扩展FORTRAN实用图形窗口功能

一.引 言 FORTRAN语言以其编程简单,结构清晰,及高效的科学计算功能被广泛应用于科学技术等领域。由于FORTRAN语言本身没有提供绘图功能,必须调用汇编语言来编写基本绘图子程序[1][2]来绘点、线等。然而,当要绘制各种工程用的复杂图形时(如各种函数的图象、散点图、直方图、概率图等),人们通常采用直角坐标系统来绘制上述二维关系分布图。若采用中提供的基本画点、线、框架、圆语句来绘制工程数据图     

冷轧形变量对钛板材再结晶织构形成的影响

采用三维晶体学取向分布函数（ＣＯＤＦ）分析法研究了工业纯钛板材不同冷轧形变量对织构形成的影响。结果表明，冷轧形变量为５０－７０％时，再结晶退火后形成了（２１１８）（０１１０）和（１０１８）（１２１０）的部分纤维织构，而在３０％较低或８６％较高的形变量冷轧时，形成典型的轧制织构（２１１５）（０１１０）和再结晶织构（１０１３）（１２１０）型式。     

不等波纹函数低通原型的理论及应用

本文提出不等波纹函数低通原型，并对其理论进行初步探讨。切比雪夫函数及最平坦型巴特活兹函数皆为其特例。文中给出不等波纹函数的几个性质，最后给出两个应用实例，消除耦合环自感部分的影响；抑制高次模的微带圆盘腔带通滤波器。     

稀碱液中的大豆浸泡行为（Ⅱ）

以可溶性蛋白质及固形物损失为指标对整粒大豆的浸泡过程进行研究，结果表明稀碱液浸泡提高了大豆可生蛋白质和菜物的溶出速率，但由于达到一定湿豆重量的浸包时间可相对缩１８－２９％，使得在以获取相同吸水率情况进行比较时，稀碱液浸泡的因形损失与水浸法基本持平，而可溶性蛋白质损失反而略低；稀碱液浸泡的固形物损失与水浸法基本持平，而可溶性蛋白质损失反而略低；稀碱液浸泡对腐乳豆腐坯滋味的影响极其细微，因此稀碱液浸泡     

纯物质汽液相变中ΔHV/RTC和ΔZV的比例性及其实际应用

众所周知,Clapegron蒸汽压方程是根据假设"数组ΔHV/RTC/ΔΖV为常数,而与温度无关"推导得来的.为了阐述以上给出的假设的理由,本文提出如下论点:"ΔHV/RTC和ΔZV函数实际上是和温度有关,而它们之间却存在一个简单的比例关系,即ΔHV/RTC∝ΔZV.1997年我们曾根据分子聚集理论导出汽化热方程ΔHV/RTC=h(1-pr/Tmr)1/2;另外,Haggenmacher于1946年曾提出ΔZV方程:ΔZV=h(1-pr/T3r)1/2.显然,上述两个方程表明,Clapeyron假设基本上是正确的.另外,本文还基于上述的比例规律导出一些有用的蒸汽压方程和汽化热方程.     

万家寨引黄工程北干线输水损失分析

万家寨引黄工程北干线系统输水损失，是关乎输水运行成本和水资源有效利用的重要问题之一。由于各类建筑物施工方法，材料及工艺的差异。其输水损失差异较大，计算方法和计算参数各不相同，文章在对各类建筑物进行输水损失计算的基础上，分析了不同类型建筑物的输水损失特点，提出了减少水量损失的建议和设想。     

高强度CrMo钢的EELS和EDS面扫描研究

在很多金属材料中 ,界面处元素的偏聚对材料的力学性能往往起到至关重要的作用。随着电子显微学的进步 ,电子能量损失谱 (ＥＥＬＳ)已被用来研究界面处的性能。例如 ,对Ｎｉ3 Ａｌ晶界处电子能量损失谱的研究表明 ,Ｂ在晶界处的偏聚改变了晶界处的电子态 ,从而对于改善Ｎｉ3 Ａｌ的脆性具有明显的作用[1,2 ] 。在过渡金属的合金中 ,如下的定性结论可以判别界面处键合的趋势 :当界面处ＥＥＬＳ谱的白线较块体高且尖锐的情况下 ,界面处强度比块体低 ,界面为易断裂处 ;如果界面处的白线强度比块体较低 ,且有展宽效应 ,则界面处的强度高于块体强…     

单根硅纳米线等离子激发色散关系的测量

等离子激发是了解材料的电子态性质的一个窗口。电子能量损失谱是研究材料内等离子激发的一个极好的实验工具[1] 。常见的电子能量损失谱主要是通过研究等离子激发的能量和强度来分别确定材料内部价电子的体密度和样品的厚度 ,比较少的是关于等离子激发能量与散射角度的关系的研究[2 ] ,即物理意义上的等离子激发的色散关系。色散关系和材料的维度及电子与电子的相互作用有关[3 ] ,故研究低维材料激发态的色散关系是一个十分有意义的工作。我们在这里报导测量单根硅纳米线等离子激发色散关系的初步工作。我们选择硅纳米线作为实验体系是因为…