断路器直流操作二次接线的若干问题

阐述断路器直流操作二次接线中信号继电器、保护出口中间继电器、防跳继电器等元件的参数选择条件及计算方法;指出索取与断路器有关参数的重要性。     

提高超小型铝电解电容器生产一次合格率

恰当选择原材料、确保铆接工序质量、重视工作电解液的配比、严控各工序成品率是提高超小型铝电解电容器投入产出一次合格率的关键。以１０Ｖ－４７μＦ（４ｍｍ×７ｍｍ）产品为例，投入产出一次合格率达９４％以上。     

首都机场四机位库地面真空吸水施工工艺

介绍首都机场四机位库３万ｍ２地面采用真空吸水一次抹面施工工艺，加快施工进度，确保工程质量的经验。     

共振点测试方法的研讨

包装件或产品的共振频率、振动传输比、阻尼等因素组成了包装系统的动态特性,它是由包装材料与整体包装系统共同决定的。包装系统的动态特性能够反映出在一定的运输环境（冲击、振动）下,包装对产品的保护能力。因此在进行包装设计时,经常需要测试包装件或产品的共振频率,根据共振点来设计包装系统,避免包装件在实际运输过程中发生共振现象。     

Ge／Pd／n—GaAs低阻欧姆接触的SIMS分析

采用Ｇｅ／Ｐｄ／ＧａＡｓ结构和快速热退火在ｎ－ＧａＡｓ上形成了低阻欧姆接触，利用二次离子质谱技术揭示和讨论了低欧姆接触形成的机理。比较了采用Ｘ＾＋和ＧｓＸ＾＋信号检测的Ｇｅ，Ｐｄ，Ｇａ和Ａｓ的深度分布。结果表明采用ＣｓＸ＾＋可以提供更准确的结果和成分信息。     

二次谐波产生的4.75μm激光

可重复生长的非线性红外晶体ＡｇＧａＳｅ２是Ⅰ－Ⅲ－Ⅵ２簇化合物之一。具有４２ｍ对称的负单轴特性。使用光栅选频要中调谐ＴＥＡ ＣＯ２激光器输出的９Ｐ支线泵浦ＡｇＧａＳｅ２晶体可产生波长４．７５μｍ左右的激光。晶体长度为６．７ｍｍ，在１０．６μｍ处按Ⅰ类相位匹配加工。     

飞行时间二次离子质谱--强有力的表面、界面和薄膜分析手段

二次离子质谱（Secondary ion mass spectrometry，简称SIMS）是一种对表面灵敏的质谱技术，建立在表面各种类型带正、负电荷原子或分子发射的基础上。用飞行时间（Time of flight，简称TOF）仪器对这些二次离子进行质量分析，能确保并行质量登录、高质量范围、高流通率下的高分辨和精确质量测定这些优异性能。配合细聚焦扫描一次离子束，可在优于1nm的高深度分辨和优于50nm的横向分辨本领下，实现对表面优于单层ppm(百万分之一）量级的极高检测灵敏度。当今TOF－SIMS已发展为一种成熟且完善的表面分析技术。极高的灵敏度，再加上即使对大分子及不易挥发性分子都独具的敏感性，使它成为很多高技术领域不可缺少的分析手段，这些领域包括微电子学、化学和材料科学以至纳米技术和生命科学等。本文简述了TOF－SIMS的原理、仪器及其多方面的应用和展望。     

一种新的二次电缆屏蔽层接地方法

提出一种新的二次电缆屏蔽层接地方法，即在开关场的一端经适当电阻接地，位于控制室的另一端直接接地。就不同电磁干扰耦合方式下二次电缆屏蔽层采用新型接地方法和传统接地方法时的抗干扰效果进行了分析比较，并对较为复杂的感性耦合方式进行了着重分析，发现采用新方法可以获得较好的电磁兼容效果，并可有效解决因地电流过大而可能烧毁屏蔽层的问题。