溶胶-凝胶法稀土平面光波导薄膜研究进展

简单介绍了溶胶-凝胶方法的特点、平面光波导的基本结构及工艺特点;简要回顾了国内外近年来无机薄膜、复合薄膜、稀土配合物在工艺、合成、性能、机理等方面的研究情况.与传统的无机平面光波导薄膜相比,有机-无机复合薄膜具有明显的优势,可以在低温下一次拉制成具有实用价值的平面光波导厚膜.稀土配合物的发展解决了稀土与复合薄膜中有机组分不相容、掺杂浓度低的问题.因此,稀土配合物是制作有源平面光波导复合薄膜的理想材料.     

瞬态波存在破片群测速上的应用

破片群速度参数是壳体爆炸研究中的一项重要参数,如何准确测量破片群速度一直是国内外料研人员所追求的目标。本文介绍了一种利用高速瞬态波存所组成的破片群速度测量系统。它包括一台多通道高速瞬态波存、多通道接收靶及数据处理软件。用计算机对采集到的数据进行处理,可以直接给出破片群的速度参数。     

Sol—Gel法制备ZrO2—SnO2薄膜的常温气敏机理

根据Ｓｏｌ－Ｇｅｌ工艺制备的ＺｒＯ２－ＳｎＯ２薄膜的气敏性能数据，提出了常温下ＳｎＯ２（ＺｒＯ２）薄膜对Ｈ２Ｓ的气敏机理模型。根据此模型所得定量分析结果与实验结果一致。     

激光区熔Bi系超导复合带组织特征

在 Ag 基带上非平衡凝固熔敷超导厚膜,用激光区熔法制备组织致密、有明显织构取向、与基材结合牢固的柔性 Bi 系超导复合带材。研究了该超导材料的定向结晶特征、凝固表面和内层组织形态、相分布与组成及超导层同基材的结合。此法开辟了制备高 J_c 实用超导带材的新途径。     

Co-Se化合物薄膜的电沉积制备与表征

采用电沉积方法在SnO2玻璃基底上制备了Co-Se化合物薄膜.研究了薄膜形成的电化学机理和电沉积工艺对薄膜组成与形貌的影响,并表征了薄膜的结构与光学性质.结果表明:Co2+受预沉积Se的表面诱导还原或直接与H2SeO3的六电子还原反应产物H2Se发生反应形成Co-Se化合物;沉积电位、沉积温度和pH值均显著影响电沉积Co-Se化合物薄膜的形貌与成分;在沉积电位为?0.5V(vs SCE)、沉积温度为50℃和pH值为2.0时可制备出表面致密平整且呈六方晶型结构的富硒CoSe薄膜,其光吸收系数达到1×105 cm?1,直接带隙宽度为(1.53±0.01)eV,接近单结太阳电池光吸收层材料的理论最佳值.     

基于混合采样方法的交流功率转换器

提出了一种混合采样的交流功率转换器 ,叙述了该种采样功率测量的原理 ,推导了功率测量的算法和功率测量误差。通过计算机仿真 ,分析了量化误差对混合采样功率测量方法的影响。最后给出了采用 12 bitA D和D A转换器、频率范围为 4 5～ 6 5Hz时的功率测量实验数据 ,结果表明 :混合采样功率转换器的准确度为 3× 10 - 4,比数字采样方法的测量误差有明显的改善     

射频磁控溅射制备TiO2-xNx薄膜及其光催化特性研究

利用射频磁控溅射在玻璃衬底上制备了透明TiO2 和 TiO2-x Nx 薄膜样品,通过 X 射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)及 UV Vis分光光度计等测试手段表征了样品的结构、形貌和光催化性能。结果表明制备的薄膜为锐钛矿相结构。随着 N2/Ar气流比的增大薄膜样品出现新的物相,吸收光谱向可见光方向展宽,在N2/Ar流量比为 3∶100 时,制备的薄膜在可见光区具有很好的光催化性能。     

自由曲面光学器件检测技术

自由曲面光学器件尽管有其突出的优点,但还远不能进入到现代光学系统的主流中去,问题之一就是精密检测．自由曲面光学器件的检测对于其精密加工不可或缺,并且两者通常具有不可分割的联系．文中阐述了与不同加工阶段相关的自由曲面光学器件检测中的问题和对策．在抛光前后宜分别采用坐标测量机和光学干涉仪,两种方法都存在一些问题有待解决．实际上坐标测量方法是近十几年来自由曲面测量的主流,这方面的研究主要集中于定位、误差补偿及采样策略等问题上．相比之下,自由曲面光学器件的光学测试是一个新的技术,其中不仅是分析软件上的存在问题,首要的还是缺乏适当的测量手段．尽管也可应用专门的轮廓测量仪,但它还存在诸多限制．结合子孔径拼接技术的干涉仪在某些自由曲面光学器件的测量中前景良好,不过对于更复杂的曲面,它同样无法进行测量．     

PECVD生长nc-Si∶H膜的沉积机理分析

nc-Si∶H膜具有显著不同于α-Si∶H与μc-Si∶H膜的新颖结构与物性。从热力学反应的基元过程出发，定性地分析了本征nc-Si∶H与掺磷nc-Si(P)∶H膜的沉积机理，并提出了进一步改善膜层质量的新途径     

双CCD视觉传感器的建模及优化设计

依据几何成象原理建立起双ＣＣＤ视觉传感器坐标的数字模型,导出其有效视场的计算公式,并分析了有效视场、坐标测量精度和传感器结构参数之间的关系。综合导出的公式及的判据,编制出相应的优化设计软件,由计算结果发现,当给定有效视场及各结构参数的测量误差值时,可寻求该传感器的最优结构布局,使坐标测量精度最佳。