SEBS的臭氧处理及增韧PA6的研究

研究了臭氧处理对氢化苯乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物(SEBS)分子结构及其极性的影响,并对臭氧处理SEBS增韧PA6进行了研究。结果表明,通过臭氧处理可在SEBS分子链上引入羰基含氧基团,臭氧处理的SEBS相对分子质量下降,相对分子质量分布变宽,表面能提高,极性增大。与PA6／SEBS体系相比,PA6／臭氧处理SEBS体系的相容性得到明显改善,其冲击强度和断裂伸长率大幅度提高。     

二乙基羟胺-臭氧体系降解邻苯二甲酸二甲酯的机理学研究

本研究采用二乙基羟胺（DEHA）促进臭氧（O3）降解水中邻苯二甲酸二甲酯（DMP）,并建立了强化O3氧化能力的O3/DEHA体系。主要探索了在O3/DEHA体系中pH、DEHA投量、臭氧通量和DMP投量对该体系的影响及体系的氧化机理,并通过气相色谱/质谱（GC/MS）对DMP的降解产物进行了分析。结果表明：DEHA能够有效促进臭氧的分解且在酸性条件下（pH=3）明显提高DMP的降解率,DEHA投量为25μΜ时促进效果最佳;DMP降解速率随臭氧通量的增加而增加,随DMP浓度的增加而减小,通过动力学计算,该反应符合拟一级动力学反应;投加叔丁醇（TBA）能够明显抑制DMP的降解,验证了在酸性条件下,·OH对DMP的降解起主要作用;通过产物分析可推导出O3/DEHA体系中DMP 的降解途径主要从苯环上碳链的断裂开始,中间生成酸类和脂类化合物,最终矿化为水和二氧化碳。     

臭氧活性炭联用工艺处理甲基橙废水试验研究

在印染废水处理中,废液浓度不同,臭氧、活性炭、臭氧—活性炭三种工艺对甲基橙的脱色效果不同。相同臭氧浓度条件下,不同浓度的甲基橙脱色率—时间曲线近似重合;活性炭在吸附饱和的情况下,能够催化空气降解甲基橙;溶液的浓度对臭氧—活性炭脱色效果有一定影响,甲基橙浓度越大,pH越高,脱色速率越大。     

PLC在接触器试验中的应用

本文介绍了对交流接触器按照UL认证标准,采用PLC进行过载耐久试验,提高了试验的可靠性和试验的自动化程度。     

交流接触器动作范围验证试验

本文描述了交流接触器动作特性试验方法，以及在 40℃时吸合电压的模拟试验方法和-5℃时吸合电压的模拟试验方法和-5℃时释放电压的换算方法。     

Atomic force microscopy study of biaxially oriented polypropylene films

Atomic force microscopy (AFM) uses a very sharp pointed mechanical probe to collect real-space morphological information of solid surfaces. AFM was used in this study to image the surface morphology of a biaxially oriented polypropylene film. The polymer film is characterized by a nanometer-scale, fiberlike network structure, which reflects the drawing process used during the fabrication of the film. AFM was used to study polymer-surface treatment to improve wettability by exposing the polymer to ozone with or without ultraviolet (UV) irradiation. Surface-morphology changes observed by AFM are the result of the surface oxidation induced by the treatment. Due to the topographic features of the polymer film, the fiberlike structure has been used to check the performance of the AFM tip. An AFM image is a mixture of the surface morphology and the shape of the AFM tip. Therefore, it is important to check the performance of a tip to ensure that the AFM image collected reflects the true surface features of the sample, rather than contamination on the AFM tip.     

现代微电子行业的新型湿法清洗工艺

随着半导体技术的不断发展,集成电路的线宽在不断减小,对硅抛光片表面质量的要求也越来越高,为使芯片上的器件功能正常．避免硅片制造中的沾污是绝对必要的。传统的RCA清洗方法已不能满足其需求。因此,必须发展新的清洗方法。本文对传统的RCA清洗方法进行了简单的介绍,在此基础上,介绍新发展的HF／O3清洗法,从而对450mm硅片清洗方法的未来发展方向进行了简单论述。     

飞机电源系统中典型功率器件健康状态预测技术研究

为掌握某型战机电源系统中典型功率器件对机载产品运行可靠性的影响程度,针对目前机载维修中功率器件失效导致的故障占比越来越高的现状,基于对接触器实际工作环境的分析,选取能表征接触器性能退化过程的特征参数,搭建了特征参数采集软硬件平台,并为2种型号的接触器分别制定了自动测试方案,实现对特征参数数据的实时采集。在此基础上,开展接触器三维建模和有限元仿真,最后构建了接触器的退化模型,即接触器超程时间和接触器寿命的数学模型,为后续新机中含类似器件的机载产品测试和修理提供了技术支撑。     

基于Pandora 观测的OMI 全球臭氧产品精度验证

臭氧是大气中一种重要的微量气体, 是影响对流层与平流层大气运动的重要成分之一, 臭氧的高精度探测 对于环境和气候具有重要的意义。OMI 传感器是目前具备探测全球臭氧含量的主要遥感传感器之一。利用地基 Pandora 观测网全球范围内44 个臭氧观测站点数据对OMI 卫星数据产品进行了精度验证。结果表明: OMI 臭氧产品 与Pandora 地基测量结果之间具有很好的线性相关性, 相关系数达到0.948, 但精度结果存在区域差异。在南半球地区, 相关系数为0.915; 在北半球低纬度地区, 其相关系数为0.932, 中纬度地区相关系数为0.948, 而在高纬度地区, 相关系 数达到了0.957。此外, 验证精度还与臭氧柱总量存在相关性, 在臭氧柱总量低于220 Du (对应臭氧空洞条件) 时, OMI 卫星产品存在高估现象, 高估约13%; 而在臭氧柱总量高于400 Du 时, OMI 的臭氧产品低于Pandora 地基测量结果, 且 随着臭氧柱总量增加, 低估情况也越严重, 在臭氧柱总量达到500 Du 时, OMI 臭氧产品低估约4%。     

转盘反应器固定米根霉的L-乳酸发酵

研究了米根霉固定化方法 ,考察了在该反应器中培养基及其它操作条件对 L-乳酸发酵的影响。实验结果表明 ,应用吸附法固定米根霉进行 L-乳酸发酵具有发酵速度快 ,L-乳酸得率高等优点