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金属粉末注射成型技术(Metal Injection Molding,简称MIM)是近年来在粉末冶金学科和工业中发展最迅猛的领域。主要论述应将传统脱脂、烧结乃至后处理等单一工序融合为综合工序的必要性,及连续烧结设备的结构与工件输送的控制系统设计的发展目标。 相似文献
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M. Krunks A. Katerski T. Dedova I. Oja Acik A. Mere 《Solar Energy Materials & Solar Cells》2008,92(9):1016-1019
In this paper we present a realization of an extremely thin absorber (ETA) layer solar cell by the chemical spray pyrolysis method. CuInS2 absorber was deposited onto a blocking layer coated ZnO nanorods grown on a transparent conductive oxide. Layers and cells were characterized by optical and Raman spectroscopy, and scanning electron microscopy. Current–voltage, spectral response and electron beam induced current measurements were applied to solar cells. ZnO nanorod cell showed twice higher short circuit current density than the flat reference. ETA cells with efficiency of 2.2% (j=12 mA/cm2, Voc=425 mV, FF=43%) and of 2.5% were prepared using TiO2-anatase and an indium sulfide blocking layer, respectively. 相似文献
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分析了催化裂化催化剂喷雾干燥过程中的不同形貌微球成型机理,考察了喷雾干燥成型工艺和催化剂浆液特性对催化剂球形度的影响。结果表明,在热空气的进出口温差约为260 ℃、载气量为1 500~2 000 m3/h、雾化机转速为5 000~14 000 r/min的喷雾干燥成型条件下,催化剂球形度相对较高,不小于0.85;通过增加催化剂浆液总固物质量分数、降低浆液黏度、优化使用黏结剂的类型及其用量,有益于提升催化剂球形度;通过综合优化喷雾干燥成型工艺和催化剂制备过程,可制备出具有实心结构、表面圆整的微球催化剂,所制备的原位晶化催化剂和助催化剂的球形度均大于0.90,半合成催化剂的大于0.88。 相似文献
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针对深部软岩巷道围岩总变形量大、收敛速率快、持续变形时间长以及支护系统损毁等矿压显现特点,分析了复杂应力场和高渗透压作用下的变形破坏机制,并结合深部巷道的"应力恢复、围岩增强、固结修复和主动卸压"控制原则,提出了集密集高强锚杆承压拱、厚层钢筋网喷层拱和滞后注浆加固拱于一体的锚喷注强化承压拱支护技术,并阐明其成拱及强化支护的机理。结合现场地质生产条件采用理论计算、数值模拟和工程类比法综合确定试验巷道围岩支护方案,并进行现场应用。现场实践表明,采用锚喷注强化承压拱支护技术后,巷道围岩总体变形量较小,围岩收敛率从扩刷修复前的2.6 mm/d降至0.56 mm/d,且支护系统亦无开裂损毁现象发生,实现了对深井软岩巷道的有效控制。 相似文献
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A series of ZnO-CdO thin films of different molar ratios of Zn and Cd have been deposited on glass substrate at substrate temperature ~ 360 ℃ by the spray pyrolysis technique at an ambient atmosphere. X-ray diffraction (XRD) studies confirmed the polycrystalline nature of the film and modulated crystal structures of wurtzite (ZnO) and cubic (CdO) are formed. The evaluated lattice parameters, and crystallite size are consistent with literature. Dislocation density and strain increased in the film as the grain sizes of ZnO and CdO are decreased. The band gap energy varies from 3.20 to 2.21 eV depending on the Zn/Cd ratios in the film. An incident photon intensity dependent I-V study confirmed that the films are highly photosensitive. Current increased with the increase of the intensity of the light beam. The optical conductivity and the optical constants, such as extinction coefficient, refractive index and complex dielectric constants are evaluated from transmittance and reflectance spectra of the films and these parameters are found to be sensitive to photon energy and displayed intermediate optical properties between ZnO and CdO, making it preferable for applications as the buffer and window layers in solar cells. 相似文献
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High‐Mobility ZnO Thin Film Transistors Based on Solution‐processed Hafnium Oxide Gate Dielectrics 下载免费PDF全文
Mazran Esro George Vourlias Christopher Somerton William I. Milne George Adamopoulos 《Advanced functional materials》2015,25(1):134-141
The properties of metal oxides with high dielectric constant (k) are being extensively studied for use as gate dielectric alternatives to silicon dioxide (SiO2). Despite their attractive properties, these high‐k dielectrics are usually manufactured using costly vacuum‐based techniques. In that respect, recent research has been focused on the development of alternative deposition methods based on solution‐processable metal oxides. Here, the application of the spray pyrolysis (SP) technique for processing high‐quality hafnium oxide (HfO2) gate dielectrics and their implementation in thin film transistors employing spray‐coated zinc oxide (ZnO) semiconducting channels are reported. The films are studied by means of admittance spectroscopy, atomic force microscopy, X‐ray diffraction, UV–Visible absorption spectroscopy, FTIR, spectroscopic ellipsometry, and field‐effect measurements. Analyses reveal polycrystalline HfO2 layers of monoclinic structure that exhibit wide band gap (≈5.7 eV), low roughness (≈0.8 nm), high dielectric constant (k ≈ 18.8), and high breakdown voltage (≈2.7 MV/cm). Thin film transistors based on HfO2/ZnO stacks exhibit excellent electron transport characteristics with low operating voltages (≈6 V), high on/off current modulation ratio (~107) and electron mobility in excess of 40 cm2 V?1 s?1. 相似文献
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