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71.
脉冲直流PCVD制备Ti(C,N)薄膜及其组织结构分析 总被引:3,自引:0,他引:3
用工业型脉冲直流等离子体化学气相沉积(PCVD)设备,针对不同混合气体CH4所占比例,在H13模具钢表面沉积了Ti(C,N)薄膜。用SEM观察薄膜断口形貌,用XRD及XPS分析薄膜相组成和价态。结果表明:一定量碳元素的加入,抑制了TiN薄膜中柱状晶的生长,并且阻止了TiN晶粒的长大。Ti(C,N)的相结构可能为TiN和TiC两相混合,但在C(或N)含量较低的膜层中,c(或N)原子也会以置换的方式存在于TiN(或TiC)单相组织中。 相似文献
72.
铝型材挤压模具PCVD TiN必要条件研究 总被引:3,自引:0,他引:3
针对铝型材挤压模具,通过理论分析和实验验证,表明并不是所有尺寸的模具均能实现离子体化学气相沉积(PCVD),而是当工作带宽度与阴极放电长度满足一定关系时,才能有效地实现沉积,文中给出了这个必要条件。 相似文献
73.
对不同成分的PCVD-Ti(CXN1-X)膜的组织结构及性能进行了研究。结果表明,Ti(CN)膜的高硬度、高致密组织和膜表面因吸附氧而形成的与TiN不同的表面结构是Ti(CN)膜性能优于TiN膜的重要因素。在冷挤压模上应用结果也表明,用PCVD法制备的Ti(CN)膜和TiC膜的使用效果要比TiN膜好得多。 相似文献
74.
75.
采用 F T I R、 T E M、 S E M 等技术, 对在渗硼层表面经r.f. P C V D 沉积的 B N 膜进行了研究试验证明, 与采用 N2 气和 H2 气相比, 以 Ar + 10vol% H2 作为载气, 所获得的膜层c-B N 含量最高, 膜厚最大, 可达4.6μm , 且膜基结合良好而以 N2 气或 H2 气为载气时, 前者会导致膜基结合力大大下降, 后者会引起沉积速度明显降低结果表明, 对于 P C V D 过程, 控制c- B N 形成的主要因素是离子轰击能量的转移, 而不是氢的选择溅射过程试验获得的膜层由a- B N 和c- B N 组成, c- B N的尺寸为20 ~40nm 相似文献
76.
用脉冲直流等离子体增强化学气相沉积(PCVD)方法,在高速钢试样表面沉积出一种新型Ti-Si-C-N薄膜材料.研究了不同SiCl4流量对薄膜成分、微观组织形貌以及薄膜晶体结构的影响.X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)分析结果表明:Ti-Si-C-N薄膜是由Ti(C,N)/a-C/a-Si3N4组成的纳米复合结构,薄膜的晶粒尺寸在2-25 nm范围内;当Ti-Si-C-N薄膜中N含量很少时,Ti(C,N)结构转变为TiC,薄膜的表面形貌由颗粒状转变为粗条状. 相似文献
77.
Ti-Si-N纳米复合超硬薄膜的高温热稳定性 总被引:1,自引:0,他引:1
用脉冲直流等离子体增强化学气相沉积(PCVD)方法在高速钢(HSS)基体上制备了Ti—Si-N薄膜,重点从不同温度退火后薄膜相结构、晶粒尺寸和显微硬度的变化等方面,探讨了不同Si含量的Ti-Si-N薄膜的高温热稳定性。结果表明:Ti-Si-N薄膜在900℃以内退火处理后,晶粒尺寸和显微硬度并无明显突变,尤其是Si含量较低时,在800℃,晶粒尺寸和显微硬度几乎没有变化,表明Ti-Si-N薄膜具有非常良好的高温热稳定性,这可能与薄膜相形成在高温下仍为调幅分解有关。 相似文献
78.
采用高精度PLINT高温微动磨损试验机研究了690合金及其表面等离子体化学气相沉积(PCVD)制备TiN/TiSiN多层膜的高温微动磨损特性。结果表明,试验温度(25、200、300 ℃)下TiN/TiSiN多层膜XRD未检测出氧化物,TiN/TiSiN多层膜的硬度和临界载荷分别为2318 HV0.05、57 N。690合金在200 ℃时的摩擦系数、磨损体积均高于室温和300 ℃下的值。TiN/TiSiN多层膜的摩擦系数在200 ℃时最大,在室温时最低;TiN/TiSiN多层膜磨损体积受温度影响较小。相同试验条件下,TiN/TiSiN多层膜摩擦系数和磨损体积均低于690合金,TiN/TiSiN多层膜能有效减低基材的微动损伤。室温时,690合金磨损机制为磨粒磨损和剥层;200 ℃时为磨粒磨损、剥层和氧化磨损;300 ℃时为磨粒磨损和氧化磨损。试验温度下,TiN/TiSiN多层膜的磨损机制均为剥层。 相似文献
79.
本文讨论在1.0±0.05g/min的沉积速率下PCVD工艺中的热迁移效应, 及它对工艺及产品质量的影响。 相似文献
80.
采用直流热阴极等离子体化学气相沉积(PCVD)技术,在CH4:H2中加入N2改变等离子体能量分布状态,提高二次形核比例,制备纳米金刚石膜。在CH4:H2气体中,在不同压力和温度下,改变通入N2的比例,分析直流热阴极等离子体放电下N2对金刚石膜生长的影响。采用拉曼光谱仪、扫描电镜(SEM)和X射线衍射分析仪(XRD)对样品进行了表征,结果表明,直流热阴极PCVD系统中,CH4:N2:H2气氛下,N2流量小于气体总流量的50%时,在6×103 Pa、850℃条件下,制备的金刚石膜样品的晶粒小于100nm、金刚石1332 cm-1特征峰展宽且强度较高、金刚石的XRD衍射峰强度也较高,具备纳米金刚石膜的基本特征。因此,利用直流热阴极PCVD方法,在较低温度和气压下,CH4:H2中加入少量N2,可以制备出纳米金刚石膜。 相似文献