全文获取类型
收费全文 | 161464篇 |
免费 | 16176篇 |
国内免费 | 9963篇 |
专业分类
电工技术 | 13040篇 |
技术理论 | 7篇 |
综合类 | 21135篇 |
化学工业 | 17428篇 |
金属工艺 | 6712篇 |
机械仪表 | 11108篇 |
建筑科学 | 20292篇 |
矿业工程 | 7290篇 |
能源动力 | 5390篇 |
轻工业 | 10676篇 |
水利工程 | 6995篇 |
石油天然气 | 6819篇 |
武器工业 | 2101篇 |
无线电 | 10842篇 |
一般工业技术 | 19805篇 |
冶金工业 | 6327篇 |
原子能技术 | 2504篇 |
自动化技术 | 19132篇 |
出版年
2024年 | 698篇 |
2023年 | 1903篇 |
2022年 | 3686篇 |
2021年 | 4308篇 |
2020年 | 4921篇 |
2019年 | 4213篇 |
2018年 | 4104篇 |
2017年 | 5098篇 |
2016年 | 5701篇 |
2015年 | 6021篇 |
2014年 | 9817篇 |
2013年 | 9371篇 |
2012年 | 12391篇 |
2011年 | 12517篇 |
2010年 | 9730篇 |
2009年 | 9987篇 |
2008年 | 9287篇 |
2007年 | 11466篇 |
2006年 | 10141篇 |
2005年 | 8506篇 |
2004年 | 6983篇 |
2003年 | 5993篇 |
2002年 | 5031篇 |
2001年 | 4131篇 |
2000年 | 3701篇 |
1999年 | 3173篇 |
1998年 | 2541篇 |
1997年 | 2199篇 |
1996年 | 1856篇 |
1995年 | 1660篇 |
1994年 | 1419篇 |
1993年 | 1014篇 |
1992年 | 949篇 |
1991年 | 661篇 |
1990年 | 532篇 |
1989年 | 528篇 |
1988年 | 383篇 |
1987年 | 224篇 |
1986年 | 180篇 |
1985年 | 82篇 |
1984年 | 78篇 |
1983年 | 38篇 |
1982年 | 46篇 |
1981年 | 62篇 |
1980年 | 32篇 |
1979年 | 38篇 |
1978年 | 21篇 |
1977年 | 15篇 |
1975年 | 16篇 |
1959年 | 32篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
131.
132.
133.
134.
P. G. Muzykov Y. I. Khlebnikov S. V. Regula Y. Gao T. S. Sudarshan 《Journal of Electronic Materials》2003,32(6):505-510
To establish fast, nondestructive, and inexpensive methods for resistivity measurements of SiC wafers, different resistivity-measurement
techniques were tested for characterization of semi-insulating SiC wafers, namely, the four-point probe method with removable
graphite contacts, the van der Pauw method with annealed metal and diffused contacts, the current-voltage (I-V) technique,
and the contactless resistivity-measurement method. Comparison of different techniques is presented. The resistivity values
of the semi-insulating SiC wafer measured using different techniques agree fairly well. As a result, application of removable
graphite contacts is proposed for fast and nondestructive resistivity measurement of SiC wafers using the four-point probe
method. High-temperature van der Pauw and room-temperature Hall characterization for the tested semi-insulating SiC wafer
was also obtained and reported in this work. 相似文献
135.
136.
A. Kaveh V. Kalatjari 《International journal for numerical methods in engineering》2003,58(5):771-791
In this article size/topology optimization of trusses is performed using a genetic algorithm (GA), the force method and some concepts of graph theory. One of the main difficulties with optimization with a GA is that the parameters involved are not completely known and the number of operations needed is often quite high. Application of some concepts of the force method, together with theory of graphs, make the generation of a suitable initial population well‐matched with critical paths for the transformation of internal forces feasible. In the process of optimization generated topologically unstable trusses are identified without any matrix manipulation and highly penalized. Identifying a suitable range for the cross‐section of each member for the ground structure in the list of profiles, the length of the substrings representing the cross‐sectional design variables are reduced. Using a contraction algorithm, the length of the strings is further reduced and a GA is performed in a smaller domain of design space. The above process is accompanied by efficient methods for selection, and by using a suitable penalty function in order to reduce the number of numerical operations and to increase the speed of the optimization toward a global optimum. The efficiency of the present method is illustrated using some examples, and compared to those of previous studies. Copyright © 2003 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
137.
对复杂高阶系统进行模型简化,为研究与设计系统提供了方便的条件。对系统模型的降阶是控制系统设计与仿真工作者的一个重要研究课题,对高阶复杂系统的分析、设计、仿真等具有重要的理论意义和工程实用价值。针对目前比较成熟的基于系统矩阵的有序实Schur分解方法,提出了采用时矩输出拟合来改善降阶系统输出响应逼近程度的改进方法,从而使简化模型具有输出误差更小、计算简便等优点,通过给出的实例仿真证实了这一点。 相似文献
138.
139.
140.