基于可靠性评价的含缺陷核压力管道疲劳寿命预测方法

含缺陷压力管道经缺陷评定合乎使用后,其疲劳寿命的估计具有重要的工程意义。将整个含缺陷压力管道作为一个整体,分析了含缺陷压力管道的疲劳裂纹扩展特点,提出了相应的含缺陷压力管道疲劳寿命的计算过程,并在基于可靠性评价的基础上,给出了核压力管道的可接受失效概率,最终得到了含缺陷核压力管道疲劳寿命预测方法。     

用设计掩盖技术缺陷非常危险

一次我去长虹参观，对方说一台液晶电视原价18万元，可以卖我12万元。12万元还是很高，但对方说，它们几乎不赚什么钱，因为液晶核心技术有8万元是从国外买回来的。这说明核心技术成本非常高。而我们拥有的只是组装技术，可以做的不多。我们可以做设计，但却不好好做，其实韩国产品的设计水平不如中国，但中国在技术上不过硬。     

从图像的二维谱分析现行电视的缺陷

从图像的二维谱可以得出现行广播电视图像为什么不能满足人眼的视觉匹配以及现行电视制度的不足 ,从而对未来的高清晰度电视发展提出要求。     

在用尿素合成塔内外部缺陷原因分析及修理

本文介绍了尿素合成塔内外部缺陷产生的主要原因及修理方法。提出了在尿塔制作、检修、使用等方面应当注意的问题。     

复合材料手动扫描超声特征成像检测

研究了复合材料手动扫描超声特征成像检测，通过对超声检测信号的全波列采集与处理，实现了A，B，C扫描成像；相位特征成像；当量特征成像；超声层析技术和超声频谱分析技术。该系统已经在复合材料的检测上得到了良好的应用。     

6σ设计水平的评价

在介绍6σ设计概念和目标的基础上，给出设计水平与百万机会缺陷数(DPMO)关系的计算表达式和关系曲线，并开发了计算机模块，能自动计算与不同设计水平对应的DPMO值，也可以根据实际的DPMO值，自动评价达到的设计水平。     

区熔硅近表面洁净区和体内微缺陷的形成

中子辐照区熔(氢)硅片经退火后在近表面形成洁净区,在硅片内部形成体内微缺陷.微缺陷的形成与中子辐照造成的损伤及单晶硅内氢杂质的催化加速有关,还与后续退火条件有关.第一步退火的温度对微缺陷的尺度有很大的影响,中低温要比高温所形成的微缺陷小.在退火过程中微缺陷有一个生长过程,1100℃退火2h微缺陷已达最大.硅片表面的粗糙度影响表面洁净区的形成,洁净区出现在未抛光面,双面抛光硅片不会形成表面洁净区.     

浸入式水口耐火材料与钢水间反应对气泡性缺陷发生率的影响

本文分析研究了浸入式水口的多孔质耐火衬与钢水间反应对气泡性缺陷发生率的影响，并探讨了通过使用不 与钢水发生反 应的无二氧化硅多孔质耐火衬可以防止气泡性缺陷发生的机理。     

铌酸锂γ射线辐照色心缺陷的研究

对铌酸锂晶体进行γ射线辐照处理，吸收光谱显示基础吸收边紫移，４８０ｎｍ波长附近出现一明显吸收峰，这是由空位色心Ｖ０和Ｎｂ＾４＋缺陷引起的，Ｎｂ＾４＋的存在进一步被ＥＰＲ实验所证实。本文对上述辐照缺陷的产生机理进行了讨论。