耐候聚丙烯的微观结构分析

使用电子显微镜、偏光显微镜对耐候聚丙烯在加入不同添加剂后的微观结构进行了研究分析，并同日产耐候聚丙烯PPBC3B的结构作了对比。     

防灰雾剂对T-颗粒乳剂晶体表面形貌的影响

应用原子力显微镜对硫加金化学增感后的T-颗粒掺杂乳剂晶体表面形貌进行观察，直接测得了晶体颗粒的大小和厚度．颗粒表面精细结构观察显示样品表面并不平整，存在很多突起．这些突起呈线形平行排列，接近网格状．经曝光后突起变得更高，更集中．表面吸附足量的防灰雾剂后，晶体表面突起不明显．曝光后表面高度变化不大．     

原子力显微镜在生物制品中的应用

原子力显微镜(Atomic force microscope,AFM)是Binning等在1986年研制出来的,是一种揭示生物结构与性能的有力工具,具有比传统电子显微镜更高的放大倍数和极高的分辨率,能对从分子到原子尺度的结构进行三维成象和测量,可以在生理条件下实时进行,甚至能对生物样品进行纳米操纵。     

扫描隧道显微镜技术在腐蚀防护研究中的应用

简述了扫描隧道显微镜技术的发展概况，着重介绍了扫描隧道显微镜在局部腐蚀、点蚀、钝化膜形成等方面的应用。     

辽化二期聚酯投料试车及试生产情况

根据辽化二期聚酯装置一年的生产实际情况，以及投料试车的过程，结合德国吉玛公司的工艺特点，叙述了本装置的工艺流程、设备特点、投料试车过程中所遇到的问题及解决的方法。通过对工艺条件的分析，论述了试生产过程中的参数优化，为同类装置提供了第一手资料，有利于聚酯装置平稳生产、参数优化。     

沥青表面形貌的表征与测试及其对与集料接触特性的影响

采用原子力显微镜对SK90#基质沥青和SBSⅠ-C改性沥青的表面形貌进行了测试,获得了两种沥青的表面形貌参数,并基于此对沥青的表面形貌特性进行了分析;基于沥青表面的高度概率密度曲线和承载面曲线,从界面实际接触面积的角度分析了沥青表面特性对与集料接触特性的影响.结果表明,SBSⅠ-C改性沥青的表面起伏情况高于SK90#基质沥青,具有更大的表面粗糙度.具有更大Ssk(歪斜度)的沥青更有利于形成更好的黏附强度,但也更容易发生磨损而使黏附性能快速降低.沥青与集料间的接触性能受其实际接触面积的影响,SBSⅠ-C改性沥青具有与集料更大的实际接触面积,从而形成更大的摩擦力而具有更优良的黏附性能.     

衬底及压强对磁控溅射ZnO薄膜表面形貌的影响

在压强为0.5Pa和0.7Pa的情况下,采用磁控溅射法分别在Si及石英玻璃衬底上生长ZnO薄膜。利用原子力显微镜对ZnO薄膜的表面形貌进行观察,研究了压强及衬底对薄膜表面形貌的影响。研究表明:在Si衬底上生长的ZnO薄膜,压强为0.7Pa时比压强为0.5Pa时表面粗糙度要大;在相同溅射气压(0.7Pa)下,Si衬底上得到的ZnO薄膜质量明显优于石英玻璃衬底上的。     

大块锆基非晶合金Zr53．5Cu26．5Ni5Al12Ag3的盐雾腐蚀行为

采用铜模吸铸法制备直径为5 mm的Zr53.5Cu26.5Ni5Al12Ag3,用电化学极化曲线方法考察该大块锆基非晶合金及相应的晶态合金在55℃中性盐雾气氛下腐蚀120 h的腐蚀行为,并用金相显微镜、SEM和EDS对腐蚀前后试样的表面形貌和成分进行观察与分析.极化曲线测试结果表明,在55℃中性盐雾气氛下,大块锆基非晶合金比相同成分的晶态合金具有更好的耐盐雾腐蚀性能,腐蚀120 h后,Icorr=9.922×10-7A/cm2,比同条件下的晶态合金小3个数量级.SEM分析表明非晶合金表面没有发生明显的腐蚀,表面保持光洁.EDS分析表明非晶合金腐蚀产物为Al的氧化物,相应的晶态合金表面腐蚀产物为Al和Ni的氧化物.     

闪锌矿BxAl1-xAs合金的LP-MOCVD生长研究

利用低压金属有机化学气相沉积(LP-MOCVD)生长工艺,采用三乙基硼(TEB)源,在GaAs(001)衬底上生长了B并入比为0.4%～4.4%的一系列BxAl1-xAs合金。实验结果表明,BxAl1-xAs的最优生长温度为580℃;当生长温度为550℃和610℃时,BxAl1-xAs中B并入比都会下降,550℃时B并入比下降更为显著。在580℃最优生长温度下,B并入比随着TEB摩尔流量增加而提高,且B并入比从临界值2.1%增加至最大值4.4%时,DCXRDω-2θ扫描BxAl1-xAs衍射峰的半高宽值从51.8 arcsec升高到204.7 arcsec,原子力显微镜(AFM)测试表面粗糙度从2.469 nm增大到29.086 nm,说明B并入比超过临界值后BxAl1-xAs晶体质量已经逐渐严重恶化。     

计量型扫描显微镜中大行程纳米定位系统研制

为克服现有计量型扫描探针显微镜(SPM)测量范围小、测量速度低的不足,提出了快速共焦显微镜和SPM结合的大量程、高速、可溯源扫描显微镜,实现了一种大行程纳米定位系统,用于显微镜的扫描定位。系统包括伺服电机驱动的两维机械位移台和压电陶瓷(PZT)驱动的三维柔性铰链微动台,具有双伺服环运动控制机制,由双频激光干涉测量系统进行反馈和溯源。为抑制系统噪声,提高定位精度,设计了数字切比雪夫滤波器,将噪声减小85%。在100 mm×100 mm×20μm行程内,系统具有优于5 nm的定位精度和2 nm的分辨率。