硅中硼离子注入校准样品的研制

本文主要介绍了硅中硼离子注入校准样品的制备与研究。分别用三台SIMS仪器对样品进行了深度剖析与比对,并对用作校准目的的样品主要参数进行了定值。     

工业流体的取样专家——Neotecha安全、便捷地取得真实样品的整体方案

说到一般工业取样，我们可能会想到用一段工艺管段将需要标定、测试工段的介质导出取样，在取样端设置一个开关切断阀，而对于罐取样，则往往采用釜底阀。近年来随着化工工业的迅速发展和产品价值的提高，化工生产工艺日益革新，工况日益苛刻，这些都对取样工艺系统提出了越来越高的要求。[编者按]     

氢化物发生—无色散原子荧光光谱法测定冶金样品中微量铋

氢化物—原子荧光光谱分析是近年发展起来的一种新的痕量分析方法,在地质、冶金、生物;环保等领域已得到广泛的应用。本文研究了氢化物发生无色散原子荧光光谱法测定纯锡、铜合金和铸铁等冶金样品中微量铋的各项最佳条件,提出了克服锡、铜、铁基体元素干扰的方法,并探讨了其机理。本文拟定的方法操作简便快速、检出限低(5.15×10~(10)g),精密度好(R.S.D为1.8%),结果准确可靠。     

等离子体低温灰化技术的进展及其应用

一、前言在生物样品与有机物质中,待测定的有意义的无机元素或核素常与样品基质中的大量有机物质共存,由于有机物质常严重的干扰元素或核素的分析测定,特别是在痕量分析中。因此分析之前,必须用适当方法将有机物除去,同时达到浓集的目的,通常多用干式或湿式灰化方法分解有机物质。本综述着重于干式灰化方法中的等离子体低温灰化的发展概况、灰化机制、灰化装置及其应用。     

电解抛光和离子薄化法联合制备纳米晶双相稀土永磁合金TEM样品

纳米晶双相稀土永磁合金作为永磁体广泛应用于工业电动机和工业仪表中 ,但对该材料的电子显微结构分析报道较少 ,主要原因是该材料的透射电子显微镜薄膜样品的制备极为困难。原因是 :其一 ,该材料具有极高的脆性 ,以致在制作过程中用镊子夹取时样品极易碎裂 ,使制备过程失败 ;其二 ,由于所制备材料工艺限制 ,这种材料的宽度一般在 1 2～ 2 5ｍｍ ,厚度在 30～ 6 0 μｍ ,传统的制作方法需要经过机械打磨、3大小的薄膜剪切 ,才能将该材料用电解双喷方法或离子薄化技术制成透射电镜薄膜样品 ,但上述方法一般均需要原始试样的宽度不低于3ｍ…     

硫脲型整合树脂在分析上的应用 Ⅰ.岩样中微量银的中子活化分析

前言银和其他贵金属元素一样,在地壳中比较稀少,按其自然丰度为第67号元素,平均含量仅0.07 ppm。由于地质样品成分非常复杂,为测定其微量银,必须进行严格的化学分离。但是迄今文献中报道的许多分离分法,步骤都相当冗长,一般采用氯化银反     

TRPO—PVF2萃取色层分离,5—Br—PADAP光度法测定金属样品中微量铀

本文对 TRPO(三烷基混合氮膦)-PVF_2(聚偏氟乙烯)萃取色层分离,5-Br-P ADAP光度测定微量铀的方法进行了较系统的研究;并应用此方法分析了铀污染的钢铁、铝、铜、镍等金属物件中的微量铀。该方法操作简单,快速,能去除大量基体金属离子的干扰。该方法的最小检测限为1μgU/g 金属样品。精密度为±5％,铀的回收率大于95％,可满足金属样品中微量铀的分析要求。