测温中的应用

热敏电阻是常用的测温元件,但其电阻阻值-温度是非线性关系。本文提出基于RBF网络的软测量方法。实验结累表明该方法可行。     

PTCR伏安特性测试曲线中的数学模型

详细分析了正温度系数热敏电阻(PTCR)静态伏安特性曲线的特征，在此基础上介绍了处理伏安特性测试数据的数学方法——最小二乘法和自然样条函数法。并将实际测试数据用本方法拟合结果与通用数据拟和软件Origin拟舍结果进行了比较。结果表明：本方法拟合的曲线跟Origin拟合的结果趋势非常接近，绘制的曲线更加平滑，更加接近实际。