MOS器件的X射线辐照效应

研究了在10keVX射线辐照情况下，MOS器件的阈值电压随总剂量和剂量率的改变而变化的趋势。实验结果表明，辐照后，与用Co^60作为辐射源辐照所做实验结果明显不同的是，NMOS器件的阈值电压漂移幅度远大于PMOS器件的漂移幅度。文中对这种现象进行了讨论。     

Montarbo PalcoPlus线阵列音箱

Montarbo PalcoPlus线阵列音箱是一个小型的两路驱动的二分频系统,可提供70 Hz-20 kHz的频率范围,具备平滑的频率和相位响应。一个35 mm的钕磁     

用于光纤光栅传感解调系统的线阵InGaAs驱动时序电路的设计

从理论上分析了线阵InGaAs光电探测器阵列在采用光谱成像技术的光纤光栅传感解调系统中的的成像原理,在此基础上,对日本滨淞光子公司生产的G9212 型号的线阵InGaAs结构、工作方式等光电信号处理过程进行讨论.针对该型号的光电探测器阵列设计了使其正常工作的驱动时序电路,并用Verilog HDL 语言进行模块描述和CPLD实现驱动时序电路的仿真.实验结果表明,设计符合光纤光栅传感解调系统中线阵InGaAs实际工作需要.     

32电路线对线连接系统：连接系统

Molex公司推出一款32电路线对线连接系统。CMC模块化混合连接系统专门针对高传导性应用和严苛环境应用而设计,并且获广泛认可为用于汽车和运输动力传动应用的业界标准接口,应用包括发动机控制单元（ECU）、自动变速箱、悬挂控制器和电气泊车制动。     

一种基于面阵CCD实时测量汞灯谱线波长的方法

利用面阵CCD采集汞灯衍射光谱图像;由计算机程序对采集的光谱图像进行处理,计算出不同波长谱线到零级谱线的间距L;然后根据光栅方程,实时计算出谱线的波长。该方法具有快捷、简便、精度高的特点,可应用于对光谱波长的实时测量。     

基于FPGA的1553B总线消息收发系统的设计

根据1553B控制器输入输出标准和系统设计紧凑性、可靠性的要求,提出了基于现场可编程门阵列(FPGA)软核处理器Microblaze系统的数据收发方案。该方案实现了对1553B控制器的消息接收和发送功能。着重研究了硬件电路设计和总线功能仿真,并给出部分仿真和测试结果。经过实际使用验证了该方案能很好地满足1553B总线收发系统的要求。     

激光微区等离子体光谱测定铁电薄膜材料组份的元素比率

本文在常压空气环境下,以单脉冲YAG激光作为激发源,通过辅助电极激发,获得了铁电薄膜样品上不同位置处的等离子体发射光谱.利用最小二乘法对铁电薄膜样品中Co、Sr和La的光谱数据进行处理,得到了元素谱线辐射强度比和原子个数比之间的线性因子Kij,并利用线性因子Kij计算了铁电薄膜上不同位置处的元素比率.结果表明,激光微区等离子体光谱法可以用于测定亚微米薄膜材料中的元素比率.     

高密度印制电路板用铜箔的新型处理技术

在新一代电子产品中应用的系统封装（SIP）,是将几片大规模集成电路芯片安装在一块高密度布线的印制电路板上,这种印制电路板的线条在20μm以下。作为这种印制电路板基材的关键技术有这样几个方面：为适应高速信号的传输所用低介电常数绝缘层的开发;确保绝缘层与导线的良好粘接以及导线表面粗糙度的降低等。该公司在印制电路用铜箔处理技术方面有一定的优势,例如能处理数十nm水平的粗糙度均匀的铜箔表面;在此基础上开发成功了与低介电常数树脂基材有着良好粘接性的新型铜箔表面处理技术。这种方法主要是在原来的氧化还原处理之前进行一次贵金属处理。表面的粗糙度可达到原来处理的1／10以下,而抗剥强度仍保持在0．6kN／m以上：而且,此项技术也适用于10μm以下线条的印制电路板。得出的板材在85℃,85％相对湿度,DC 5V的条件下,1000小时后绝缘性能无异常变化,绝缘可靠性能优异。此项技术今后有望成为高密度印制电路板制造的重要技术保证。     

基于NiosⅡ的LED虚拟像素显示屏控制器的设计

根据LED虚拟显示屏的要求和特点,利用片上系统和可编程片上系统的设计方法,提出LED虚拟显示屏控制系统的完整设计方案.在LED时序发生器的设计中专门提出了一种改进型的D/T 转换技术,无需任何预先数据处理,只用一个函数控制所有像素点的亮度.结果表明,设计方案解决了LED虚拟显示屏由于像素分时复用而带来的控制系统速度要求提高的问题,保证了屏幕的刷新速率,同时还降低了真彩显示系统的复杂性,能够保证画面的有效实时显示,具有较强的实用性.     

高速ADC电路性能评估系统

文章简要地介绍了高速ADC电路性能评估系统的整体设计方案、系统的硬件设计以及PC应用软件的设计方法。评估系统硬件包括ADC电路评估板、数据采集子板、PCI-E采集卡三块子板,并分别阐述了各子板的功能框图、结构组成和设计要点。系统应用软件采用图形化显示界面,经实际使用表明,该高速ADC电路评估系统结构灵活、性能稳定可靠,方便更换不同的ADC评估板来测试不同的ADC电路,既可用于分辨率为8-16bit、采样频率500MHz以内的高速ADC电路性能评估,也可以用于多达64通道、125M的高速数据采集。