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介绍了把断裂力学法应用于倒装片BGA的设计方法。概述了一些关键的材料特性和封装尺寸对倒装片BGA芯片裂纹的影响作用,从而断定基板厚度和芯片厚度是倒装片BGA芯片发生裂纹的两个最重要的因素。 相似文献
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JIANG Guo-ping 《中国邮电高校学报(英文版)》2002,9(4)
1 IntroductionToday ,muchattentionhasbeenpaidtochaossynchronization[1 ,2 ] .Chaossynchronizationcanmainlybeclassifiedintotwotypescalledmutualsynchronizationandmaster slavesynchronizationac cordingtothecouplingconfiguration[3,8] .Thefor meriswithbi directionalco… 相似文献
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Wavelength Conversion Placement in WDM Mesh Optical Networks* 总被引:1,自引:0,他引:1
Wavelength conversion helps improve the performance of wavelength division multiplexed (WDM) optical networks that employ wavelength routing. In this paper, we address the problem of optimally placing a limited number of wavelength converters in mesh topologies. Two objective functions, namely, minimizing the average blocking probability and minimizing the maximum blocking probability over all routes, are considered. In the first part of the paper, we extend an earlier analytical model to compute the blocking probability on an arbitrary route in a mesh topology, given the traffic and locations of converters. We then propose heuristic algorithms to place wavelength converters, and evaluate the performance of the proposed heuristics using the analytical model. Results suggest that simple heuristics are sufficient to give near-optimal performance. 相似文献
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Pseudo-random testing techniques for mixed-signal circuits offer several advantages compared to explicit time-domain and frequency-domain test methods, especially in a BIST structure. To fully exploit these advantages a suitable choice of the pseudo-random input parameters should be done and an investigation on the accuracy of the circuit response samples needed to reduce the risk of misclassification should be carried out. Here these issues have been addressed for a testing scheme based on the estimation of the impulse response of the device under test (DUT) by means of input-output cross-correlation. Moreover, new acceptance criteria for the DUT are suggested which solve some ambiguity problems arising if the classification of the DUT as good or bad is based on a few samples of the cross-correlation function. Examples of application of the proposed techniques to real cases are also shown in order to assess the impact of the measurement system inaccuracies on the reliability of the test. 相似文献
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