判断金属/薄层半导体欧姆接触质量的一个新方法

提出了一个判断金属／薄层半导体欧姆接触质量的新方法－－环内圆形传输线模型外的支,样品制备简单,无需台面绝缘,测试局域在很小的圆环内无需考虑圆环外的任何边界影响,由于结构的对称性,消除了侧向电流聚集效应,通过测试值的直线拟合消除了部分偶然误差,提高了精度。     

广义Hamming重量、维数/长度轮廓与其应用

广义Ｈａｍｍｉｎｇ重量和维数／长度轮廓是编码领域中最近出现的两个重要概念。本文首先了广义Ｈａｍｍｉｎｇ重量和维数／长度轮廓的基本概念和基本性能,然后全面地综述了它们的应用情况,并给出了一些有意义的研究结果。     

Damping oscillations in a wire bending process

This paper presents an approach to modify CAD/CAM generated motion profiles for wire bending machines, in order to damp wire oscillations without decreasing machine throughput. Two different methodologies are presented, both leveraging on a simple and easily identifiable model of wire oscillations, the first one based on a filtering approach, the second one on an optimisation approach. The two methodologies are both characterised by a low computational complexity, allowing them to be integrated directly in the bending machine user interface, and can rely on a standard camera to identify wire oscillation parameters. A thorough experimental validation of the approaches is also presented, showing promising results in damping oscillations with wires of different materials.     

大气折射率结构常数C2n高度分布统计特性分析

大气折射率结构常数C2n是表示大气光学湍流强度的一个重要参数,利用温度脉动探空仪对合肥地区大气折射率结构常数进行了长期连续的实地探空测量,对大量探空实验数据的统计分析得出合肥地区(0～25 km)折射率结构常数随高度的分布廓线,并对其进行统计矩和概率分布的分析,研究表明合肥地区大气湍流随高度分布基本符合对数正态分布,昼...     

一种改进的高分辨雷达随机脉冲串检测方法

由于高分辨雷达的分辨率远小于目标尺寸，使得目标呈多散射中心，回波能量沿时间分布，从而降低了峰值幅度，增加了目标检测难度。因此文中基于一维距离像提出了一种新的高分辨雷达检测方法，该检测方法将一维距离像看作随机脉冲串，利用一维像强散射点的位置信息和幅度信息联合进行检测，自适应地估计目标一维距离像长度，提高了高分辨雷达检测性能。     

基于声矢量场处理的海洋内波预警监测技术

目前的海洋内波检测技术在实际应用中误差大,受海洋环境影响显著,且无法自主识别.针对这一问题,文中提出了一种基于矢量场处理的海洋内波预警的监测方法.该方法基于声压和质点振速联合信息处理,利用超低频矢量水听器拾取的声场三维信息,可在复杂的海洋背景噪声场中根据方位估计算法对非协作目标进行时-空-频三维跟踪与锁定.内波的到来引...     

基于TDLAS的非均匀流场温度分布的测量

基于可调谐半导体激光吸收光谱（TDLAS）温度测量技术,使用多条谱线能够实现非均匀流场的气体温度分布的测量,主要有剖面拟合和温度离散两种方法。对剖面拟合方法进行理论分析和仿真,并且假设电炉上方0.5 cm处的温度分布为二次函数ax2+bx+c,采用剖面拟合方法进行测量,与热电偶测量的温度进行对比,温度最大波动为49 K。     

理想匹配层的综合优化

本文讨论了理想匹配层的吸收性能 ,给出了一种有效截断理想匹配层的边界条件 ,分析了不同导率剖面和边界条件对理想匹配层吸收性能的影响 ,给出了最小反射意义下的优化理想匹配层。     

光电材料的俄歇电子谱分析

俄歇电子能谱(AES)是测定固体表面元素组分的分析技术。由于AES具有很高的空间分辨率和表面灵敏度,并可以通过离子束溅射刻蚀获得组分深度剖面分布,所以它在各种材料,特别是微电子材料、光电子材料和纳米薄膜材料的分析中应用广泛。文章详细地介绍了PHI595型多探针俄歇电子能谱仪及其在光电子材料分析中的应用。     

Composition and thickness control of thin LPE HgCdTe layers using x-ray diffraction

Double-axis x-ray rocking curve measurements have been used to nondestructively characterize the composition profile of HgCdTe heterojunction photodiode structures grown by liquid phase epitaxy (LPE). In particular, the thickness and composition profile of the thin graded-composition cap layer are determined through an empirical correlation between rocking curve parameters and composition profiles measured by SIMS. Spatial maps of cap layer thickness and composition are generated from automated measurements of x-ray rocking curves across a wafer. X-ray mapping has been instrumental in improving the spatial uniformity of cap layers and in maintaining control of the growth process in Hg-rich LPE dipping reactors.