光栅单色仪的波长标定实验研究

采用具有线光谱的氖灯和汞灯的谱线为波长标准,研究精密双光栅单色仪的波长特性.进行了波长标定、重复性和稳定性实验,重复性为0.005 nm,稳定性为0.035 nm.给出了相同缝宽设置下波长标定的不确定度评定.实验结果表明,被标定单色仪的波长修正值与波长基本上呈线性关系,并由此确定线性拟合方程.发现单色仪波长误差与狭缝宽度设置有关,对精密测量有不可忽略的影响.     

19.5nm波段光电成像系统分辨率的实验研究

基于微通道板（MCP）探测器件设计一套成像系统，用于对波长为19.5nm的极紫外（EUV）光进行成像。结果获得了宽度为3mm的狭缝的像，实验测得175μm的成像系统的空间分辨率。并分析了影响系统分辨率的因素及为提高系统分辨率所应采取的措施。     

微机控制的真空紫外单色仪光栅的波长扫描系统

单色仪光栅的波长扫描在各种实验中处于非常重要的地位。本文以安装在国家同步辐射实验室光化学光束线Ｕ１０Ａ上的真空紫外单色仪ＳＥＹＡ－ＮＡＭＩＯＫＡ为例，首例描述了波长扫描原理，然后分别从硬件和软件的角度介绍了该单色仪光栅的计算机控制波长扫描系统。     

光栅单色仪及行波半导体光放大器端面反射率测量

分析了光栅单色仪对测量的影响及使用中注意的问题，用以指导测量半导体激光器镀减反射膜前后的自发辐射谱。通过比较同一电流下的两张谱图，可以在几十纳米的波长范围内确定行波式半导体激光放大器端面的剩余模式反射率，并获得了低于３×１０＾－５的极低反射率。在３４Ｍｂ／ｓ的速度下，实测行波放大器的光纤至光纤净增益为１５ｄＢ，放大器自身增益超过２５ｄＢ。     

谱学显微光束线光斑水平漂移分析与检测

为提高上海光源搭建的国内首条软X射线谱学显微光束线站的整体性能,分析了其分光装置一变包含角平面光栅单色仪在波长扫描过程中影响谱学显微光束线光斑水平漂移的各个因素,推导出了各因素与光斑水平漂移的传递关系,并结合具体要求进行了误差分配.针对光斑水平角漂移重复精度的检测,采用自准直原理,构建了测试系统.利用该系统,完成了谱学显微光束线站光斑水平漂移重复精度的离线检测,其结果为0.67″,满足设计指标1″的要求.对安装调试后的束线进行了总体性能测试,结果均满足谱学显微设计和使用要求.由此表明,提出的对谱学显微光束线光斑水平漂移误差来源的分析及检测方法,有效保证了束线性能的实现.     

17.1 nm波段光电成像系统分辨率的实验研究

设计了17.1 nm波段光电成像系统,用于对波长为17.1 nm的极紫外光进行成像。该成像系统分为三大部分:光源、单色仪和探测系统。一个调Q的Nd∶YAG激光器(Continuum 9000)用来产生激光等离子体,掠入射单色仪由2块球面聚焦镜和1块600 L/mm的球面掠入射光栅组成,经单色仪分光后得到波长为17.1 nm的单色光,探测器是微通道板(MCP)和荧光屏组件共同组成,Kodak400型胶卷被用于记录狭缝的像。结果获得了一宽度为3 mm的狭缝的像,实验测得130 μm的成像系统的空间分辨率,好于相同条件下文献[6]的结果。     

带有N+1通道的直读光谱仪的光学系统

直读光谱仪具有多元素同时测定的优点.但是,由于结构的限制,一台仪器安装元素通道数总是有限的.有时即使具有40～50个通道的光谱仪也往往不能满足分析者的特殊要求.此外,一般来讲,经常使用的通道只     

铒镱共掺磷酸盐玻璃波导放大器及上转换性质

研究了采用离子交换和电场辅助退火法制作的铒镱共掺磷酸盐波导放大器的增益特性,测量了Er2O3,Yb2O3掺杂浓度分别为2.2wt%和4.7wt%,长度为1.2cm的器件增益,在130mW,976nm泵浦光泵浦下,输入信号光功率小于1mW时,在1535nm处得到8.5dB的小信号相对增益;当泵浦功率为30mW时,可观测到绿色的上转换辐射光,发光强度随泵浦功率增加而增大;通过单色仪和光电倍增管接收此光,确定是铒粒子由2H11/2和4S3/2能级分别跃迁至基态的上转换辐射光.     

用国产单色仪快速组织自动光谱辐射计

本文介绍了国产单色仪快速组织自动光谱辐射计的方法及其方法。应用该系统可测量光源或辐射源的光谱辐射特性,进而得到当代评价光源的重要技术参数;三刺激值,色温,相关色温,显色指数等。     

真空紫外单色仪光栅的波长扫描控制

介绍了与安装在Ｕ１０Ａ光束线上的真空紫外单色仪Ｓｅｙａ－Ｎａｍｉｏｋａ配套使用的计算机控制波长扫描系统,描述了波长扫描原理以及软、硬件设计。