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141.
Usb设备控制芯片或者控制器硬件模块开发的完成意味着测试的开始,通过对Usb测试流程的分析,提出了采用Usb多接口复合设备对Usb设备功能进行完全覆盖测试的方案,简化了测试的结构和流程,提高了Usb测试的效率和可实施性。  相似文献   
142.
随着仪器设备不断的精密和复杂化,测试技术变得越来越重要。该文以测量仪器的发展为主线.对仪器测试技术的发展过程作了简要的介绍,对各种测试技术的特点进行了比较。尤其对虚拟仪器技术与IVI技术做了详细的分析。并指出了发展趋势和值得研究的问题。  相似文献   
143.
针对现今各类教育考试中替考等作弊问题,提出将指纹识别技术应用到考试管理上,利用考生的指纹特征值来判别其真实身份,设计出基于指纹采集与校验的考试管理系统体系结构,并解决在研究的过程中所遇到的关键问题,最后对整个系统进行了实验研究,验证了该系统的可行性。  相似文献   
144.
基于玩具安全标准对玩具易燃性的要求,结合PLC控制技术、网络技术和软件技术,对研制的智能燃烧测试仪的工作原理、硬件结构设计、功能特性进行了详细的论述,并重点对软件系统中的主控程序、人机界面、通信程序的设计与实现进行了阐述,指出此测试仪是一台软件与硬件相结合的设备,其软件系统的实现极大地提高了测试仪的自动化水平.  相似文献   
145.
介绍了基于JSP和Delphi的离散数学网上考试系统的设计和实现,该系统分为考试管理系统、网上实时考试系统和网上监控系统3个部分.<离散数学>是计算机专业的专业基础课,也属于数学类课程,因此该系统不仅对计算机专业的教学起到很大作用,对数学类其它课程的考试方式也提供了新的思路.  相似文献   
146.
检验门限协整模型中的线性协整   总被引:1,自引:0,他引:1  
考虑门限协整回归模型中线性的检验问题.在原假设为线性协整的条件下,构造TSupLM(supremumLagrange multiplier)统计量,并给出了极限分布.Monte Carlo实验研究了SupLM检验的有限样本性能,结果表明SupLM检验不受回归误差的序列相关性影响,也不受广义的自回归条件异方差GARCH(generalized autoregressiveconditional heteroskedastic)的影响.应用SupLM检验方法检测美国国库券收益率之间的关系,结果表明不同到期时间的国库券收益率之间存在门限协整关系.  相似文献   
147.
针对联邦滤波器子系统同时存在硬故障和软故障问题,提出一种适用于联邦滤波结构的两级故障检测方法。首先,构造联邦结构残差2χ检验法对系统硬故障进行检测,再用第k-m步未发生故障时的全局最优估计信息构造滑动残差检验函数,对未检测出的软故障进行时间积累,进而检测软故障,同时,联邦滤波信息分配系数根据软故障检测函数进行自适应调节。通过SINS-Galileo-北斗组合导航系统仿真对比分析了基于局部滤波残差2χ检验法和本文提出的故障检测方法,结果表明:该故障检测方法对系统硬故障和软故障具有较高的故障检测灵敏度,能够提高组合导航系统的可靠性。  相似文献   
148.
基于MAF模型的串扰时延故障的测试矢量生成   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
随着深亚微米技术,串扰噪声问题越来越严重。利用MAF模型的基本思想,探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量。对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试。在标准电路ISCAS’85上进行实验验证,结果表明:该算法对于多攻击线的串扰时延故障的测试矢量产生是有效的。  相似文献   
149.
针对确定内建自测试向量发生器设计中常存在着对冗余向量依赖,导致测试应用时间增长,并产生额外的测试功耗等问题,提出一种新的低功耗确定测试向量发生器的综合算法.该向量发生器采用非一致细胞自动机的结构实现,利用基于模拟退火的动态邻域扩展算法寻找优化的细胞自动机的拓扑连接关系.对标准组合电路仿真实验的结果表明,所综合出的向量发生器可有效地产生给定的低功耗确定向量集,并且不影响原有的故障覆盖率和测试时间.  相似文献   
150.
为了解决系统芯片测试中日益增长的测试数据和测试功耗的问题,提出一种不影响芯片正常逻辑功能的扫描链重构算法--Run-Reduced-Reconfiguration(3R).该算法针对扩展频率导向游程(EFDR)编码来重排序扫描链和调整扫描单元极性,重新组织测试数据,减少了游程的数量.从而大人提高了EFDR编码的测试压缩率并降低测试功耗;分析了扫描链调整对布线长度带来的影响后,给出了权衡压缩率和布线长度的解决方案.在ISCAS89基准电路上的实验结果表明,使用3R算法后,测试压缩率提高了52%,测试移位功耗降低了53%.  相似文献   
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