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研究了体积含量为60%的钨丝/锆基复合材料在经过退火处理后,材料的应力-应变响应和动态断裂特征以及断口形貌。利用Hopkingson压杆冲击加载装置和扫描电镜(SEM)以及X射线衍射仪(XRD),对Φ5mm×5mm的圆柱形试样进行了相关研究。研究表明,钨丝体积含量为60%的钨丝/锆基复合材料在经过退火处理后,非晶基体出现了明显的晶化现象;材料在退火后动态压缩强度比退火前有明显降低;退火后非晶基体断口形貌由退火前的完全的脉络花样转变为河流花样和脉络花样混合模式;经过动态冲击后,钨丝的断裂模式在退火前后变化大。 相似文献
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Martin Schaper Jan Schmidt Heiko Plagwitz Rolf Brendel 《Progress in Photovoltaics: Research and Applications》2005,13(5):381-386
We have developed a crystalline silicon solar cell with amorphous silicon (a‐Si:H) rear‐surface passivation based on a simple process. The a‐Si:H layer is deposited at 225°C by plasma‐enhanced chemical vapor deposition. An aluminum grid is evaporated onto the a‐Si:H‐passivated rear. The base contacts are formed by COSIMA (contact formation to a‐Si:H passivated wafers by means of annealing) when subsequently depositing the front silicon nitride layer at 325°C. The a‐Si:H underneath the aluminum fingers dissolves completely within the aluminum and an ohmic contact to the base is formed. This contacting scheme results in a very low contact resistance of 3.5 ±0.2 mΩ cm2 on low‐resistivity (0.5 Ω cm) p‐type silicon, which is below that obtained for conventional Al/Si contacts. We achieve an independently confirmed energy conversion efficiency of 20.1% under one‐sun standard testing conditions for a 4 cm2 large cell. Measurements of the internal quantum efficiency show an improved rear surface passivation compared with reference cells with a silicon nitride rear passivation. Copyright © 2005 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
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块体金属玻璃有许多优良的性能,如高强度、高硬度、高比强度、好的耐腐蚀抗力以及优良的软磁性能等。然而,近乎于零的室温塑性应变严重限制了其作为结构材料的实际应用。总结了近年来改善块体金属玻璃室温脆性的最新研究进展,并对这些方法的优缺点进行了分析。 相似文献
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65.
Shin‐ichiro Sato Hitoshi Sai Takeshi Ohshima Mitsuru Imaizumi Kazunori Shimazaki Michio Kondo 《Progress in Photovoltaics: Research and Applications》2013,21(7):1499-1506
This paper reports temperature influence on radiation degradation of hydrogenated amorphous silicon (a‐Si : H) solar cells. Degradation behaviors of a‐Si : H solar cells irradiated with protons at 331 K are compared with that at 298 K (room temperature). Variations with time in the post‐irradiation electrical properties are also investigated. It is found that the radiation degradation of the electrical properties at 331 K is significantly smaller than that at room temperature. Also, all the electrical properties (short‐circuit current, open‐circuit voltage, output maximum, and fill factor) recover with time after irradiation even at room temperature. The characteristic time of thermal annealing of short‐circuit current is larger as the temperature is higher. These results indicate that temperature during irradiation and elapsed time from irradiation to measurement is an important parameter for radiation degradation of a‐Si : H solar cells. Therefore, these parameters should be controlled in conducting the ground radiation tests. Copyright © 2012 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
66.
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We present a new approach based on the multi-trench technique to improve the electrical performances, which are the fill factor and the electrical efficiency. The key idea behind this approach is to introduce a new multi-trench region in the intrinsic layer, in order to modulate the total resistance of the solar cell. Based on 2-D numerical investigation and optimization of amorphous SiGe double-junction (a-Si:H/a-SiGe:H) thin film solar cells, in the present paper numerical models of electrical and optical parameters are developed to explain the impact of the multi-trench technique on the improvement of the double-junction solar cell electrical behavior for high performance photovoltaic applications. In this context, electrical characteristics of the proposed design are analyzed and compared with conventional amorphous silicon double-junction thin-film solar cells. 相似文献
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本文介绍精确测定碳纳米管原子结构的电子衍射方法.电子衍射方法利用碳纳米管的电子衍射图与碳纳米管螺旋指数(u,v)间的内在关系,可以从(a)衍射层线上的电子散射强度分布或(b)衍射层线间距的比例测定碳纳米管的螺旋指数.电子衍射方法是迄今为止测定碳纳米管的螺旋指数的最有效方法.电子衍射方法除具有结果精度高外,亦可用于测定多层碳纳米管的每层的螺旋指数. 相似文献
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