心理因素对分析数据的影响及预防措施

研究了分析人员的心理状态、情绪变化、内在动机等对分析数据的影响,提出了具体的对策和预防措施     

台北凹陷小草湖次凹油气成藏特点及有利区带

吐哈盆地小草湖次凹发育多套烃源岩，油源条件好，油气资源丰富，油气勘探潜力巨大，中侏罗统发育三套储盖组合，凹陷内油气藏类型主要为侏罗系三间房组，七克台组的构造－岩性复合型和侏罗系西山窑组的深盆气藏，燕山运动末期是小草湖次凹一次重要的成藏期，古构造，古构造背景和构造－岩性复合型圈闭发育是小草湖次凹成藏主控因素，根据小草湖次凹成藏主控因素评价和优选有利区带，勘探工作取得了良好效果。     

编码解码芯片HD3-6408-9及其应用

编码解码芯片HD3 64 0 8 9是一种高性能的CMOS器件。这种大规模芯片主要由编码器和解码器两部分组成。在数据传输应用中 ,采用两个独立的单片机系统 ,利用编码解码芯片 (HD3 64 0 8 9)组成数字信号的接收、发送及显示部分来完成数据传输功能     

后压浆技术在杨凌国际会展中心基桩工程中应用效果的分析

本文叙述了杨凌国际会展中心基桩静力载荷试验的试验过程 ;通过对三根灌注桩承载力的试验结果分析 ,认为后压浆技术对提高灌注桩单桩极限承载力有很大作用     

峡口水库沥青混凝土面板的施工与试验

以灌溉、防洪为主的峡口水库大坝，为沥青混凝土面板堆石坝，为研究低温抗裂性能，对沥青混凝土面板破损取样，进行了配比和多种力学性能试验，并与原面板设计指标进行了对比。由于面板经受住了－20℃以下的低温考验，其所用沥青指标、破损取样试验结果，特别是冻断低温指标，对确定水工沥青混凝土低温抗裂检验标准有重要参考价值。     

电视机监督检验电磁兼容结果分析和对策

本文讨论了电磁兼容对电视机的技术要求和相应对策。     

单相开关磁阻电机及其控制

通过分析一种可以实现自启动的新型结构的永磁单相开关磁阻电机的基本工作原理，提出了一种性价比较高的控制方案，通过实验得出了结论。     

固井声幅-变密度测井的影响因素分析

利用声幅－变密度测井进行固井质量的评价受到诸多因素的影响，各种影响因素对声幅－变密度测井资料的影响作用有较大的差异，根据大量测井资料分析和实验研究，对仪器偏心、测井时间，套管尺寸与重量，地层岩性，气侵、水泥环微间隔等因素的影响作用进行了较为深入的分析，为各种影响因素的识别与校正提出了相应的方法和依据。     

基于相关性的人机系统可靠性模型

本文在剖析人机系统中操作者行为特征的基础上,考虑到操作者行为的自适应性、自学习能力及其行为形成主因子,着重结合操作者行为的相关性-感知作用于判断决策后影响到动作,建立了人机系统中操作者行为模式,并推导出计算操作者可靠度的公式,求出了相应参数.最后进行了实例量度,同时定量辨识了行为相关性对人可靠性的制约程度,以期从人机系统可靠性角度为人机系统的优化设计提供新的依据.     

Design for Consecutive Testability of System-on-a-Chip with Built-In Self Testable Cores

This paper introduces a new concept of testability called consecutive testability and proposes a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. For a consecutively testable SoC, testing can be performed as follows. Test patterns of a core are propagated to the core inputs from test pattern sources (implemented either off-chip or on-chip) consecutively at the speed of system clock. Similarly the test responses are propagated to test response sinks (implemented either off-chip or on-chip) from the core outputs consecutively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutive transparency properties of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to test not only logic faults but also timing faults that require consecutive application of test patterns at the speed of system clock since the consecutively testable SoC can achieve consecutive application of any test sequence at the speed of system clock.