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81.
德瑞克高频振动细筛在矿物分级和脱水中的应用 总被引:5,自引:0,他引:5
介绍了德瑞克高频振动细筛在湿式矿物分选和脱水中的应用实践,重点是多路给料和重复选浆高频振动细筛在铁矿工艺改进和Hi-G细粒和微细粒物料脱水回收装置在尾脱水中的应用,以及独家专利所有的Urethane聚酯、Sandwich夹层和Pyramid三维筛网;分析对比了应用德瑞克产品的技术和经济效益。 相似文献
82.
83.
84.
板式空冷器筛板式液体分布器结构与流动规律的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
板式空冷器是一种将板式换热器与空冷式换热器的优点结合在一起的新型空冷器。它既具有空冷式换热器节水效果好、环境污染小的特点,又综合了板式换热器传热效率高、流通面积大的特点,是一种先进的新型、高效、节能型换热设备。由于板式空冷器的板束为垂直设计,因此,介质进入板束时的均布水平对于空冷器的冷却效率有着重要的影响。通过对筛板式液体分布器的结构进行研究,得出其结构设计的基本思路与压降公式。 相似文献
85.
磁力泵和屏蔽泵的功率损失对比 总被引:2,自引:0,他引:2
磁力泵与屏蔽泵统称为无泄漏泵,近十年来,这两种泵同时被用于石油化工行业,使用后业内人 士各有其说,两者之间是否有明显的不同呢。文章着重介绍了磁力泵和屏蔽泵在涡流损失、摩擦损失及其冷 却循环损失方面的对比分析。 相似文献
86.
87.
五模五冲冷镦机可加工异型螺钉、空心或半空心铆钉及形状复杂之异形零件,是一种将盘元线材从矫直、送料、剪料、5工位加工成形、至输送机输出成品的全自动加工设备。介绍了ES506五模五冲冷镦机的机械结构、液压与气压系统和PLC控制系统,并阐述其性能特点。 相似文献
88.
We present a new way to realise a selective emitter structure using a single screen-printed phosphorous paste deposition as dopant source to obtain a doping differential, with rapid thermal diffusion. The heavily doped part of the emitter is situated underneath the deposited phosphorous lines, and the lightly doped emitter in between is obtained via the gas phase, because phosphorous out-diffuses from the paste during the high-temperature step. SIMS profiles show a difference of a factor 4 in magnitude for the surface concentration between the regions underneath and beside the deposited paste. Photovoltaic results show an improvement in efficiency of 0.7% in comparison with the reference cell (homogeneous emitter), due to a 2 mA/cm2 short-circuit current increase. 相似文献
89.
介绍1款视频处理ASIC芯片中OSD系统的设计方案,先读取OSD内部SRAM中的属性和字符内容,然后控制电路根据属性将字符内容以RGB的形式表现出来,最后将OSD信息与视频内容进行α混合,从而可以在屏幕上得到OSD信息。该OSD系统用户自定义性强,使用改进的内部SRAM中1/2/4像素深度(BPP,Bits Per Pixel)字符或图形点阵的存储结构以提高字符或图形存储量,其具有闪烁、阴影、透明、单个字符宽高加倍、非线性放大、可编程的行列数和颜色等诸多功能。芯片在UMC0.18μm CMOS工艺下流片,其OSD系统的工作频率可达170 MHz。 相似文献
90.
A. S. H. van der Heide J. H. Bultman J. Hoornstra A. Schnecker 《Solar Energy Materials & Solar Cells》2002,74(1-4)
The screen-printing metallisation process used for 90% of industrially produced solar cells is sensitive to process conditions. The best way to monitor this contacting process is to measure contact resistance. The standard technique used is the transmission line method. However, this only measures contact resistance locally.In this paper, contact resistance over the whole cell surface is measured with the newly developed ‘Corescanner’. Using this instrument, the relation between processing parameters and solar cell contact resistance distribution is investigated. Our most important finding is that poor contacting results in large inhomogeneities in contact resistance. Even for cells with very low fill factors, regions of low contact resistance can be found.To conclude, the Corescanner provides us with a technique to monitor contact resistance. This instrument is an invaluable tool for fault detection, error diagnosis and process optimisation. 相似文献