微电子器件测试技术(中)

(接上一期) CPU的测试首先要解决测试程序(测试向量),CPU的功能不同于一般通用数字电路,CPU是在软件的介入下进行工作,而用户在使用CPU的时候也都有自己不同的用户程序,所以要验证CPU的功能是否正常,是否能在各种用户程序下都能可靠工作,所编制的测试向量必须覆盖CPU的各种工作方式和各种失效模式.     

CPLD技术与数字电路开发

本文介绍了CPLD在雷达数字控制电路中的强大功能和应用背景，针对开发CPLD所使用的两种方法－WHDL和GHDL进行简介，并以例子进行说明和应用。文中程序均已通过编译、调试和仿真，开发环境为MAX＋PLUS Ⅱ9.3。     

超导数字快单磁通量子电路应用初探

本文对当前正引起极大关注的新技术－超导数字电路，特别是约瑟夫森效应基础上的RSFQ逻辑电路工作机理给予了详细说明，并举例研究RSFQ电路“与”门的工作方式，对超导数字电路的应用前景进行了展望。     

应用MDS图的逻辑电路级设计--篮球30秒定时计时器的设计

介绍了用方法直观方便、规范和有章可循的MDS图方法设计小型数字系统“篮球30秒定时计时器”的具体过程。     

集成电路设计就是模拟设计——在某些设计中更是如此

随着深亚微米工艺的出现，数字电路设计正在变成模拟方面的设计，工程师们需要应对所有电子电路的摸拟行为所带来的寄生效应。     

吕晓明:1149.1到1149.7标准在边界扫描技术中的应用

电子产品的微型化使得传统的物理接触方法所能进行的测试访问机会越来越少,测试变得越来越复杂和困难,形成测试"瓶颈",使故障诊断因信息量不足导致虚警率增高。而解决测试"瓶颈"的唯一途径就是加强测试性设计(DFT),即采用"并行工程"的思想,在产品的设计阶段就考虑测试性,通过添加一些特殊的电路结构,来提高原电路内部节点的可控性和可观测性,从而实现对内部电路的测试。