纳米研究获得突破

正举行的“纳米技术商业化”会议上，美国FEI公司宣布，该公司纳米技术研究中心的科学家，利用新型200千伏透射电子显微镜(TEM)，使图像的分辨率达到低于1埃的新水平。该公司确信，这是采用商业上可获得的技术，首次以0．7埃的分辨率对图像进行直接观测。     

偏轴式扫描三光栅单色仪

为了获得宽波段高分辨率的单色光,对成像光谱仪进行了波长标定,设计了一款扫描式三光栅单色仪。光栅扫描系统采用蜗轮蜗杆机构,针对传统安装方式带来的光栅有效口径损失及杂散光等问题,创造性地提出了蜗轮蜗杆转台偏轴安装的方法,通过蜗轮蜗杆转台初始位置的偏移,有效抑制了扫描过程中光栅实际有效口径的减小和仪器杂散光增加等问题。单色仪光学系统采用水平式C-T结构,通过三块光栅实现280~2 240 nm的宽波段输出,保证整个波段内的高衍射效率和光谱分辨率;并针对蜗轮蜗杆的非线性扫描,使用多种数学模型对单色仪系统进行了光谱定标。最终的实验和测量证明,仪器在280~560 nm、560~1120 nm、1 120~2 240 nm三个波段的光谱分辨率分别为0.1、0.2、0.4 nm,波长重复性分别为0.094、0.186、0.372 nm,波长准确度分别为0.096、0.191、0.382 nm,达到了设计目标,满足成像光谱仪波长定标的使用要求。     

30.4 nm光电成像系统分辨率的初步实验研究

本文基于微通道板MCP(Microchannel Plate)探测器件设计一套成像系统，用于对波长为30．4nm的极紫外EUV(Extreme Ultraviolet)光进行成像．结果获得了一宽度为3mm的狭缝的像，实验测得490μm的成像系统的空间分辨率，并分析了影响系统分辨率的各种因素及为提高系统分辨率所应采取的措施．     

新产品

摄谱仪和单色仪　　ActonResearch公司已制造出一种先进的SpectraPro2 0 0型系列成像摄谱仪和单色仪。这两种仪器均配有可直接与ReperScientifiCCDs兼容的USB接口 ,可用个人计算机控制单色仪或摄谱仪。此外 ,采用新型滤光片轮控制器可免除外接控制器。控制电缆与SpactraPro电子系统连接以便用Actons标准单色仪软件自动控制滤光片轮。选用双摄谱仪通道可同时使用两个多通道探测器 ,从而增加了波长的覆盖范围。 (No .30 )用于焊接的光束聚焦头　　GSILumonics公司生产的Luminator型聚焦头采用单元件机械体 ,其密封符合工业标准IP55 …     

基于VC++的单色仪串行通信控制

本文介绍了在VC++环境下对光棚单色仪自动控制系统的开发。利用WindowsAPI实现串行通信,保证了单色仪准确,快速的输出所需要的单色光。     

一种单光束紫外一真空紫外分光光度计的设计

设计了一种单光束紫外一真空紫外分光光度计,主要由150W氘灯辐射源、前置超环面聚光镜、Seya-Namioka全息凹面光栅单色仪、后置反射光学系统、光学调制器、样品/探测器转台、光电倍增管探测器及计算机控制系统组成.利用ZEMAX光学设计软件,对该单光束紫外一真空紫外分光光度计光学系统进行了优化设计,并设计了正弦波长扫描机构.对设计结果进行了分析,从设计结果的分析表明,所设计的单光束紫外一真空紫外分光光度计满足设计指标要求,扫描光谱范围115～400 nm,光谱分辨力小于0.5 nm,波长精度小于0.1 nm.     

单色仪杂散光的一种测量方法

提出了一种利用氧气吸收光谱及参数拟合法测量单色仪杂散光的方法 ,并成功地运用这种方法测量了 N- 10 0真空紫外单色仪 (16 0 0～ 175 0 )× 10 - 1 0 m的杂散光     

LED色度量的正确测量

对LED色度量的测量首先必须得到发光强度随波长的分布曲线.本文指出,用单色仪配合光电倍增管比用衍射光栅配合线阵CCD电荷耦合器件测量色度量精度要高.本文介绍了单色仪使用中的注意事项,并且对有关单色仪的若干概念进行了讨论.