氮化钛薄膜的高分辨AES谱和XPS谱研究

着重讨论了TiNx薄膜俄歇电子谱的定量分析方法和X射线光电子谱中线形的变化。利用已知组元强度定量分析技术和Ti的LMV俄歇电子峰，探讨TiNx薄膜中N含量的定量方法。由该方法给出的定量结果与X射线光电子谱定量结果相一致。同时，利用X射线光电子谱测定了TiN和Ti2N2p轨道的结合能。并针对Ti2p峰形随N含量的变化，给出新的解释。     

金属镱低压吸氘研究

在真空系统中的氘压低于0.1 MPa条件下研究了金属镱的吸氘性能,并对不同原子比的氘化物的物相进行了分析.在常压、300 ℃下,金属镱吸氘不明显;400 ℃时,金属镱经较长时间活化后吸附一定量的氘;500 ℃时,镱升华.400 ℃时的吸氘实验结果表明:从活化至开始吸氘直至吸附平衡需很长时间;氘/镱原子比的高低与吸氘时间有关,饱和吸氘时的原子比最大为2.00;金属镱为面心立方(fcc)结构,a0=0.549 2 nm.具有不同原子比的氘化镱的X射线衍射(XRD)分析结果显示:氘化镱有2种结构,即面心立方结构(a0=0.524 nm)和正交结构(a0=0.588 nm、b0=0.358 nm、c0=0.678 nm);金属镱吸氘后,立方结构氘化镱晶格常数及晶胞体积均发生收缩现象,收缩率分别约为4%和11%.正交结构氘化镱晶胞体积收缩约14%.     

电沉积Ni-W合金镀层的X射线光电子能谱分析

采用X射线光电子能谱（XPS）对电沉积Ni-W合金镀层表面膜进行了分析。研究结果表明，Ni-W合金镀层表面存在一层薄的氧化膜，而钨的氧化作用远大于镍，Ni-W合金镀层中W含量的提高对耐蚀性起决定作用。     

LaNi5-xAlxDy的中子衍射研究

分别测量了LaNi4.25Al0.75和LaNi4.75Al0.25两种合金样品在未吸氘及不同含氘量的氘化物样品的中子衍射谱,用Rietveld程序拟合出它们的晶体结构,并观察到了一些过去未曾注意的现象.LaNi4.25-Al0.75在吸氘过程中,氘原子优先占据的原子坐标为(0.17,0.32,0.45).     

黄金首饰的鉴定（X射线能谱仪应用之一）

利用Ｘ射线能谱仪定量测定黄金首饰成分，选择合理测试参数，经多次测定取其平均值而获得其成分，并借助改变加速电压，判断成分波动范围的合理性。     

汉字环境下开发全自动X射线荧光光谱仪RDX1800软件系统

在Compaq 386计算机上(IBM兼容),使用 MS-DOS 5.0以及联想汉字系统成功地开发了全新的全自动X射线荧光光谱仪RDX 1800软件系统。实现了全部参数的输入、输出、结果的打印以及结果报表等数据处理的彻底的汉字化。     

二元光学分束器的设计

系统地阐述了几种二元光学分束器的基本设计理论，比较其算法以及衍射效率和再现误差，并提供了设计实例。     

腹部CT扫描时两种呼吸控制法的优缺点比较

在腹部CT扫描时,需令病人暂停呼吸以保证图像的清晰度,为此可采用两种方法:口令法和腹带固定法。本文以实例分析了这两种方法特点和适用对象。     

材料研究中系列试样的单标样法 X 射线定量分析

本文提出了用一个标样进行系列试样 X 射线定量相分析的方法.它克服了一般 X 射线定量方法需要混合研磨和手续烦复的缺点以及无标样 X 射线定量方法存在病态方程不易解决的问题.该方法对常规 X 射线定量分析具有普遍的实用性.