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101.
Specification reduction can reduce test time, consequently, test cost. In this paper, a methodology to reduce specifications during specification testing for analog circuit is proposed and demonstrated. It starts with first deriving relationships between specifications and parameter variations of the circuit-under-test (CUT) and then reduces specifications by considering bounds of parameter variations. A statistical approach by taking into account of circuit fabrication process fluctuation is also employed and the result shows that the specification reduction depends on the testing confidence. A continuous-time state-variable benchmark filter circuit is applied with this methodology to demonstrate the effectiveness of the approach. 相似文献
102.
Generation of Technology-Independent Retargetable Analog Blocks 总被引:1,自引:0,他引:1
R. Castro-López F. V. Fernández F. Medeiro A. Rodríguez-Vázquez 《Analog Integrated Circuits and Signal Processing》2002,33(2):157-170
This paper introduces a complete methodology for retargeting of analog cells to different sets of specifications. This methodology is technology-independent, thus allowing the migration, from one technology to another, of the circuit under retargeting. Careful integration of the device sizing and layout generation tasks via the incorporation of layout constraints during the sizing process allows to generate fully functional designs in a few minutes. The methodology is illustrated via the retargeting of a fully-differential Miller-compensated two-stage operational amplifier for a new set of specifications and two different technological processes.An erratum to this article can be found at 相似文献
103.
Giuseppe Ferri 《Analog Integrated Circuits and Signal Processing》2002,33(3):249-262
In this paper the author will present the working principle and the applications of a novel adaptive biasing topology, designed to decrease the stand-by power dissipation without affecting the transient performance of low-power amplifiers. The proposed circuit, whose principle and circuit topology can be implemented both in CMOS and in bipolar standard technologies, gives a biasing current whose value depends on the applied input differential voltage and can be set according to the requested transient performance constraints. The adaptive architecture can be utilized in the design of high-efficient low-power operational amplifiers, for the biasing of both the input stage (where the input source current is dynamically increased) and the output stage (where the output current can be controlled and limited). These amplifiers show a very good behaviour, evaluated in terms of two efficiency factors, if compared with those of other adaptive solutions and class-AB topologies, proposed in the literature. Simulation results and also measurements on a chip prototype, fabricated in a standard CMOS technology, are finally presented. 相似文献
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107.
采用快速方法(FMM, RPFMM, FaFFA)加速迭代物理光学法(IPO)的迭代过程,可以快速计算电大腔体的电磁散射特性。采用广义互易积分,用靠近腔体终端的一个St面将腔体分成两段,形状简单光滑的腔体前端用IPO结合快速算法处理,而腔体终端单独分析。为了能够处理深腔体和进一步加快计算速度,将腔体前端进一步分成几个子腔体,每一个子腔体独立分析,通过一个级联方法求得腔体前端在St面产生的辐射场,最终在St面用广义互易积分求得腔体的RCS。数值计算结果表明该方法是准确的,同时能有效地提高计算速度。 相似文献
108.
文章介绍了一种低温漂的BiCMOS带隙基准电压源.基于特许半导体(Chartered)0.35 μm BiCMOS工艺,采用Brokaw带隙基准电压源结构,通过一级温度补偿技术,设计得到了一种在-40℃到 85℃的温度变化范围内温度系数为15.2×10-6/℃,输出电压为2.5 V±0.002 V的带隙基准电压源电路.±20%的电源电压变化情况下,输出电压变化为2.2 mV,电源电压抑制比为60 dB.5 V电源电压下功耗为1.19 mW.具有良好的电源抑制能力. 相似文献
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