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81.
与(PbS)-{1.12}VS-2,Ba-xFe-2S-4等三元金属硫化物一样[1,2],Sr-{1.145}TiS-3的晶体结构也很复杂[3].在四维超空间群的基础上使用粉末X射线数据和Rietveld分析方法确定了无公度复合晶体硫化物Sr-{1.145}TiS-3的晶体结构[4].它的基本结构是由空间群分别为R3m和P31c的TiS-3亚点阵和Sr亚点阵沿着晶体的c轴相互穿插形成的.以六角晶系来标定,其晶格常数为a-1=a-2=1.15108nm,c-1(TiS-3)=0.29909nm和c-2(Sr)=0.5226nm.用透射电子显微术研究其结构特性的报导还未见到.本文首次报导用透射电子显微术在原子尺度研究复合晶体硫化物Sr-{1.145}TiS-3晶体中Sr原子和S原子相互调制的结果. 相似文献
82.
布里奇曼法生长碲镉汞晶体的固液界面形态研究 总被引:2,自引:0,他引:2
文中综述了布里奇曼法及加速坩埚旋转技术的布里奇曼法生工碲镉汞晶体过程中固液界面形态的研究结果,简单讨论了固液界面形态对组分分布的影响,并将两种技术所得的组分分布结果进行了比较,在分析影响固液界面形态因素的基础上,认为加速坩埚旋转技术是目前改善固液界面形态的有效方法。 相似文献
83.
84.
对几种增黑剂进行了筛选实验研究,选用了两种增黑剂组合使用,提高了遮盖力,使医用X光胶片涂布银量由原业的9g/m2降到了6.8g/m2,与美国医用X光胶片涂布银量(6.7g/m2)相当,照相性能不低于国产医用X光胶片。 相似文献
85.
86.
抗静电剂国内外发展近况与重要的抗静电剂的合成方法 总被引:1,自引:0,他引:1
<正> 一、概述塑料的静电不仅限于最终产品,在加工过程中有时也相当严重。静电的危害是多方面的,具体危害文献已作了论述。为了使塑料材料从加工过程直到最终制品都能得到良好的抗静电性,必须使用内部混炼型抗静电剂。塑料用抗静电剂的主要形式是内部抗静电剂,这主要是因为内部抗静电剂也可以作为外部抗静电剂使用,只不过内部抗静电剂外用时用量更少,并通常使用溶剂稀释。抗静电剂是塑料加工中不可缺少的添加剂。目前耗用量最大的是聚乙烯及聚丙烯树脂,其次是苯乙烯树脂及ABS树脂,再次是 相似文献
87.
结合造纸厂生产,进行了氢氧化钠作助剂的废纸脱墨过程中的应用研究,讨论了氢氧化钠用量生产的影响,确定了氢氧化钠的最佳用量。 相似文献
88.
89.
电沉积Co—Ni合金的原子探针场离子显微分析 总被引:2,自引:0,他引:2
用位置敏感原子探针场离子的显微镜(PoSAP)、TEM、SEM等方法研究了电沉积工艺参数对Co-Ni合金微观结构的影响,结果表明,低频脉冲直流电沉积的Co-Ni合金的平均晶粒尺寸为70nm,恒稳直流电沉积的晶粒尺寸为100nm。Co原子在沉积层中呈均匀分布,且Co含量随电解中Co离子浓度增加而显著增加。当电解液中CoSO4含量为17.5g/L时,沉积层由εCo和αCo两相组成,PoSAP数据的三维 相似文献
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