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为解决当前我国PPP模式面临的以经济效益为主要目的,忽视社会与环境影响的问题,针对PPP项目进行系统、全面的可持续性评价迫在眉睫。基于“三重底线”理论,结合PPP项目特征从经济、社会、环境、合作及项目特征5个维度建立了可持续评价指标体系,包括14个可持续标准指标和45个关键属性指标。引入模糊逻辑思维构建评价模型,通过三重模糊数学计算得出PPP项目整体可持续性指数,采用欧几里得距离法确定PPP项目可持续水平,并识别出阻碍项目可持续水平的因素,并以说明性案例分析验证模型的可行性和合理性。 相似文献
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底部结构作为采场的薄弱环节,在阶段空场嗣后充填采矿中需要重点监测,结合某铁矿底部出矿结构巷道的工程实例,借助FLAC3D数值计算软件,分析了阶段空场嗣后充填全过程底部结构受开采扰动规律。开采扰动对阶段空场嗣后充填采场的底部结构稳定性的影响有时效性和阶段性。由于中间的矿柱起到了有效的隔离作用,相邻矿房的开采对底部结构位移的扰动影响程度较小。矿房回采完毕后,对采空区及时充填可有效控制采场的持续变形,同时为下一步矿柱的回采提供了安全保障。 相似文献
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Elisa García‐Tabars John A. Carlin Tyler J. Grassman Diego Martín Ignacio Rey‐Stolle Steven A. Ringel 《Progress in Photovoltaics: Research and Applications》2016,24(5):634-644
The evolution of Si bulk minority carrier lifetime during the heteroepitaxial growth of III–V on Si multijunction solar cell structures via metal‐organic chemical vapor deposition (MOCVD) has been analyzed. In particular, the impact on Si lifetime resulting from the four distinct phases within the overall MOCVD‐based III–V/Si growth process were studied: (1) the Si homoepitaxial emitter/cap layer; (2) GaP heteroepitaxial nucleation; (3) bulk GaP film growth; and (4) thick GaAsyP1‐y compositionally graded metamorphic buffer growth. During Phase 1 (Si homoepitaxy), an approximately two order of magnitude reduction in the Si minority carrier lifetime was observed, from about 450 to ≤1 µs. However, following the GaP nucleation (Phase 2) and thicker film (Phase 3) growths, the lifetime was found to increase by about an order of magnitude. The thick GaAsyP1‐y graded buffer was then found to provide further recovery back to around the initial starting value. The most likely general mechanism behind the observed lifetime evolution is as follows: lifetime degradation during Si homoepitaxy because of the formation of thermally induced defects within the Si bulk, with subsequent lifetime recovery due to passivation by fast‐diffusing atomic hydrogen coming from precursor pyrolysis, especially the group‐V hydrides (PH3, AsH3), during the III–V growth. These results indicate that the MOCVD growth methodology used to create these target III–V/Si solar cell structures has a substantial and dynamic impact on the minority carrier lifetime within the Si substrate. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
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