全文获取类型
收费全文 | 71058篇 |
免费 | 7195篇 |
国内免费 | 4426篇 |
专业分类
电工技术 | 1586篇 |
技术理论 | 2篇 |
综合类 | 4119篇 |
化学工业 | 4834篇 |
金属工艺 | 8309篇 |
机械仪表 | 7887篇 |
建筑科学 | 932篇 |
矿业工程 | 1178篇 |
能源动力 | 593篇 |
轻工业 | 4966篇 |
水利工程 | 383篇 |
石油天然气 | 910篇 |
武器工业 | 1241篇 |
无线电 | 31793篇 |
一般工业技术 | 6928篇 |
冶金工业 | 1986篇 |
原子能技术 | 868篇 |
自动化技术 | 4164篇 |
出版年
2024年 | 785篇 |
2023年 | 2801篇 |
2022年 | 2948篇 |
2021年 | 3357篇 |
2020年 | 2620篇 |
2019年 | 2440篇 |
2018年 | 1360篇 |
2017年 | 1800篇 |
2016年 | 1886篇 |
2015年 | 2241篇 |
2014年 | 3876篇 |
2013年 | 2652篇 |
2012年 | 3607篇 |
2011年 | 3612篇 |
2010年 | 3269篇 |
2009年 | 3619篇 |
2008年 | 4065篇 |
2007年 | 3789篇 |
2006年 | 3465篇 |
2005年 | 2970篇 |
2004年 | 2990篇 |
2003年 | 2289篇 |
2002年 | 2165篇 |
2001年 | 2081篇 |
2000年 | 1639篇 |
1999年 | 1499篇 |
1998年 | 1398篇 |
1997年 | 1379篇 |
1996年 | 1465篇 |
1995年 | 1321篇 |
1994年 | 1275篇 |
1993年 | 1045篇 |
1992年 | 990篇 |
1991年 | 1024篇 |
1990年 | 916篇 |
1989年 | 1030篇 |
1988年 | 170篇 |
1987年 | 136篇 |
1986年 | 92篇 |
1985年 | 75篇 |
1984年 | 68篇 |
1983年 | 86篇 |
1982年 | 78篇 |
1981年 | 236篇 |
1980年 | 42篇 |
1979年 | 12篇 |
1977年 | 2篇 |
1975年 | 12篇 |
1959年 | 2篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 9 毫秒
91.
92.
93.
94.
傅恩生 《激光与光电子学进展》2002,39(2):20-23
为了发展惯性约束聚变能驱动装置所需的技术,在日本电子技术实验室,建立了高重复率电子束抽运的KrF激光放大器,样机放大器的脉冲电源系统巳建成,以1Hz重复率产生-300KV、80ns的脉冲。用脉冲变压器、磁开关和水介质脉冲形成线代替通常的带有球隙开关的Marx发生器,得到高压电短脉冲,这个系统的关键技术这一是强制冷却方法和HIBACHI结构中的阳极箔增加了其寿命。设计采用辐射和传导作为主要冷却过程,并允许箔加温到高温。选择HAVAR和钼分别作承压箔和阳极箔,代替通常的钛箔。箔的最高温度通过数字计算表明本设计是可用的。 相似文献
95.
96.
单片机激光衍射测径系统 总被引:3,自引:0,他引:3
电荷耦合器件 CCD,在影像传感、信号处理和数字存贮等领域中已得到广泛应用,而 CCD 应用到衍射计量技术有其独到的优越性,将提高衍射计量的精度,具有一定的先进性和实用性。激光衍射测径仪为非接触、快速、高精度线径测量系统,可进行静态定点检测和动态实时测量,并可对连续生产的系统自动监测,测量范围20—510μm,精度在小于200μm 时为±0.5μm。200—510μm 时为±0.5%,其中 CCD 信号的接收全部采用 Apple-Ⅱ计算机软件编程。本文介绍的是以 MCS-51系列单片微机取代系统机,为微小尺寸计量提供了一种新的检测手段和方法。 相似文献
97.
《机械工人(热加工)》2007,(7):23-23
激光是一门高新技术,应用领域很广。激光热处理的技术关键有三:高功率的激光器;多自由度的加工设备并与计算机配套;不同应用的激光热处理工艺。经过我国激光科技人员十几年的努力,这三个方面都有了很快的发展,为激光热处理技术的推广创造了条件。近几年来,激光产业以两位数的速度增长, 相似文献
98.
99.
本文介绍一种确定SOI/MOS结构中沿硅薄膜厚度多子漂移分布和杂质分布的简单方法(其掺杂剖面是随机不均匀的)。这种方法基于使用一种耗尽型晶体管与栅控二极管的组合结构。作者列举在激光区熔再结晶多晶硅制的SOI结构和SOS结构上以相同工艺制作器件的对比研究结果。由这些结果可见,在包含有晶粒间界和子晶粒间界的SOI薄膜中,沿膜厚的载流子迁移率是恒定的,而且远远超过SOS膜中的迁移率。 相似文献
100.