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991.
利用光纤拉曼散射温度传感系统的电力电缆温度在线监测 总被引:2,自引:0,他引:2
电力电缆线路运行温度在线检测技术是目前及时发现电力电缆线路局部过热点位置、检测运行线路的绝缘状态和计算导体载流量的首选技术措施。分布式光纤拉曼测温技术是利用激光在光纤中的传播特性,实现实时测量空间温度场分布的新技术,可以对光纤沿线的温度场进行分布式的连续检测。介绍了光纤拉曼传感技术的测温原理,以及基于此技术的电力电缆温度在线监测系统在实际中的应用,获得了一些仿真结果,并同传统的测温技术进行了详细的比较,说明分布式光纤拉曼测温系统应用于电力电缆在线监测的优势,适合于推广使用。 相似文献
992.
随着信息技术的不断发展,信息传输线应用越来越广泛,而其燃烧特性的检测越来越重要,作者基于米氏散射理论(MST),提出了两种光电线缆燃烧试验的新方法,并进行了相应的讨论。 相似文献
993.
粒子滤波算法在TBD目标检测中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了基于生存概率模型的目标检测滤波器设计,实现了基于序惯Monte-Carlo采样粒子滤波方法.优化设计了目标生存概率的算法;给出了粒子滤波器的TBD算法的理论推导及数值计算过程.仿真实验表明:基于粒子滤波器的TBD算法能够检测低信噪比的目标. 相似文献
994.
激光诱导银纳米颗粒薄膜和微结构 总被引:2,自引:1,他引:2
利用可见激光诱导化学沉积方法在玻璃基底上制备纳米银薄膜和微结构。玻璃样品池中装满柠檬酸钠和硝酸银的混合透明溶液,当一束可见连续激光正入射样品池一段时间后,在辐照区域的玻璃内壁上便可以形成一层光亮的银膜。银膜沉积的速度受到激光功率密度、激光波长、辐照时间以及混合溶液的浓度等条件的影响。利用X射线衍射、原子力显微镜和拉曼光谱仪等手段对制备的薄膜的成分、表面形貌和拉曼活性等性质进行了表征和分析。利用此方法制备的银膜具有良好的表面增强拉曼散射活性。同时,利用双光束干涉的方法在玻璃基底上诱导出不同周期的银纳米颗粒光栅。 相似文献
995.
对五元系统BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 进行X 射线粉末衍射分析确定系统的主次晶相分别为BaNd2 TiO14 和Bi4Ti3 O12 。用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积百分数 ,代入李赫德涅凯对数混合定则 ,定量计算出的系统介电性能与用仪器实测的相符。结果表明对于X射线衍射强度可以定量表征系统介电性能的材料 ,可以根据所需的性能指标利用李氏定则确定系统成分配比 ,从而可以作为电子陶瓷材料设计改进的依据。 相似文献
996.
J. Stopford D. AllenO. Aldrian M. MorshedJ. Wittge A.N. DanilewskyP.J. McNally 《Microelectronic Engineering》2011,88(1):64-71
The practicality of plasma etching, combined with low temperature and directional process capabilities make it an integral part of the IC manufacturing process. A significant cause of damage to wafers during plasma processing is arcing damage. Plasma arcing damage results in large pits and non-uniformities on the wafer surface which can lead to wafer breakage and high yield losses.Thus a non-destructive wafer damage metrology is crucial to the understanding of wafer failure mechanisms. We report on the successful use of a combined suite of non-destructive metrology techniques to locate the arc damage sites and examine the physical processes which have occurred as a result of the damage. These consist of 3D X-ray diffraction imaging (3D-XRDI), micro-Raman spectroscopy (μRS), and scanning electron microscopy (SEM).In the case of the two examples examined in this study the plasma induced damage on the wafer surface appears as regions of damage ranging from 100 μm to 1000 μm in diameter. 3D-XRDI shows that the strain fields propagate out from the damage site in all directions, with the damage penetrating up to ? of the way through the substrate. K-means clustering and false colouring algorithms are used to highlight the regions of interest in 3D-XRDI, and to enhance the analysis process. Sectioning of the 3D images has enabled non-destructive imaging of the internal damage in the samples at any location. Micro-Raman spectroscopy results indicate the presence of both crystalline and amorphous silicon. Strain measurements at the damage site show tensile strains as high as 500 MPa in certain situations, with strain levels increasing from the surface towards the bottom of the dislocation cell structures, which can be distinguished in the synchrotron X-ray topographs. 3D-XRDI and μRS results are in close correlation, proving the potential for 3D-XRDI as non-contact, non-destructive metrology particularly suited to these problems. 相似文献
997.
卫星姿态将直接影响卫星执行任务结果和在轨寿命,陆标敏感器可以从卫星遥感图像信息中获取卫星的姿态信息。提出一种新型陆标敏感器的算法,根据卫星计划拍摄的理论范围与实际图像范围的偏差,计算出卫星的侧滚、俯仰和偏航三种姿态偏差。该算法的优点在于能与实际任务相结合,在测量分析卫星姿态偏差的同时不影响卫星正常执行任务。 相似文献
998.
999.
为了研究单元式偏光分束棱镜分束角和光强分束比与棱镜结构的关系,采用从理论上分析o光、e光的分束角和光强分束比与光轴取向、棱镜结构角及入射角的关系,并从实验上测量分束角和光强分束比随入射角变化的方法,进行了理论分析和实验验证,取得了分束角和光强分束比随光轴取向、棱镜结构角及入射角的变化关系的数学表达式,并得到了二者随入射角变化的实验数据。结果表明,在误差所允许的范围内,实验所测的光强分束比和分束角随入射角的变化与理论计算是一致的,且分束角的变化约为入射角的1/2。 相似文献
1000.
X射线弯晶谱仪的几何因数对色散角的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
在假设谱线的固有宽度可以忽略的情况下 ,本文成功地应用了柱坐标系统来进行定量的分析在弯晶谱仪中由于晶体的几何结构和光源的大小对色散角的影响。为了更具普适性 ,分析了Johann晶体谱仪和点光源 ,同时还有球面晶体谱仪和Johanson晶体谱仪。最后与其他方法所得出的结论做了比较并且给出各种因素对色散角的影响的数据分析 相似文献