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111.
激光平面扫描3D测量系统快速标定技术 总被引:6,自引:0,他引:6
建立了激光平面扫描3D测量数学模型,提出了一种全新的3D测量系统参数的快速标定方法,设计了由2个完全垂直的平面组成的立体标定靶标,使用1个靶标可同时标定测量系统的摄像机参数和光平面方程参数。采用该方法对激光平面扫描测量系统进行了参数标定,用标定后的系统对标准平面进行了测量,空间测量精度优于0.1mm。 相似文献
112.
113.
114.
115.
116.
低光照和抗晕CCD的设计和制作 总被引:1,自引:1,他引:1
针对帧转移可见光CCD低光照响应、抗电晕能力和动态范围,较详细讨论了CCD光响应灵敏度、动态范围和抗电晕的设计与计算。设计的具有抗晕功能CCD,采用2μm工艺制作,达到了设计技术指标要求,满足了工程应用需求。 相似文献
117.
118.
高斜效率高功率850nm氧化限制型垂直腔面发射激光器 总被引:2,自引:2,他引:2
报道了MOCVD生长的高性能850nm氧化限制型垂直腔面发射激光器.研制出的氧化直径为9μm的激光器25℃时的斜效率和阈值电流分别为0.82mW/mA和2.59mA,激光器在23mA时输出16mW最大光功率.氧化直径为5μm的激光器25℃时的最小阈值电流为570μA,其最大饱和光功率为5.5mW. 相似文献
119.
C. D. Maxey J. P. Camplin I. T. Guilfoy J. Gardner R. A. Lockett C. L. Jones P. Capper M. Houlton N. T. Gordon 《Journal of Electronic Materials》2003,32(7):656-660
A new metal-organic vapor-phase epitaxial (MOVPE) reactor-cell design has been developed to grow on 3-in.-diameter substrates.
This was required to produce uniform, fully doped heterostructures needed for array producibility and wafer-scale processing
compatibility. The reactor has demonstrated epitaxial growth of HgCdTe (MCT) with good morphology onto both GaAs and GaAs
on Si wafers. The density of surface-growth defects, typical of MOVPE growth, has been reduced to <5 cm−2 at a sufficient yield to make the production of low cluster-defect, two-dimensional (2-D) arrays possible. The new horizontal
reactor cell uses substrate rotation to achieve improved uniformity and is able to incorporate substrates up to 4-in. diameter.
Good compositional and thickness uniformity was achieved on epilayers grown on 3-in.-diameter, low-cost GaAs and GaAs on Si
wafers. Sufficient uniformity has been achieved to produce 12 sites of full-TV format 2-D arrays per slice. To yield the benefits
of heterostructure design, the MCT epilayers also needed to demonstrate efficient and uniform activation of both arsenic (acceptor)
and iodine (donor) dopants. Secondary ion mass spectrometry (SIMS) and Hall assessment showed that the uniformity of As and
I doping was ±10%. Fully doped heterostructures have been grown to investigate the device performance in the 3–5 μm and 8–12
μm infrared bands. The 2-D array performance has shown that at 180 K near-background-limited performance (BLIP) diodes have
been produced in the 3–5 μm band. 相似文献
120.
孟继德 《大气与环境光学学报》2003,(6)
根据量子力学的态叠加原理,构造了由强度不相等的两个多模复共轭相干态|{z_j~((a)*)}〉_q和|{z_j~((b)*)}〉_q,这两者的线性叠加所组成的非对称两态叠加多模叠加态光场|Ψ〉_q。利用多模压缩态理论,研究了态|Ψ〉_q的等幂次N次方H压缩特性,结果表明:当满足一定的相位条件时,无论腔模总数q与压缩次数N两者之积qN是奇数还是偶数,态|Ψ〉_q的两个正交相位分量总可分别呈现出等幂次N次方H压缩效应。 相似文献