测量杨氏模量的一种新方法

传统的测量杨氏模量的静态拉伸法,操作不方便,误差较大.采用劈尖的等厚干涉法测量金属丝的微小伸长量,能够简化实验过程,并提高实验精度.     

压头面积函数对纳米压入测试结果的影响

从纳米压入测量的基本原理出发介绍了压头面积函数及其校对方法,并对熔融石英进行了两次纳米压入测量,校对了两次压头面积函数,两次测量及校对的时间间隔为1a（年）。结果表明,两次校对后的压头面积函数差别较大。若第二次测量的熔融石英数据仍采用第一次校对的面积函数进行计算,将使杨氏模量和硬度测量结果产生很大误差,阐明了压头面积函数校对在纳米压入测试中的重要作用。     

热处理对Ti2448合金冷轧板组织和性能的影响

研究了热处理对Ti-24Nb-4Zr-8Sn(Ti2448)合金冷轧板材的显微组织和力学性能的影响,结果表明:Ti2448合金的杨氏模量和力学性能对其显微组织很敏感.在550-850℃,随着退火处理温度的升高Ti2448合金板材的晶粒长大,强度和杨氏模量降低而塑性提高;在400-500℃时效处理,合金中析出α相.控制时效时析出α相的形貌、含量和析出位置,可以调节合金强度、杨氏模量和塑性之间的匹配关系;控制热处理温度和时间可以实现高强度、低杨氏模量和良好室温塑性的匹配.     

用光杠杆法测量杨氏模晨实验的快速调节

根据对光杠杆系统的研究，提出了快速的调节方法，使实验简化。     

岩石的非均质性与杨氏模量的确定方法

岩样杨氏模量的数值依赖于确定方法，通常离散性很大。岩层钻孔取芯时岩样会因三轴伸长作用产生分布裂隙，在单轴压缩初期产生闭合、滑移，使应力-应变曲线下凸。因此，从原点计算的割线模量不能反映实际岩体的变形特征。平均模量是应力-应变曲线中近似直线部分的斜率，受试验条件的影响较小，表示了应力与应变的变化关系，但其计算方法不够明确。建议使用最大割线模量，应力差为岩样强度一半的所有割线模量的最大值。此外，从岩层钻孔取得的岩样具有串联特征，应采用其杨氏模量的调和平均值表示岩体的变形特征。该值可以反映岩层局部的软弱结构对整体变形的控制作用。     

汽车涂料

<正>201502039含有疏水纳米二氧化硅的氨基丙烯酸汽车清漆的耐候性能[刊,英]/Yari,H.等//Journal of Coatings Technology and Research.-2014,11(3).-351~360主要研究了含有不同加量纳米二氧化硅的典型氨基丙烯酸清漆的性能。结果表明,添加纳米二氧化硅可使氨基丙烯酸清漆不完全固化,与未添加纳米二氧化硅的的清漆相比,其涂膜交联密度和杨氏模量更     

冷冻粉碎的大豆粉复合填料与丁苯橡胶多相聚合物共混胶的物理机械性能

正已有尝试用生物材料及其衍生物来补强柔性聚合物,通过聚合物乳液与生物填料共混研究了用某些生物填料作为聚合物胶料(如纤维素/橡胶和淀粉/橡胶胶料)的填料。通过这些工作有利于可再生资源的利用,以改善材料的可持续性。本文研究脱脂大豆粉(DSF)对柔性聚合物的补强,DSF为大豆粕去油后的廉价大豆产品。以前是将大豆粉分散在水中与胶乳混合并冻干,来研究     

极化对锆钛酸铅陶瓷力学性能的影响（英文）

本工作所采用的样品为锆钛酸铅陶瓷PZT-5H与PZT-8,用动态力学分析仪(DMA)测试了极化前后PZT-5H与PZT-8在不同力学荷载频率下的杨氏模量和内耗与温度的关系。结果表明:PZT-5H和PZT-8的铁电–顺电相变温度(Tc)分别为438 K和550 K。极化前后PZT-8的杨氏模量都高于PZT-5H,这是由于硬性取代导致PZT-8的内应力大于PZT-5H。极化后,PZT-5H与PZT-8的杨氏模量增大,本文研究了极化前后压电效应对模量变化的影响。测试得出两种样品都存在一个弛豫内耗峰。分析表明,PZT-8的弛豫内耗峰由氧空位的扩散引起,而PZT-5H弛豫内耗峰的形成机制则比较复杂,与畴壁运动及畴壁在运动过程中与点缺陷的相互作用有关。计算得出极化后两种样品的弛豫激活能增加,原因是极化导致局部内应力升高,空间电荷沿极化电场排列,两种因素都会对畴壁及空位的运动产生钉扎效应,从而使弛豫过程更加困难。     

超细氮化硼多孔纤维对WC-ZrO2复合材料力学性能的改善

多孔纤维的研究传统上一般局限于催化和环境化学领域。而本研究将一种超细氮化硼多孔纤维被加入WC-8%ZrO₂(质量分数)复合材料,以期改善其力学性能。结果表明,这种纤维的加入使得材料的杨氏模量、硬度和断裂韧性都得到了改善。然而,加入超细氮化硼多孔纤维样品的杨氏模量的提升并不遵循常用于评价陶瓷基材料杨氏模量的混合法则。个别添加了0.05%超细氮化硼多孔纤维的样品的杨氏模量高达692GPa,已经接近纯WC材料的杨氏模量700GPa。这种现象可以通过基于ZrO₂的超塑性实现的纳米材料的小尺寸效应得到解释。     

MICROBRIDGE TESTING OF YOUNG＇S MODULUS AND RESIDUAL STRESS OF NICKEL FILM ELECTROPLATED ON SILICON WAFER

Microbridge testing is used to measure the Young's modulus and residual stresses of metallic films. Nickel film microbridges with widths of several hundred microns are fabricated by Microelectromechanical Systems. In order to measure the mechanical properties of nickel film microbridges, special shaft structure is designed to solve the problem of getting the load-deflection curves of metal film microbridge by Nanoindenter XP system with normal Berkovich probe. Theoretical analysis of the microbridge load-deflection curve is proposed to evaluate the Young's modulus and residual stress of the films simultaneously. The calculated results based on the experimental measurements show that the average Young's modulus and residual stress are around 190GPa and 175MPa respectively, while the Young's modulus measured by Nano- hardness method on nickel film with silicon substrate is 186.8±7.34GPa.