引出结构对叠层片式电感器可靠性影响的研究

叠层片式电感器(MLCI)其引出结构在热应力冲击下,可能会形成开路,降低了MLCI的可靠性,进而影响到电子线路的整体功能。针对实际应用过程中一例叠层片式电感器(型号CH1608H22N)的失效,采用X射线检查、金相检查等分析方法对电感器的失效机理进行了分析。结果表明引出电极与内电极结合部位的热致失效导致了开路,进而研究了引出结构对MLCI可靠性的影响,设计出了一种新的圆弧型引出结构,通过实验验证该结构的耐流特性比直角型引出结构的提高了50%,产品可靠性得以改善。     

以太网的环路检测技术

以太网在局域网中取得了巨大的成功,但是在城域网应用领域中仍需要解决网络环路的相关问题。根据不同的以太网应用领域,文章分析了几种环路检测的解决方案,包括生成树协议(STP)、以太网环路保护切换协议(ERPS)、环回检测和成环点定位技术。其中,成环点定位技术新颖实用,非常适合各种以太网局域网和城域网,对于以太网的运行和维护都有很大的意义。目前,全球的标准组织均正在积极对以太网环路检测技术进行标准化,随着标准的不断成熟,以太网的环路检测技术将逐步降低以太网的环路风险,提高以太网的可靠性,便于网络的管理。     

可靠度导引的相位解包裹算法

设计实现了基于可靠度导引的相位解包裹算法。该算法首先在像素可靠度的基础上计算邻接线可靠度,然后根据邻接线可靠度的高低规划解包裹路径。仿真和实测结果表明,该算法可以有效避免误差扩散引起的拉线现象,提高解包裹相位的可靠性。     

电信网网管系统软件测试的必要性研究

从现有的电信网网管系统入手,分析其结构和未来发展趋势,强调了软件是其未来发展核心这一概念;接着阐述了为实现发展目标而引入的新技术给网管系统带来的影响以及消除影响的方法,尤其是软件测试所起到的作用;最后简述了针对网管软件特点的测试方法和测试项目。     

地面情报雷达环境试验应遵循的基本原则

在分析地面情报雷达结构、使用特点和总结大量工程实践经验的基础上,依据可靠性工程、数理统计等理论,提出了地面情报雷达环境试验应遵循的基本原则及其应用范围,同时分析并阐述了环境试验与可靠性试验的关系。     

高k材料用作纳米级MOS晶体管栅介质薄层(上)

随着45 nm和32 nm技术节点的来临,传统的SiO2作为栅介质薄膜材料的厚度需缩小到1 nm之下,材料的绝缘性、可靠性等受到了极大的挑战,已不能满足技术发展的要求.高k材料成为代替SiO2作为栅介质薄层材料的不错选择,但是大多数高k材料是离子金属氧化物,其基本物理和材料特性导致产生很多不可靠因素.从高k材料的基本物理和材料特性角度,回顾了高k材料代替SiO2用作纳米级MOS晶体管栅介质薄层时产生的主要不可靠因素及根本原因.     

数字电视播出系统的可靠性研究综述

数字电视播出系统的可靠性直接反映整个系统的质量优劣，是确保能否进行安全、可靠的电视播出的关键。为了保障电视播出的安全与可靠性，必须对硬盘化播控系统进行双机熬备扮和使用有RAID技术的硬盘播出系统的数据备份设计；同时还介绍了数字电视播出播出系统软件的设计要求和数字电视设备的寿命分析。     

结合单元试验数据的指数型串联系统定时截尾试验可靠性评估方法

武器装备可靠性试验会产生单元试验数据和系统试验数据,在定型阶段目前通常的可靠性评估方法只是统计系统试验时间,并不考虑单元试验时间,单元故障数要么直接统计进最后的故障数据中（严苛但不严谨的方法）,要么舍弃（浪费信息的方法）。为科学利用单元试验数据,基于指数型串联系统可靠性模型,引入定时截尾试验方案下失效率的近似Fiducial概率密度,将单元可靠性试验产生的故障数和试验时间折合到系统可靠性意义下的等效故障数和试验时间。分析结果表明：利用单元试验数据可补充系统试验数据的不足,减少试验消耗,提高可靠性评估精度;定时截尾和定数截尾二者利用单元试验数据的公式是有差异的,在定时截尾下仍然套用定数截尾的单元数据折合公式是值得商榷的。     

复合材料结构用高锁螺栓的动态复合加载失效特性

为研究复合材料结构用高锁螺栓的动态复合加载失效特性,基于高速液压伺服材料实验机设计专用的实验支持装置,提出碰撞式实验加载方法。实现中国商用飞机有限责任公司紧固件工艺标准CFBL1001-6-6/CFNT1003CY6抗剪型高锁螺栓在0.01 m/s、0.10 m/s、1.00 m/s加载速度及纯拉伸、30°拉伸-剪切耦合、45°拉伸-剪切耦合、60°拉伸-剪切耦合、纯剪切状态下的失效测试,并基于实验结果拟合得到高锁螺栓的失效参数。结果表明：提出的测试方法能够有效获取高锁螺栓的动态失效参数;CFBL1001-6-6/CFNT1003CY6高锁螺栓的失效模式和失效载荷受加载方式影响较大,受加载速度影响较小;拟合获得的失效方程可较好地表征高锁螺栓的失效特性。     

基于故障机理与随机线性模型的电子产品寿命预测

为解决传统可靠性评估方法存在的局限性以及普通线性模型在描述产品退化过程中存在的不足,提出一 种基于故障机理与随机线性退化模型的寿命预测方法。对产品的故障模式及机理进行研究,运用随机线性模型对产 品的关键性能特征参数进行建模分析,采用极大似然估计的方法求解模型中的未知参数,并对产品的寿命与可靠性 进行预测。实验结果表明：该方法具有较好的预测精度和一定的小样本处理能力,对电子产品的寿命与可靠性预测 具有一定的参考意义。