全文获取类型
收费全文 | 46377篇 |
免费 | 4266篇 |
国内免费 | 3189篇 |
专业分类
电工技术 | 4221篇 |
技术理论 | 2篇 |
综合类 | 4523篇 |
化学工业 | 5703篇 |
金属工艺 | 2446篇 |
机械仪表 | 4105篇 |
建筑科学 | 2547篇 |
矿业工程 | 1487篇 |
能源动力 | 2046篇 |
轻工业 | 1634篇 |
水利工程 | 4591篇 |
石油天然气 | 2753篇 |
武器工业 | 531篇 |
无线电 | 5696篇 |
一般工业技术 | 3116篇 |
冶金工业 | 1855篇 |
原子能技术 | 1202篇 |
自动化技术 | 5374篇 |
出版年
2024年 | 527篇 |
2023年 | 1587篇 |
2022年 | 1847篇 |
2021年 | 1967篇 |
2020年 | 1537篇 |
2019年 | 1574篇 |
2018年 | 921篇 |
2017年 | 1250篇 |
2016年 | 1469篇 |
2015年 | 1711篇 |
2014年 | 2879篇 |
2013年 | 2272篇 |
2012年 | 2538篇 |
2011年 | 2582篇 |
2010年 | 2312篇 |
2009年 | 2404篇 |
2008年 | 2863篇 |
2007年 | 2404篇 |
2006年 | 2123篇 |
2005年 | 2121篇 |
2004年 | 2015篇 |
2003年 | 1681篇 |
2002年 | 1502篇 |
2001年 | 1324篇 |
2000年 | 1159篇 |
1999年 | 991篇 |
1998年 | 834篇 |
1997年 | 807篇 |
1996年 | 769篇 |
1995年 | 697篇 |
1994年 | 642篇 |
1993年 | 490篇 |
1992年 | 493篇 |
1991年 | 473篇 |
1990年 | 425篇 |
1989年 | 394篇 |
1988年 | 84篇 |
1987年 | 42篇 |
1986年 | 37篇 |
1985年 | 16篇 |
1984年 | 14篇 |
1983年 | 10篇 |
1982年 | 12篇 |
1981年 | 4篇 |
1980年 | 5篇 |
1979年 | 3篇 |
1959年 | 12篇 |
1951年 | 9篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 31 毫秒
241.
242.
水轮机过流部件气蚀情况分析及处理 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了宝珠寺电厂水轮机过流部件的气蚀情况,分析了气蚀产生的原因,采用补焊和喷涂两种方法分别对11F转轮上冠及尾水锥管理衬和14F转轮上冠气蚀区进行了处理,并对这两种情况的处理效果进行了深入地对比分析和评价。 相似文献
243.
244.
宜昌水文站是葛洲坝、三峡水利枢纽的设计依据站。葛洲坝水利枢纽动工修建和运行 ,对该站水位流量关系中低水部分产生了影响。探讨了该河段泄流能力的变化对葛洲坝水利枢纽设计洪水有无影响的问题。用1 967~ 1 999年实测资料对宜昌站以汛期平均水位为参数的水位流量关系曲线簇进行了检验 ,大部分年份最大日平均流量、3、7、1 5、30d洪量的偏差在± 4 %之间 ,说明曲线簇推流具有相当的精度。证明了宜昌河段中低水泄流能力的变化对葛洲坝水利枢纽设计流量和校核流量基本没有影响 相似文献
245.
壁温的精确测量,是两相流动与传热研究中的关键问题之一。本文根据沸腾汽/液两相流动的具体特点,特别是当实验段倾斜各种角度放置时,同一流动截面内的流型不再相对轴线呈概率对称分布的特点,采用数据采集与处理系统,对沿程120对(40×3)热电偶,实施自动采集。实际测量结果表明,本套数据采集与处理系统,具有良好的抗干扰能力;对汽泡破裂而产生的两相流动不稳定性研究,是有效的测量方法。 相似文献
246.
247.
248.
1 工程概况潘家口水库设有十八孔溢流坝,挑流消能。堰面采用WES曲线,堰顶高程210m,反弧段切点高程187.304m,反弧半径21m,挑射角25°~30°,挑流鼻坎高程155~158m,设计最大单孔泄洪量2927.8m~3/s,最大单宽流量198.18m~3/s。 2泄洪过程本工程于1984年底完工,同期投入运行。1986年11月库水位蓄到222.0m,1987~1991年连续高水位运行,下泄洪水和非汛期弃水共约20多亿m~3,仅1991年6月28日至8月3日,连续泄洪水10.4亿~3,其中5号孔运行509小时,共下泄4.36亿m~3,占本年度总泄量的42%;9号孔运行389小 相似文献
249.
250.
除设计和材料外,工艺和操作对厚膜混合集成电路的质量和性能也有较大的影响。分析了厚膜混合集成电路生产过程中一些常见的工艺缺陷,如线条变形、起泡、阻值不稳、元件受损、锡珠等的产生原因,并提出了相应的消除方法。 相似文献