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等离子激发是了解材料的电子态性质的一个窗口。电子能量损失谱是研究材料内等离子激发的一个极好的实验工具[1] 。常见的电子能量损失谱主要是通过研究等离子激发的能量和强度来分别确定材料内部价电子的体密度和样品的厚度 ,比较少的是关于等离子激发能量与散射角度的关系的研究[2 ] ,即物理意义上的等离子激发的色散关系。色散关系和材料的维度及电子与电子的相互作用有关[3 ] ,故研究低维材料激发态的色散关系是一个十分有意义的工作。我们在这里报导测量单根硅纳米线等离子激发色散关系的初步工作。我们选择硅纳米线作为实验体系是因为… 相似文献
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傅恩生 《激光与光电子学进展》2002,39(3):25-25
美国阿贡实验室的一个科研小组在无镜单通自由电子激光器中已达到自放大自发辐射饱和,其波长比从前这种无镜自由电子激光器的记录短1000倍以上。该小组展示了在可见光波长(530 nm)和紫外波长(385 nm)上指数增长和饱和的预言。该室研究人员报导了他们在Stephen Milton和Efim Gluskin领导下。逐步向X射线自由电子激光趋近的过程。同步辐射研究的历史仅有45年,真正的突破也只在屈指可数的几年里。据阿贡先进光源实验室副主任David Moncton说,他们的工作是突破中的一项。与普通激光器不同,该室的无镜自由电子激光器用强流电子加速器和… 相似文献
43.
二维谐振子与二维氢原子的能量及波函数 总被引:4,自引:0,他引:4
借助于SU(1,1)代数,找出了二维谐振子与二维氢原子的能量及波函数间的关系. 相似文献
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分析了PIM卧管式三旋在催化装置应用过程中所出现的问题 ,并且有针对性地进行了改造 ,取得了良好的效果 相似文献
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X射线光电子能谱(XPS) 总被引:5,自引:0,他引:5
在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的。而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征。其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段。 X射线光电子能谱的基本原理(图1)是当一束特定能量的X射线辐照样品,在样品表面发生光电效应,就会产生与被测元素内层电子能级有关的具有特征能量的光电子,对这些光电子的能量分布进行分析,便得到光电子能谱图。XPS起始于发现光电效应之后不久,1914年Rutherford即成功地表述了XPS的基本方程: 相似文献
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一种新的直扩超宽带系统快速同步方案 总被引:1,自引:0,他引:1
本文提出了一种新的基于能量窗的直扩超宽带系统码片同步方法,通过设计具有重复特性的码来提高能量窗的信噪比,从向可以较为准确地获得码片同步,并将窗口中的信息作为接收端本地信号与接收信号进行匹配接收,这样可以存未知接收信号相位的情况下有效地接收多径能量,提高接收信噪比。在完成码片同步之后再进一步进行PN码的相位同步,这里以线性搜索为例分析得到超宽带信号总的平均同步时间,并与现有的超宽带同步方案进行了比较,新方案将信号捕获分成两部分完成,大大降低了超宽带信号捕获时间。 相似文献
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