半导体激光器面面观

量子阱(QW)激光器 (1)QW激光器 随着金属有机物化学汽相淀积(MOCVD)技术的逐渐成熟和完善,QW激光器很快从实验室研制进入商用化。QW器件是指采用QW材料作为有源区的光电子器件,材料生长一般     

彩色显像管电子束亮度分布自动测量系统

电子束轮廓的描述是彩色显像管特性检测中的难点之一。采用光电转换与计算机信息处理技术，通过自动调整边界条件和三次样条拟合的方法建立了电子束轮廓自动测量系统。与传统测量方法相比，该系统精度高，测试速度快，极大地减轻了测试人员的工作强度，并增加了对排列率和并列率等的测试功能。     

碎屑岩储层类拟的３Ｄ描述———从３ＤＧＰＲ数据到３Ｄ流体渗透率模型

3D 10 0MHz探地雷达 (GPR)数据体是在犹他州中东部Ferron砂岩中现场描述河流相储层特征的基础。我们用GPR反射时间 ,通过 3D速度估计和深度偏移 ,对边界曲面成像。同时利用 3D振幅属性生成一个从地表到地下 12m深的关于内部构造的大小、方位和几何形状的地质统计模型。通过克里金法和从GPR数据导出的 3D相关结构对每种沉积学因素赋予一个实际的流体渗透率分布 ,并以岩心中及附近悬崖壁提取的岩栓中实测的渗透率对它们进行约束。 3DGPR图像表明 ,GPR的相变化可以解释为沉积学边界曲面 ,即使边界曲面与强GPR反射面不相关 ,这种解释也成立。该地区有两种主要的沉积体系。上部 5m内为河槽交错层理砂岩 ,平均渗透率约为 40md ,最大相关长度约为 (5 .5～ 12 .5 )× (3 .5～ 8.0 )× (0 .2～ 1.5 )m ;下部 7m为河流冲填沉积 ,随着粘土含量的增加 ,平均渗透率从约 3 0md变化为约 5md ,最大相关长度约为 (4 .0～ 12 .5 )× (3 .0～ 10 .0 )× (0 .5～ 1.0 )m。这些结构适合于用于流体流动模拟的输入     

小口径榴弹破片质量分布规律计算模型

研究了一种计算非控榴弹战斗部破片质量分布规律的新算法，从壳体膨胀过程开始分析，结合到壳体尺寸，材料性质和临界破坏能，探讨了确定MOTT理论常数的方法，计算结果与试验结果对比在一定的误差范围内，表明该方法避免了以前确定计算中的不确定性，结果表明此方法是一种预测破片质量分布规律参数的可行途径。     

JT—60U稳态运行的约束和稳定性进展

本文介绍了ＪＴ－６０Ｕ托卡马克在建立具有高聚变性能的稳态、完全非感应电流驱动等离子体的物理和技术基础的方面最新成就、最新的结果着重于：（１）高性能反向磁剪切放电「在ＩＰ＝２．８ＭＡ，Ｐａｂｓ＝１７ＭＷ时，理想的等效ＱＤＴ为１．０５，约束增强因子（Ｈ因子）为３．２３，规范化β值为１．８８」，首次观察到电子和离子的热输运势垒；（２）世界上首次注入基于负离子的中性氘束来研究电流驱动、加热和高能粒子行为（     

带有集中质量的分布质量弹性转动横振精确解

求得了带有集中质量的分布质量弹性转轴系统横向自由振动的频率方程和振型函数的精确解析表达式，及其与不转动轴系统自由振动的频率方程和振型函数及转动角速度之间的精确解析关系     

激光区熔再结晶SOI的杂质分布与迁移率研究

本文介绍一种确定ＳＯＩ／ＭＯＳ结构中沿硅薄膜厚度多子漂移分布和杂质分布的简单方法（其掺杂剖面是随机不均匀的）。这种方法基于使用一种耗尽型晶体管与栅控二极管的组合结构。作者列举在激光区熔再结晶多晶硅制的ＳＯＩ结构和ＳＯＳ结构上以相同工艺制作器件的对比研究结果。由这些结果可见，在包含有晶粒间界和子晶粒间界的ＳＯＩ薄膜中，沿膜厚的载流子迁移率是恒定的，而且远远超过ＳＯＳ膜中的迁移率。     

露天矿爆堆矿石质量重新分布的研究

露天矿生产各工艺环节都有配矿作用，而确定铲装地点、分配和调整其出矿量乃是配矿工艺的核心。爆堆矿石质量重新分布的研究，是合理确定铲装作业参数唯一可靠的途径，为此，推出了一种计算爆堆矿石质量重新分布的软件。通过现场试用表明，取得了较为理想的效果。