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《现代表面贴装资讯》2006,5(5):96-97
课程背景
前言:工商业界中的竞争发展,在负面上带给许多企业的是越来越薄的利润,更忙碌的工作,不断的客户投诉,以及供应商越来越多的质量和交货问题。在工厂内部,每天的生产问题会议或大量的邮件似乎占有管理人员所有的工作时间,使我们无法静下心来好好的分析整体局势和最有效的解决问题。‘救火’的工作似乎占有了所有的资源。除了抱怨其他部门或人员的效率和工作质量问题外,好像没有什么‘防火’的行动。而在对外工作上,客户好像要求越来越多,甚至挑剔和不合理。供应商一边说自己是世界一流,一边却不断输出‘问题’材料或服务,甚至将问题的源头和责任推到用户身上… 相似文献
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飞行时间二次离子质谱--强有力的表面、界面和薄膜分析手段 总被引:8,自引:0,他引:8
二次离子质谱(Secondary ion mass spectrometry,简称SIMS)是一种对表面灵敏的质谱技术,建立在表面各种类型带正、负电荷原子或分子发射的基础上。用飞行时间(Time of flight,简称TOF)仪器对这些二次离子进行质量分析,能确保并行质量登录、高质量范围、高流通率下的高分辨和精确质量测定这些优异性能。配合细聚焦扫描一次离子束,可在优于1nm的高深度分辨和优于50nm的横向分辨本领下,实现对表面优于单层ppm(百万分之一)量级的极高检测灵敏度。当今TOF-SIMS已发展为一种成熟且完善的表面分析技术。极高的灵敏度,再加上即使对大分子及不易挥发性分子都独具的敏感性,使它成为很多高技术领域不可缺少的分析手段,这些领域包括微电子学、化学和材料科学以至纳米技术和生命科学等。本文简述了TOF-SIMS的原理、仪器及其多方面的应用和展望。 相似文献