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用改进的图形结构测量金属/薄层半导体的接触电阻率 总被引:3,自引:2,他引:1
提出一种诊断金属/薄层半导体欧姆接触质量的改进测试图形──单点圆环结构模型.本结构不仅样品制备简单,只需做上一个小圆点和一个同心的圆环接触,无需台面绝缘,而且还有多样的灵活性.整个测试都是定域在一个小圆环内,无需考虑边界效应以及邻近其他图形的影响.发展和讨论了此模型的两种演变结构形式,使之更为简捷实用.所得结果与文献的报道一致. 相似文献
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重接触塔作为一种较新型的单元操作设备,在近几年来国内引进的几套LPG装置中被广泛采用,从其运行情况来看,对于装置冷量的合理利用以及装置C3收率的提高,其效果是比较显著的。笔者在充分研究了国内引进的LPG装置中重接触塔技术的基础上,针对丘东LPG装置的特点,设置了 相似文献
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