全文获取类型
收费全文 | 13243篇 |
免费 | 848篇 |
国内免费 | 499篇 |
专业分类
电工技术 | 787篇 |
综合类 | 827篇 |
化学工业 | 854篇 |
金属工艺 | 718篇 |
机械仪表 | 701篇 |
建筑科学 | 1422篇 |
矿业工程 | 891篇 |
能源动力 | 178篇 |
轻工业 | 540篇 |
水利工程 | 644篇 |
石油天然气 | 706篇 |
武器工业 | 94篇 |
无线电 | 2713篇 |
一般工业技术 | 696篇 |
冶金工业 | 1208篇 |
原子能技术 | 92篇 |
自动化技术 | 1519篇 |
出版年
2024年 | 114篇 |
2023年 | 331篇 |
2022年 | 419篇 |
2021年 | 431篇 |
2020年 | 362篇 |
2019年 | 368篇 |
2018年 | 196篇 |
2017年 | 356篇 |
2016年 | 366篇 |
2015年 | 393篇 |
2014年 | 789篇 |
2013年 | 619篇 |
2012年 | 761篇 |
2011年 | 692篇 |
2010年 | 658篇 |
2009年 | 757篇 |
2008年 | 962篇 |
2007年 | 800篇 |
2006年 | 708篇 |
2005年 | 661篇 |
2004年 | 592篇 |
2003年 | 440篇 |
2002年 | 353篇 |
2001年 | 355篇 |
2000年 | 262篇 |
1999年 | 261篇 |
1998年 | 233篇 |
1997年 | 199篇 |
1996年 | 207篇 |
1995年 | 172篇 |
1994年 | 134篇 |
1993年 | 122篇 |
1992年 | 138篇 |
1991年 | 117篇 |
1990年 | 124篇 |
1989年 | 90篇 |
1988年 | 13篇 |
1987年 | 12篇 |
1986年 | 5篇 |
1985年 | 2篇 |
1984年 | 7篇 |
1983年 | 3篇 |
1981年 | 4篇 |
1973年 | 1篇 |
1965年 | 1篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
82.
本文深入讨论了脉冲啁啾的非线性起源及其对干涉相关测宽(等值宽度和条纹计数)法的影响。提出根据干涉相关曲线下包络最大值位置适当降低等值宽度位置和用计算机平均处理干涉相关信息的技术以消除啁啾的影响。 相似文献
83.
84.
外观漂亮,是产品能够吸引到用户眼球的第一个要素,有内涵才能够让用户接受它。三星近日推出的三款以黑色为主调的黑钻系列宽屏LCD,就是这种内外兼修的产品。黑钻系列LCD漂亮的外观设计获得了2007 iF设计大奖的肯定,同时,优秀的显示效果也使之成为市场上的焦点。 相似文献
85.
一股梦幻风潮正向笔记本市场袭来!“雪白+酒红”的娇艳色调搭配,身着时尚格纹外套的可爱小狗,用“宠爱”来为方正这款笔记本命名真是再合适不过了。“宠爱”是方正科技特别为2006年推出的。狗年贺岁机型”,12.1英寸宽屏的精巧外型,妩媚甜美的设计风格,再加上主流的硬件配置,使得“宠爱”成为今冬时尚MM们至in的潮流新宠,让你无论走到哪儿,都能感受到众人欣羡的目光。 相似文献
86.
87.
薄储层在马来盆地日益成为海上勘探的目标。这些储层表现为垂向呈非均质性且包括领导储层流动特性。本文描述了确定这种储层特性的实时高分辨率地层评价和地层测试方法。
薄储层的地层评价有以下几个目的:①判断可能的油气层;②通过地层测试和取样确定产能和流体类型;③计算纯产层厚度及误差范围。
由于地层几何形态和岩性的原因,所以评价过程比较复杂。储层厚度通常小于地层评价测井仪的分辨率。储层岩性为粉砂,呈细粒结构,所以要求有高质量的井眼电阻率图像才能确定其几何形态。探井为评价储层的勘探前景提供了最好的机会,但因为操作的限制和经济的限制,不可能对每一个可能储层都进行取心或测试。因此,实时评价方法必须确切地判断勘探远景,以便进行下一步测试。
本文要描述的实时地层评价包括以下几个步骤:(1)针对以下参数进行现场岩石物性分析:①孔隙度;②粘土、矿物和流体的体积;③根据GR能谱元素产额、核及声波孔隙度以及阵列电阻率测井资料得到的渗透率;(2)识别薄层并通过电阻率成像仪计算砂层总有效厚度;(3)验证现场岩石物性分析结果以及开始读取测井数据后2h之内的井眼图像,并设计电缆测试和取样程序。用一种模块式电缆地层测试器测量储层岩石的现场压力并建立流体梯度,判断流体界面。除此之外,通过预测试分析估算局部地层渗透率,并来验证用地层评价方法判断薄层的产能。 相似文献
88.
89.
90.
纳米晶双相稀土永磁合金作为永磁体广泛应用于工业电动机和工业仪表中 ,但对该材料的电子显微结构分析报道较少 ,主要原因是该材料的透射电子显微镜薄膜样品的制备极为困难。原因是 :其一 ,该材料具有极高的脆性 ,以致在制作过程中用镊子夹取时样品极易碎裂 ,使制备过程失败 ;其二 ,由于所制备材料工艺限制 ,这种材料的宽度一般在 1 2~ 2 5mm ,厚度在 30~ 6 0 μm ,传统的制作方法需要经过机械打磨、3大小的薄膜剪切 ,才能将该材料用电解双喷方法或离子薄化技术制成透射电镜薄膜样品 ,但上述方法一般均需要原始试样的宽度不低于3m… 相似文献