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61.
土壤相对湿度是农业自动化灌溉技术的关键性指标,也是当前农田领域研究的热点问题。为了探索土壤电容与土壤相对湿度的相关性,设计了一种测量土壤电容值的方法,通过烘干法对不同湿度点进行了较为精准的电容值检测,最后通过matlab7.1作数据拟合。结果表明,土壤电容值与土壤相对湿度在30%-100%之间存在很好的对数关系,考虑温度补偿,得到任意温度t的湿度t=(17.53ln Cx-5.773)*(100+0.05075*(20-t))%,判定系数R2=0.975。  相似文献   
62.
基于相位相关和模板匹配的亚像素图像配准参数估计   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对图像配准中的亚像素参数估计问题,提出了一种相位相关和模板匹配相结合的方法。该方法先采用相位相关法进行粗配准,找到整像素平移;然后运用模板(窗口)匹配和基于最小二乘的曲面拟合法实现亚像素图像配准参数估计。通过实验表明该方法可以充分利用FFT的高效运算,达到亚像素精度。  相似文献   
63.
通过闭管锌扩散制备了256元平面型铟镓砷(In0.53Ga0.47As)线列探测器,室温下焦平面平均峰值探测率为5.79×1011cmHz1/2W-1,不均匀性为31%,平均峰值响应率为0.33 A/W.并且通过拟合其伏安曲线得到了器件的理想因子和串联电阻,基于这两个相互独立的参数可以对器件不同区域的性质加以考查,结果表明器件材料具有较好的均匀性,而器件的欧姆接触电阻偏大,且不均匀性达到39%,为工艺的改进提供了重要依据.  相似文献   
64.
对硅基HgCdTe中波器件进行了变温电流电压特性的测试和分析.测量温度从30K到240K,得到R0对数与温度的1000/T的实验曲线及拟合结果.同时选取60K、80K及110K下动态阻抗R与电压V的曲线进行拟合分析.研究表明在我们器件工作的温度点80K,零偏压附近主要的电流机制是产生复合电流和陷阱辅助隧穿电流.要提高器件的水平,必须降低陷阱辅助隧穿电流和产生复合电流对暗电流的贡献.  相似文献   
65.
基于放大器非线性拟合的自适应预失真技术   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文提出了一种新的有效的大功率放大器非线性失真的数字自适应预失真设计方法。该方法基于有理双线函数的非线性及其逆变换易于求解的特性,设计大功率放大器的估计器以逼近大功率放大器的非线性特性,预失真器的非线性参数由估计器的逼近函数逐段取逆变换来调节,以达到预失真补偿的目的。计算机仿真结果表明:该方法用于正交频分复用(OFDM)系统中具有收敛速度快、系统性能稳定、补偿效果好等特点。  相似文献   
66.
图形矢量化中直线拟合与合并算法   总被引:5,自引:0,他引:5  
直线拟合与合并在图形矢量化中有着重要的作用。拟合使曲线用短直线逼近,便于曲线的识别和快速显示;合并使处于一条直线上的短直线成为一条长直线,能够有效地压缩数据量,更准确地表示图形的拓扑结构,为图形识别创新更好的条件,提出的算法能够完成直线的拟合与合并,在实践中取得了较好的效果。  相似文献   
67.
针对介质材料中按二维菱形周期排列空气圆孔的PBG结构,采用平面波展开法结合迭代技术的理论分析程序,对结构尺寸与介质参数的不同组合进行了批量计算,根据对计算结果的分析,归纳出阻带范围与结构参数之间的函数关系,经数据拟合得出一组准确而快捷的工程设计公式,还给出了根据预期的阻带范围设计PBG结构参数的简明步骤,实例验证了该组公式的实用性。  相似文献   
68.
光学薄膜参数测量方法研究   总被引:3,自引:4,他引:3       下载免费PDF全文
为了研准确性和效率更高的膜层光学薄膜参数测量方法,对优化膜系结构和改进制备工艺都有重要的指导作用.论文在研究传统测量方法基础上,将包络线法与全光谱拟合反演法相结合,提出了一种新型的光学薄膜参数测量方法.该方法将采用包络线法计算的单层膜光学薄膜参数近似值作为参考,设置全光谱拟合反演法优化搜索的上下限,结合适当的评价函数构建计算物理模型,并选用综合优化算法求解获得待测膜系各膜层的光学薄膜参数.最后设计TiO2、SiO2单层膜和膜系为:G|0.5HLHL0.5H|A(H-TiO2,L-SiO2)的多层膜进行测量验证,并分析了该测量方法的效率准确度、稳定性等.  相似文献   
69.
对长波HgCdTe光导探测器进行了低于其永久损伤阈值的变功率激光辐照,测量辐照前后器件的电阻-温度特性,用电阻-温度特性研究材料参数的方法对实验结果进行拟合,结果表明辐照后HgCdTe探测器件的组分变大,并由此计算得到探测器性能突变后,器件的电子迁移率与电子浓度均有一定程度减小.认为这可能是由于激光辐照的热效应使N型HgCdTe光导器件的表面及体内均产生的一定的变化所致.  相似文献   
70.
光学表面检测的绝大多数情况中,被测光学表面或光学系统的出射波面总是趋于光滑且连续的,这样的波面函数一定可以表示成一个完备的基底函数的线性组合。因此常用Zernike多项式作为基底函数对测量得到的离散数据进行拟合,把实际波面或面形表示为Zernike多项式各项的线性组合。文中研究了Zernike多项式阶数对拟合精度的影响,以及采样点数对拟合精度的影响。得出Zernike多项式拟合波面并非阶数越高越好,阶数过高会使拟合结果出现病态。因此拟合波面要选择合适阶数的Zernike多项式。当多项式阶数选定时,采样点数多有利于提高拟合精度,但采样点的多少并不是提高拟合精度的先决条件。  相似文献   
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