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991.
This paper introduces a new concept of testability called consecutive testability and proposes a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. For a consecutively testable SoC, testing can be performed as follows. Test patterns of a core are propagated to the core inputs from test pattern sources (implemented either off-chip or on-chip) consecutively at the speed of system clock. Similarly the test responses are propagated to test response sinks (implemented either off-chip or on-chip) from the core outputs consecutively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutive transparency properties of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to test not only logic faults but also timing faults that require consecutive application of test patterns at the speed of system clock since the consecutively testable SoC can achieve consecutive application of any test sequence at the speed of system clock. 相似文献
992.
Giuseppe Ferri 《Analog Integrated Circuits and Signal Processing》2002,33(3):249-262
In this paper the author will present the working principle and the applications of a novel adaptive biasing topology, designed to decrease the stand-by power dissipation without affecting the transient performance of low-power amplifiers. The proposed circuit, whose principle and circuit topology can be implemented both in CMOS and in bipolar standard technologies, gives a biasing current whose value depends on the applied input differential voltage and can be set according to the requested transient performance constraints. The adaptive architecture can be utilized in the design of high-efficient low-power operational amplifiers, for the biasing of both the input stage (where the input source current is dynamically increased) and the output stage (where the output current can be controlled and limited). These amplifiers show a very good behaviour, evaluated in terms of two efficiency factors, if compared with those of other adaptive solutions and class-AB topologies, proposed in the literature. Simulation results and also measurements on a chip prototype, fabricated in a standard CMOS technology, are finally presented. 相似文献
993.
单片微型机控制系统的可靠性是由多种因素决定的,其中系统硬件的抗干扰性是决定系统可靠性的重要方面。为提高单片机系统的抗干扰能力.使产品能适应恶劣的工作环境,满足可靠性方面更高标准的要求,设计用户系统时应尽量采用可靠性措施。但是,由于实际控制系统千差万剐,干扰源也不尽相同。因此,设计用户系统时应分剐考虑。通过分析单片微型机控制系统在实际应用中存在的3条主要干扰渠道:空间干扰、过程通道干扰和供电系统干扰,然后针对相应情况给出了一些解决措施。重点讨论了软件和硬件相结合的解决方案和简单看门狗电路的设计。 相似文献
994.
地理空间信息网格结构层次设计既考虑了多方参与特征,又参考了目前较为流行的五层沙漏结构和开放网格服务结构,还参考了我国学者从开发的角度提出的一般网格层次结构,以此为基础试设计并探讨地理空间信息网格的基本层次结构。 相似文献
995.
996.
997.
嵌入式Linux防火墙具有资源受限的特点,对外通信是其中的一个重要方面。本文介绍了在外设受限的情况下串行接口和并行接口的应用实例,分析了编程方法,并给出了具体应用的实现代码。工程实践表明,利用接口自行编制程序实现双机热备和状态显示对提高防火墙产品性能,降低成本有着积极意义。 相似文献
998.
999.
CAI教学理论与教学过程设计 总被引:2,自引:1,他引:2
陈元莉 《电气电子教学学报》2001,23(2):85-87
综述了计算机辅助教学的教学理论-加涅的教学理论,并从该教学理论出发,论述了CAI课件制作中教学过程设计的八个阶段,指出了在课件制作中每一阶段的具体实施办法。 相似文献
1000.
廖小雄 《电子产品可靠性与环境试验》2001,(5):8-10
论述了加强电子产品热设计的意义 ,介绍了国内热设计水平现状和信息产业部电子第五研究所目前所进行的前导性工作 ,提出了热分析能力建设的工程实施途径。 相似文献